X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by bombarding with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science and archaeology.

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  • X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by bombarding with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science and archaeology. (en)
  • La spettrofotometria XRF è una tecnica analitica basata sull'emissione di luce di fluorescenza da un campione esposto ai raggi X (la sigla è l'acronimo dell'espressione inglese X-Ray Fluroescence) Quando una sorgente di eccitazione di raggi X primari proveniente da un tubo X o da un radioisotopo colpisce un bersaglio campione, i raggi X possono essere o assorbiti dall'atomo o diffusi attraverso la materia. Il processo nel quale un raggio X è assorbito dall'atomo con trasferimento di tutta la sua energia ad un elettrone dello strato più interno è detto effetto fotoelettrico. Durante questo processo, se la radiazione X ha sufficiente energia, gli elettroni sono strappati dagli strati più interni, creando delle lacune. Queste lacune rappresentano una condizione instabile per l'atomo. Affinché l'atomo ritorni stabile, è necessario che gli elettroni degli strati più esterni saltino su quelli più interni in modo da colmare la lacuna creatasi per effetto della radiazione X. Nel processo di riarrangiamento degli elettroni viene emessa una radiazione X caratteristica la cui energia è la differenza tra le due energie di legame dei rispettivi strati. La radiazione X emessa prodotta da tale processo è detta Radiazione di fluorescenza X o XRF. La rivelazione e l'analisi della radiazione X emessa consentono di determinare la presenza e la concentrazione di diversi elementi in un campione. Nella maggior parte dei casi le transizioni elettroniche riguardano gli strati K e L. Uno spettro X tipico di un campione irradiato mostrerà diversi picchi di diverse intensità. Le frequenze dei raggi X caratteristici di ciascun elemento sono indicati come K, N in funzione degli strati dai quali sono generati. Dallo studio dell'ombra del corpo radio-opaco proiettata su di una superficie piana, ad esempio una lastra radiografica, si possono ricavare numerose informazioni circa la struttura interna del corpo altrimenti inaccessibile. Nel contesto delle applicazioni industriali delle tecniche radiografiche per controlli non distruttivi le immagini vengono acquisite in forma digitale mediante telecamere di tipo particolare. Le immagini radiografiche acquisite mediante telecamera vengono rappresentate all'interno della memoria del computer sotto forma di matrici numeriche; ciascuno dei sensori della telecamera effettua un conteggio del numero di fotoni incidenti su di esso nell'unità di tempo e restituisce poi il risultato sotto forma di livello di grigio del pixel corrispondente. L'immagine acquisita, una volta trasferita e salvata in forma di matrice numerica rappresentata in livelli di grigio, può essere elaborata al fine di estrarre il suo contenuto informativo. Gli algoritmi utilizzati per l'analisi dell'immagine sono estremamente vari e cambiano in funzione del tipo di immagine e delle informazioni cui si è interessati. Il metodo XRF è usato per misurare la composizione elementare di materiali grazie alla rapidità della misura e alla possibilità di mantenere integro il campione. (it)
  • X射線螢光光谱儀(X-ray Fluorescence Spectrometer, 簡稱：XRF)，是一種快速的、非接觸式的物質測量方法。 XRF 用 X 光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素之內層電子被擊出後，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出特徵 X 光;不同的元素會放射出各自的特徵 X 光，具有不同的能量或波長特性。探測系統接受這些 X 光，儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管(EU RoHS)和考古學等領域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。 X射線螢光的物理原理 當材料暴露在短波長 X 光檢查，或伽瑪射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露於輻射與能源大於它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多餘的能源，光子能量是相等兩個軌道的的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。 X射線螢光光譜法在化學分析 主要使用 X 射線束激發螢光輻射，第一次是在 1928 年由格洛克爾和施雷伯提出的。今天，該方法是用來作為非破壞性分析技術，並作為過程控制的工具，在許多採掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（ z = 4 ），但由於儀器的局限性和輕元素為低 X 射線產量，它往往是難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光谱儀可以分析從輕元素的鈉（ z = 11 ）到鈾，而波長分散式則為從從輕元素的硼到鈾。 (zh)
  • Die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), auch Röntgenfluoreszenzspektroskopie genannt ist eine Methode aus der Materialanalytik. Sie ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der elementaren Zusammensetzung einer Probe, da die Proben durch die Messung nicht zerstört werden und keine Aufschlüsse benötigt werden. Besonders breite Anwendung findet sie in der metallverarbeitenden Industrie, bei der Untersuchung von Glas, Keramik und Baustoffen sowie bei der Analyse von Schmierstoffen und Mineralölprodukten. Die Nachweisgrenze liegt etwa bei einem Mikrogramm pro Gramm . Sie geht auf Versuche von Richard Glocker und Hans-Wilhelm Schreiber aus den Jahren 1929 zurück. (de)
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  • X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by bombarding with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science and archaeology. (en)
  • La spettrofotometria XRF è una tecnica analitica basata sull'emissione di luce di fluorescenza da un campione esposto ai raggi X (la sigla è l'acronimo dell'espressione inglese X-Ray Fluroescence) Quando una sorgente di eccitazione di raggi X primari proveniente da un tubo X o da un radioisotopo colpisce un bersaglio campione, i raggi X possono essere o assorbiti dall'atomo o diffusi attraverso la materia. (it)
  • X射線螢光光谱儀(X-ray Fluorescence Spectrometer, 簡稱：XRF)，是一種快速的、非接觸式的物質測量方法。 XRF 用 X 光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元� 之內層電子被擊出後，� 成� �外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出特徵 X 光;不同的元� 會放射出各自的特徵 X 光，具有不同的能量或波長特性。探測系統接受這些 X 光，儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元� 分析和化學分析，特別是在� �究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學� �究、法醫學、電子產品進料品管(EU RoHS)和考古學等� �域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工� 附設的品管實驗室之分析人力投入。 X射線螢光的物理原理 當材料暴露在短波長 X 光檢查，或伽瑪射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露於輻射與能源大於它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多餘的能源，光子能量是相等兩個軌道的的能量差異的。� 此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。 X射線螢光光譜法在化學分析 主要使用 X 射線束激發螢光輻射，第一次是在 1928 年由� �洛克爾和施雷伯提出的。今天，該方法是用來作為非� �壞性分析技術，並作為過程控制的工具，在許多採掘和� 工工業。原則上，最輕的元� ，可分析出鈹（ z = 4 ），但由於儀器的局限性和輕元� 為低 X 射線產量，它往往是難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光谱儀可以分析從輕元� 的鈉（ z = 11 ）到鈾，而波長分散式則為從從輕元� 的硼到鈾。 (zh)
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  • X-ray fluorescence (en)
  • Spectrométrie de fluorescence X (fr)
  • 蛍光X線 (ja)
  • Röntgenfluorescentiespectrometrie (nl)
  • Spettrofotometria XRF (it)
  • X射线荧光光谱仪 (zh)
  • Röntgenfluoreszenzanalyse (de)
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