| dbo:abstract
|
- Rentgenová fluorescence (zkratka XRF z anglického X-ray fluorescence) je spektroskopická metoda analytické chemie patřící mezi metody elektromagnetické spektroskopie. Využívá se například ve forenzní chemii díky nedestruktivitě a podrobné analýze širokého spektra materiálu, používána díky prostupnosti rentgenového paprsku i neprůhledným materiálem, založena na stimulaci vnitřních elektronů atomu. Emise fluorescenčního záření (cs)
- فلورية الأشعة السينية (يرمز لها XRF من X-ray fluorescence) هي إصدار تلقائي ومميّز للأشعة السينية الثانوية (أو الفلورية) من المادة، وذلك عند تعريضها لمصدر مرتفع الطاقة يؤدي إلى التهييج أو الإثارة، مثل أشعة سينية مرتفعة الطاقة، أو أشعة غاما. تستخدم هذه التقنية التحليلية من أجل تحليل العناصر بشكل خاص أو في المجالات المختلفة في التحليل الكيميائي مثل تحليل الفلزات ومواد البناء، أو في مجالات الجيوكيمياء وعلم الأدلة الجنائية وعلم الآثار. (ar)
- Röntgenfluoreszenz (XRF) ist die Emission von charakteristischen sekundären (oder fluoreszierenden) Röntgenstrahlen von einem Material, das mit hochenergetischer Strahlung angeregt wurde. Das Phänomen wird in der Röntgenfluoreszenzanalyse für die Bestimmung der elementaren Zusammensetzung von Metallen, Gläsern, Keramiken und anderer Materialien genutzt. (de)
- La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisión de rayos X secundarios (o fluorescentes) característicos de un material que ha sido excitado al ser «bombardeado» con rayos X de alta energía o rayos gamma. Este fenómeno es muy utilizado para análisis elemental y análisis químico, particularmente en la investigación de metales, vidrios, cerámicos y materiales de construcción, así como en la de geoquímica, ciencia forense y arqueología. (es)
- Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah fluoresensi (emisi karakteristik sekunder) sinar-X dari bahan yang tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni seperti lukisan dan mural. Bombardir dengan sinar-X berenergi tinggi dan sinar gamma mengeksitasi elektron-elektron dari unsur yang diselidiki. Ketika elektron-elektron ini kembali ke keadaan dasar, sinar X-ray akan dipancarkan dengan energi tertentu. Besar energi ini berbeda-beda tergantung unsur, sehingga dengan mendeteksi pancaran sinar X ini, peneliti dapat mengetahui unsur dalam suatu bahan. (in)
- La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments. L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : 1.
* par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry) ; 2.
* par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry). (fr)
- La fluorescenza di raggi X (in inglese X-ray fluorescence) è un fenomeno di fluorescenza nella regione dello spettro elettromagnetico dei raggi X. Una transizione elettronica provoca l'emissione di raggi X con una specifica frequenza e, di conseguenza, energia uguale alla differenza tra i valori energetici del livello iniziale e finale: . Nella formula è la frequenza emessa; indica il valore energetico del livello iniziale (da cui l'elettrone si allontana per colmare la lacuna sottostante); indica il valore energetico del livello finale, d'arrivo; è la costante di Planck. In virtù della quantizzazione dei livelli energetici nell'atomo, ogni valore di frequenza emessa corrisponde ad un particolare elemento, le radiazioni emesse sono, per tanto, definite come caratteristiche. Tale principio permette di identificare gli elementi attraverso indagini spettroscopiche. I diversi picchi ottenuti in uno spettro di fluorescenza sono identificati da un indice che impiega le lettere K, L, M, N che indicano ciascuna il livello in cui si è creata la lacuna: per n=1 la lettera corrispettiva è la K, per n=2 la L e così via. Queste sono seguite da lettere greche minuscole (α, β,…) che indicano il livello di partenza dell'elettrone interessato nella transizione. La lettera α indica più propriamente che l'elettrone deriva dal livello immediatamente superiore rispetto a quello in cui si è creata la lacuna; β suggerisce che l'elettrone proviene da due livelli superiori. Un picco denominato Kα corrisponde alla radiazione emessa da un elettrone che ha eseguito una transizione per colmare una lacuna in K (n=1) e tale elettrone deriva dal livello immediatamente superiore al K. Se fosse stato Kβ l'elettrone sarebbe derivato da due livelli superiori al K, cioè dal livello 3. Generalmente i picchi più intensi sono di tipo α. (it)
