| dbo:abstract
|
- En ciència de materials, la caracterització fa referència al procés mitjançant el qual s’estudia i es mesuren l'estructura i les propietats d’un material. És un procés fonamental en el camp de la ciència dels materials, sense el qual no es podria conèixer els materials en l'àmbit científic. L’abast del terme sovint difereix; algunes definicions limiten l'ús del terme a tècniques que estudien l'estructura microscòpica i les propietats dels materials, mentre que d'altres utilitzen el terme per referir-se a qualsevol procés d'anàlisi de materials, incloses tècniques macroscòpiques com proves mecàniques, anàlisis tèrmics i càlculs de densitat. L'escala de les estructures observades en la caracterització va des dels angstroms, com per exemple en la imatge d’àtoms individuals i enllaços químics, fins a centímetres, com en la imatge d’estructures de gra en metalls. Tot i que s’han practicat moltes tècniques de caracterització durant segles, com ara la microscòpia òptica, sorgeixen constantment noves tècniques i metodologies. En particular, l’aparició del microscopi electrònic i l'espectrometria de masses d’ions secundaris al segle XX ha revolucionat el camp, permetent la imatge i l’anàlisi d’estructures i composicions a escales molt més petites del que abans era possible, el que va conduir a un enorme augment del nivell de comprensió dels materials, així com els seus diferents comportamnets i propietats. Més recentment, la microscòpia de forces atòmiques ha augmentat encara més la resolució màxima possible per a l'anàlisi de certes mostres en els darrers 30 anys. (ca)
- Characterization, when used in materials science, refers to the broad and general process by which a material's structure and properties are probed and measured. It is a fundamental process in the field of materials science, without which no scientific understanding of engineering materials could be ascertained. The scope of the term often differs; some definitions limit the term's use to techniques which study the microscopic structure and properties of materials, while others use the term to refer to any materials analysis process including macroscopic techniques such as mechanical testing, thermal analysis and density calculation. The scale of the structures observed in materials characterization ranges from angstroms, such as in the imaging of individual atoms and chemical bonds, up to centimeters, such as in the imaging of coarse grain structures in metals. While many characterization techniques have been practiced for centuries, such as basic optical microscopy, new techniques and methodologies are constantly emerging. In particular the advent of the electron microscope and secondary ion mass spectrometry in the 20th century has revolutionized the field, allowing the imaging and analysis of structures and compositions on much smaller scales than was previously possible, leading to a huge increase in the level of understanding as to why different materials show different properties and behaviors. More recently, atomic force microscopy has further increased the maximum possible resolution for analysis of certain samples in the last 30 years. (en)
- La caractérisation d'un matériau consiste à en analyser les propriétés. Elle s'effectue par des essais pouvant être normalisés, qui sont de plusieurs classes : mécaniques, physiques, chimiques et physico-chimiques. Ceux-ci mettent en œuvre des principes physiques de mécanique, thermodynamique, interactions rayonnement-matière, etc. (fr)
- La caracterización de materiales, cuando se habla de ciencia de materiales, hace referencia al proceso general y amplio por el cual la estructura de un material y sus propiedades son probadas y medidas. Es un proceso fundamental en el campo de la ciencia de materiales, sin el cual no se podría determinar un entendimiento científico de la ingeniería de materiales. El alcance del término es a veces distinto; algunas definiciones limitan el uso del término a las técnicas que estudian la estructura microscópica y las propiedades de los materiales, mientras que otras usan el término para referirse a cualquier proceso de análisis de materiales, incluyendo técnicas macroscópicas tales como pruebas de materiales, análisis térmico y cálculo de densidad. La escala de las estructuras observadas en la caracterización de materiales va desde los ángstroms, como en la imagen de átomos individuales y enlaces químicos, hasta centímetros, como en la imagen de estructuras de grano grueso en los metales. Aunque muchas técnicas de caracterización se han practicado por siglos, tales como la microscopía óptica básica, constantemente emergen nuevas técnicas y metodologías. En particular la invención del microscopio electrónico y la Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) en el siglo XX han revolucionado el