| dbo:description
|
- tecnica di spettroscopia fotoelettronica (it)
- xps (ar)
- روشی که در آن نمونه درمعرض تابش پرتوهای ایکس قرار میگیرد و انرژیهای فوتوالکترونهای گسیلشده از سطح نمونه تعیین میشود (fa)
- površinsko občutljiva kvantitativna spektroskopska tehnika, ki meri elementno sestavo v razponu delov na tisoč, empirično formulo, kemično stanje in elektronsko stanje elementov v materialu. (sl)
- kvantitativní spektroskopická metoda založená na fotoelektrickém jevu, která umožňuje určit, které chemické prvky jsou přítomny ve vzorku nebo na jeho povrchu, jejich chemické stavy, celkovou elektronovou strukturu, a hustotu elektronových stavů (cs)
- a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique that measures the elemental composition at the parts per thousand range, empirical formula, chemical state and electronic state of the elements that exist within a material. (en)
|