- X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by being bombarded with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science, archaeology and art objects such as paintings. (en)
- Röntgenfluorescentie (XRF) is een proces van fluorescentie waarbij een materiaal bij bestraling met röntgenstraling ook weer röntgenstraling uitzendt. Het uitgezonden foton heeft een langere golflengte. Het verschil in golflengte vertegenwoordigt een verschil in energie dat in de regel als warmte verloren gaat. De uitgezonden golflengte is karakteristiek voor het element van het atoom dat verantwoordelijk is voor het proces. Dit betekent dat het effect als methode gebruikt kan worden voor het bepalen van de elementaire samenstelling van het beschoten materiaal. Deze analytische methode heet röntgenfluorescentiespectrometrie. Meestal wordt een röntgenbuis gebruikt als bron van de oorspronkelijke straling, maar het wordt steeds populairder daarvoor synchrotronstraling te gebruiken. Het is ook mogelijk de excitatie stap door beschieting met een bundel energieke elektronen uit te voeren. Dit is in de strikte zin van het woord geen fluorescentie maar de ontstane straling geeft wel vergelijkbare informatie. Het effect kan echter ook een lastig bijverschijnsel zijn. Bijvoorbeeld bij poederdiffractie is men geïnteresseerd in de strooiing van fotonen die geen energie verloren hebben omdat de strooiing elastisch is. Fluorescentie kan in zo'n geval de meting nadelig beïnvloeden doordat het de detector overstroomt met fotonen. Vooral als er een element in het onderzochte materiaal aanwezig is dat slechts een paar plaatsen lager in het periodiek systeem staat dan het gebruikte anode materiaal van de stralingsbron kan dit een probleem zijn. Bij het gebruik van koper Kα-straling zijn dat elementen nikkel, kobalt en ijzer. (nl)
- 蛍光X線（けいこうXせん、X-ray Fluorescence、XRF）とは、元素に特有の一定以上のエネルギーをもつX線を照射することによって、その物質を構成する原子の内殻の電子が励起されて生じた空孔に、外殻の電子が遷移する際に放出される特性X線のこと。その波長は内殻と外殻のエネルギー差に対応する。 (ja)
- A fluorescência de raios X por dispersão de energia é uma técnica analítica multi-elementar não destrutiva capaz de identificar elementos com número atômico Z maior ou igual a 12, através dos raios X característicos Kα, Kβ ou Lα, Lβ dos elementos que estão presentes em uma amostra particular. Neste método, o material a ser analisado é atingido com um feixe de Raios X que interage com os átomos da amostra provocando a ionização das camadas mais internas dos átomos. O preenchimento das vacâncias resultantes, por elétrons mais periféricos, induz a emissão de raios X característicos dos elementos constituintes da amostra, semelhantemente ao que ocorre com o processo PIXE. A diferença entre os dois métodos está na fonte de excitação dos elementos da amostra, sendo utilizado um feixe de íons para a técnica PIXE e um tubo de Raios X ou fontes radioativas, emissoras de Raios X ou Gama, para a produção do feixe na técnica . O método também é capaz de fornecer indicações das concentrações. (pt)
- Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) — один из современных спектроскопических методов исследования вещества с целью получения его элементного состава, то есть его элементного анализа. С помощью него могут быть найдены различные элементы от бериллия (Be) до урана (U). Метод РФА основан на сборе и последующем анализе спектра, возникающего при облучении исследуемого материала рентгеновским излучением. При взаимодействии с высокоэнергетичными фотонами атомы вещества переходят в возбуждённое состояние, что проявляется в виде перехода электронов с нижних орбиталей на более высокие энергетические уровни вплоть до ионизации атома. В возбуждённом состоянии атом пребывает крайне малое время, порядка одной микросекунды, после чего возвращается в спокойное положение (основное состояние). При этом электроны с внешних оболочек заполняют образовавшиеся вакантные места, а излишек энергии либо испускается в виде фотона, либо энергия передается другому электрону из внешних оболочек (оже-электрон)[уточнить]. При этом каждый атом испускает фотон с энергией строго определённого значения, например железо при облучении рентгеновскими лучами испускает фотоны Кα = 6,4 кэВ. Далее соответственно по энергии и количеству квантов судят о строении вещества. В качестве источника излучения могут использоваться