campo, ayudándole a la imagen y análisis de estructuras y composiciones a escalas mucho más pequeñas de lo que antes era posible, llevando a un incremento importante en el nivel de comprensión en porqué distintos materiales muestran distintas propiedades y comportamientos. Más recientemente, el microscopio de fuerza atómica ha incrementado aún más la resolución máxima posible para el análisis de ciertas muestras en los últimos 30 años. Existen para ello distintas técnicas de caracterización, de acuerdo al interés que despierte dicho material. Una vez conocidas las características del material puede establecerse la naturaleza del mismo, así como sus posibles aplicaciones. Un ejemplo de ello es la caracterización de materiales semiconductores, lo cual es fundamental para establecer el uso posterior que puede dársele a los mismos. Otra aplicación muy útil es en el análisis de cargas térmicas, que forma parte del proceso de diseño de instalaciones de Aire Acondicionado, en el cual se toman en cuenta las propiedades térmicas de los materiales, tales como: Coeficiente de conductividad (Índice K), Transmitancia (Valor U), Resistencia e Inercia térmicas. (es)
- Dalam ilmu material, pencirian (bahasa Inggris: characterization, karakterisasi) adalah proses umum yang menyelidiki dan mengukur struktur dan sifat-sifat suatu bahan atau material. Proses ini sangat penting di bidang ilmu dan teknik material, karena dibutuhkan agar bahan-bahan tersebut dapat dipahami secara ilmiah. Skala struktur yang diamati dalam pencirian material berkisar dari sekecil ukuran angstrom (seperti pencitraan atom tunggal dan ikatan kimia) hingga sebesar beberapa sentimeter (seperti pencitraan struktur makroskopik pada logam). Teknik pencirian seperti mikroskop cahaya biasa telah ada selama berabad-abad, tetapi teknik dan metode baru terus bermunculan. Pada abad ke-20 muncul penggunaan mikroskop elektron dan yang memungkinkan pencitraan serta analisis terhadap struktur dan komposisi yang jauh lebih kecil dari sebelumnya, sehingga meningkatkan pengetahuan ilmiah mengenai penyebab sifat-sifat bahan. Mikroskop gaya atom adalah salah satu penemuan terbaru yang meningkatkan resolusi yang mungkin diamati untuk analisis. (in)
- 材料工学における特性評価あるいはキャラクタリゼーション（英語:Characterization）とは材料の構造や性質の調査、測定する方法を一般的に表す言葉である。材料工学（マテリアルサイエンス）においては工業材料の物性の科学的な理解が不可欠である。この言葉が指し示すものの範囲はしばしば変化し、微細構造や物性に対する技術についてのみ使われる場合もあるが 、や熱分析、密度の計算といったマクロスケールでの測定を含むあらゆる材料分析に対して使う場合もある。特性評価で観察される材料の構造のスケールは原子の1個1個やひとつの化学結合を画像化するレベルから粗い粒のようなセンチメートルスケールのものまで様々である。 光学顕微鏡をはじめ多くの測定技術が何世紀にも渡って改良を続けられてきており、新しい技術や方法が次々と生まれている。特に20世紀における電子顕微鏡と二次イオン質量分析法の発明はこの分野に革命を起こし、以前よりずっと小さいスケールで画像化と分析ができるようになった。これにより異なる物質がなぜ異なる物性を示すのかということの理解が大きく進んだ。原子間力顕微鏡の発明によりここ30年で分析能はさらに大きく向上している。 (ja)
- Materiaalkarakterisering of materiaalanalyse betreft het brede en algemene proces van het bepalen van de samenstelling, de structuur en/of de eigenschappen van een materiaal. Het wordt ook wel het identificeren of bepalen van materialen genoemd. Er zijn tal van analysemethoden en technieken ontwikkeld die kunnen worden gebruikt voor het vinden van deze informatie. Het is een fundamenteel proces in het vakgebied der materiaalkunde, aangezien er zonder deze technieken geen wetenschappelijk begrip van materialen zou kunnen worden vastgesteld. Deze karakteriseringstechnieken worden ook veel toegepast in de vastestoffysica en (analytische) chemie. De term materiaalkarakterisering is geen vastgestelde definitie en wordt voor verschillende scala aan analysetechnieken gebruikt. Zo wordt het gebruik van de term voor sommigen beperkt tot technieken die de microscopische structuur en eigenschappen van materialen bestuderen, terwijl andere de term gebruiken om te verwijzen naar elk materiaalanalyseproces, inclusief macroscopische technieken zoals mechanische materiaalproeven, thermische analyse en dichtheidsbepaling. De lengteschaal van de structuren die in kaart worden gebracht bij de karakterisering van materialen varieert van ångström (10−10 m), zoals bij de beeldvorming van individuele atomen en chemische bindingen, tot centimeters, zoals bij de beeldvorming van grove korrelstructuren in metalen. Na de uitvinding van de microscoop word deze vorm van karakteriseringstechniek al eeuwenlang toegepast. Echter zijn de meeste technieken in de afgelopen eeuw uitgevonden en komen er in snel tempo nieuwe bij of worden oude verbeterd. Met name de komst van de elektronenmicroscoop en secundaire ionenmassaspectrometrie (SIMS) in de 20e eeuw hebben een revolutie teweeggebracht in het veld, waardoor de beeldvorming en analyse van structuren en composities op veel kleinere schaal mogelijk was dan voorheen. Dit leidde tot een meer kennis en begrip van de verschillende materialen en hoe deze tot stand komen. In de afgelopen 30 jaar heeft atoomkrachtmicroscopie (AFM) de maximaal haalbare analyseresolutie van bepaalde substraten verder verhoogd. (nl)