как рентгеновские трубки, так и изотопы каких-либо элементов. Поскольку каждая страна имеет свои требования к ввозу и вывозу излучающих изотопов, в производстве рентгенофлуоресцентной техники в последнее время стараются использовать, как правило, рентгеновскую трубку. Трубки могут быть как с родиевым, так и с медным, молибденовым, серебряным или другим анодом. Анод трубки, в некоторых случаях, выбирается в зависимости от типа задачи (элементов, требующих анализа), для решения которой будет использоваться данный прибор. Для разных групп элементов используются различные значения силы тока и напряжения на трубке. Для исследования лёгких элементов вполне достаточно установить напряжение 10 кВ, для средних 20-30 кВ, для тяжелых — 40-50 кВ. Кроме того, при исследовании лёгких элементов большое влияние на спектр оказывает атмосфера, поэтому камеру с образцом либо вакуумируют либо заполняют гелием. После возбуждения спектр регистрируется на специальном детекторе. Чем лучше спектральное разрешение детектора, тем точнее он сможет отделять друг от друга фотоны от разных элементов, что в свою очередь скажется и на точности самого прибора. В настоящее время[когда?] наилучшей возможной разрешающей способностью детектора является 123 эВ. После попадания на детектор фотон преобразовывается в импульс напряжения, который в свою очередь подсчитывается счётной электроникой и наконец передается на компьютер. Ниже приведён пример спектра, полученный при анализе корундовой ступки (содержание Al2O3 более 98 %, концентрации Ca, Ti порядка 0,05 %). По пикам полученного спектра можно качественно определить, какие элементы присутствуют в образце. Для получения точного количественного содержания необходимо обработать полученный спектр с помощью специальной программы калибровки (количественной градуировки прибора). Калибровочная программа должна быть предварительно создана с использованием стандартных образцов, чей элементный состав точно известен. Упрощённо, при количественном анализе спектр неизвестного вещества сравнивается со спектрами, полученными при облучении стандартных образцов, таким образом получается информация о количественном составе вещества. Рентгенофлуоресцентный метод широко используется в промышленности, научных лабораториях. Благодаря простоте, возможности экспресс-анализа, точности, отсутствию сложной пробоподготовки, сферы его применения продолжают расширяться. (ru)
- X射線荧光光谱儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光谱儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线撞擊材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。 (zh)
- Рентгенофлуоресцентний аналіз (англ. X-ray fluorescence spectroscopy, XRF) — метод спектрального аналізу спектрів флюоресценції елементів випромінених при адсорбції високоенергетичного випромінювання.Один із сучасних спектроскопічних методів дослідження речовини з метою отримання його елементного складу, тобто його елементного аналізу. (uk)
|
| rdfs:comment
|
- Rentgenová fluorescence (zkratka XRF z anglického X-ray fluorescence) je spektroskopická metoda analytické chemie patřící mezi metody elektromagnetické spektroskopie. Využívá se například ve forenzní chemii díky nedestruktivitě a podrobné analýze širokého spektra materiálu, používána díky prostupnosti rentgenového paprsku i neprůhledným materiálem, založena na stimulaci vnitřních elektronů atomu. Emise fluorescenčního záření (cs)
- فلورية الأشعة السينية (يرمز لها XRF من X-ray fluorescence) هي إصدار تلقائي ومميّز للأشعة السينية الثانوية (أو الفلورية) من المادة، وذلك عند تعريضها لمصدر مرتفع الطاقة يؤدي إلى التهييج أو الإثارة، مثل أشعة سينية مرتفعة الطاقة، أو أشعة غاما. تستخدم هذه التقنية التحليلية من أجل تحليل العناصر بشكل خاص أو في المجالات المختلفة في التحليل الكيميائي مثل تحليل الفلزات ومواد البناء، أو في مجالات الجيوكيمياء وعلم الأدلة الجنائية وعلم الآثار. (ar)
- Röntgenfluoreszenz (XRF) ist die Emission von charakteristischen sekundären (oder fluoreszierenden) Röntgenstrahlen von einem Material, das mit hochenergetischer Strahlung angeregt wurde. Das Phänomen wird in der Röntgenfluoreszenzanalyse für die Bestimmung der elementaren Zusammensetzung von Metallen, Gläsern, Keramiken und anderer Materialien genutzt. (de)
- La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisión de rayos X secundarios (o fluorescentes) característicos de un material que ha sido excitado al ser «bombardeado» con rayos X de alta energía o rayos gamma. Este fenómeno es muy utilizado para análisis elemental y análisis químico, particularmente en la investigación de metales, vidrios, cerámicos y materiales de construcción, así como en la de geoquímica, ciencia forense y arqueología. (es)
- X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by being bombarded with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science, archaeology and art objects such as paintings. (en)
- 蛍光X線（けいこうXせん、X-ray Fluorescence、XRF）とは、元素に特有の一定以上のエネルギーをもつX線を照射することによって、その物質を構成する原子の内殻の電子が励起されて生じた空孔に、外殻の電子が遷移する際に放出される特性X線のこと。その波長は内殻と外殻のエネルギー差に対応する。 (ja)
- X射線荧光光谱儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光谱儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线撞擊材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。 (zh)
- Рентгенофлуоресцентний аналіз (англ. X-ray fluorescence spectroscopy, XRF) — метод спектрального аналізу спектрів флюоресценції елементів випромінених при адсорбції високоенергетичного випромінювання.Один із сучасних спектроскопічних методів дослідження речовини з метою отримання його елементного складу, тобто його елементного аналізу. (uk)
- Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah fluoresensi (emisi karakteristik sekunder) sinar-X dari bahan yang tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni seperti lukisan dan mural. (in)
- La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : (fr)
- La fluorescenza di raggi X (in inglese X-ray fluorescence) è un fenomeno di fluorescenza nella regione dello spettro elettromagnetico dei raggi X. Una transizione elettronica provoca l'emissione di raggi X con una specifica frequenza e, di conseguenza, energia uguale alla differenza tra i valori energetici del livello iniziale e finale: . Nella formula è la frequenza emessa; indica il valore energetico del livello iniziale (da cui l'elettrone si allontana per colmare la lacuna sottostante); indica il valore energetico del livello finale, d'arrivo; è la costante di Planck. (it)
- Röntgenfluorescentie (XRF) is een proces van fluorescentie waarbij een materiaal bij bestraling met röntgenstraling ook weer röntgenstraling uitzendt. Het uitgezonden foton heeft een langere golflengte. Het verschil in golflengte vertegenwoordigt een verschil in energie dat in de regel als warmte verloren gaat. De uitgezonden golflengte is karakteristiek voor het element van het atoom dat verantwoordelijk is voor het proces. Dit betekent dat het effect als methode gebruikt kan worden voor het bepalen van de elementaire samenstelling van het beschoten materiaal. Deze analytische methode heet röntgenfluorescentiespectrometrie. (nl)
- A fluorescência de raios X por dispersão de energia é uma técnica analítica multi-elementar não destrutiva capaz de identificar elementos com número atômico Z maior ou igual a 12, através dos raios X característicos Kα, Kβ ou Lα, Lβ dos elementos que estão presentes em uma amostra particular. Neste método, o material a ser analisado é atingido com um feixe de Raios X que interage com os átomos da amostra provocando a ionização das camadas mais internas dos átomos. O preenchimento das vacâncias resultantes, por elétrons mais periféricos, induz a emissão de raios X característicos dos elementos constituintes da amostra, semelhantemente ao que ocorre com o processo PIXE. A diferença entre os dois métodos está na fonte de excitação dos elementos da amostra, sendo utilizado um feixe de íons par (pt)
- Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) — один из современных спектроскопических методов исследования вещества с целью получения его элементного состава, то есть его элементного анализа. С помощью него могут быть найдены различные элементы от бериллия (Be) до урана (U). Метод РФА основан на сборе и последующем анализе спектра, возникающего при облучении исследуемого материала рентгеновским излучением. При взаимодействии с высокоэнергетичными фотонами атомы вещества переходят в возбуждённое состояние, что проявляется в виде перехода электронов с нижних орбиталей на более высокие энергетические уровни вплоть до ионизации атома. В возбуждённом состоянии атом пребывает крайне малое время, порядка одной микросекунды, после чего возвращается в спокойное положение (основное состояние). При этом элект (ru)
|
.jpg){kind=link}
.jpg){kind=link}