- 表征（英語：characterization）又称特征化、特性化，此处为化学及材料科学术语，指用物理或化学方法对物质进行化学性质的分析、测试或鉴定，并阐明物质的化学特性。此概念包括很多具体手段，包括各种显微技术、紫外-可见-红外光谱、衍射、电子光谱、质谱等；所表征的特性包括（化学成分）、元素的（成键情况）、材料的晶体结构、材料的表面形态等。 (zh)
|
| rdfs:comment
|
- La caractérisation d'un matériau consiste à en analyser les propriétés. Elle s'effectue par des essais pouvant être normalisés, qui sont de plusieurs classes : mécaniques, physiques, chimiques et physico-chimiques. Ceux-ci mettent en œuvre des principes physiques de mécanique, thermodynamique, interactions rayonnement-matière, etc. (fr)
- 材料工学における特性評価あるいはキャラクタリゼーション（英語:Characterization）とは材料の構造や性質の調査、測定する方法を一般的に表す言葉である。材料工学（マテリアルサイエンス）においては工業材料の物性の科学的な理解が不可欠である。この言葉が指し示すものの範囲はしばしば変化し、微細構造や物性に対する技術についてのみ使われる場合もあるが 、や熱分析、密度の計算といったマクロスケールでの測定を含むあらゆる材料分析に対して使う場合もある。特性評価で観察される材料の構造のスケールは原子の1個1個やひとつの化学結合を画像化するレベルから粗い粒のようなセンチメートルスケールのものまで様々である。 光学顕微鏡をはじめ多くの測定技術が何世紀にも渡って改良を続けられてきており、新しい技術や方法が次々と生まれている。特に20世紀における電子顕微鏡と二次イオン質量分析法の発明はこの分野に革命を起こし、以前よりずっと小さいスケールで画像化と分析ができるようになった。これにより異なる物質がなぜ異なる物性を示すのかということの理解が大きく進んだ。原子間力顕微鏡の発明によりここ30年で分析能はさらに大きく向上している。 (ja)
- 表征（英語：characterization）又称特征化、特性化，此处为化学及材料科学术语，指用物理或化学方法对物质进行化学性质的分析、测试或鉴定，并阐明物质的化学特性。此概念包括很多具体手段，包括各种显微技术、紫外-可见-红外光谱、衍射、电子光谱、质谱等；所表征的特性包括（化学成分）、元素的（成键情况）、材料的晶体结构、材料的表面形态等。 (zh)
- En ciència de materials, la caracterització fa referència al procés mitjançant el qual s’estudia i es mesuren l'estructura i les propietats d’un material. És un procés fonamental en el camp de la ciència dels materials, sense el qual no es podria conèixer els materials en l'àmbit científic. L’abast del terme sovint difereix; algunes definicions limiten l'ús del terme a tècniques que estudien l'estructura microscòpica i les propietats dels materials, mentre que d'altres utilitzen el terme per referir-se a qualsevol procés d'anàlisi de materials, incloses tècniques macroscòpiques com proves mecàniques, anàlisis tèrmics i càlculs de densitat. L'escala de les estructures observades en la caracterització va des dels angstroms, com per exemple en la imatge d’àtoms individuals i enllaços químics, (ca)
- Characterization, when used in materials science, refers to the broad and general process by which a material's structure and properties are probed and measured. It is a fundamental process in the field of materials science, without which no scientific understanding of engineering materials could be ascertained. The scope of the term often differs; some definitions limit the term's use to techniques which study the microscopic structure and properties of materials, while others use the term to refer to any materials analysis process including macroscopic techniques such as mechanical testing, thermal analysis and density calculation. The scale of the structures observed in materials characterization ranges from angstroms, such as in the imaging of individual atoms and chemical bonds, up to (en)
- La caracterización de materiales, cuando se habla de ciencia de materiales, hace referencia al proceso general y amplio por el cual la estructura de un material y sus propiedades son probadas y medidas. Es un proceso fundamental en el campo de la ciencia de materiales, sin el cual no se podría determinar un entendimiento científico de la ingeniería de materiales. El alcance del término es a veces distinto; algunas definiciones limitan el uso del término a las técnicas que estudian la estructura microscópica y las propiedades de los materiales, mientras que otras usan el término para referirse a cualquier proceso de análisis de materiales, incluyendo técnicas macroscópicas tales como pruebas de materiales, análisis térmico y cálculo de densidad. La escala de las estructuras observadas e (es)
- Dalam ilmu material, pencirian (bahasa Inggris: characterization, karakterisasi) adalah proses umum yang menyelidiki dan mengukur struktur dan sifat-sifat suatu bahan atau material. Proses ini sangat penting di bidang ilmu dan teknik material, karena dibutuhkan agar bahan-bahan tersebut dapat dipahami secara ilmiah. Skala struktur yang diamati dalam pencirian material berkisar dari sekecil ukuran angstrom (seperti pencitraan atom tunggal dan ikatan kimia) hingga sebesar beberapa sentimeter (seperti pencitraan struktur makroskopik pada logam). (in)
- Materiaalkarakterisering of materiaalanalyse betreft het brede en algemene proces van het bepalen van de samenstelling, de structuur en/of de eigenschappen van een materiaal. Het wordt ook wel het identificeren of bepalen van materialen genoemd. Er zijn tal van analysemethoden en technieken ontwikkeld die kunnen worden gebruikt voor het vinden van deze informatie. (nl)
|
_effective_refractive_indexes_and_(b)_absorption_coefficients_of_the_electronic_chips.jpg){kind=link}
_effective_refractive_indexes_and_(b)_absorption_coefficients_of_the_electronic_chips.jpg){kind=link}
