| dbo:abstract
|
- Un microscopi de forces atòmiques (AFM per les seves sigles en anglès) és un tipus de de molt alta resolució, que pot mesurar fraccions del nanòmetre, més de 1000 vegades millor que el òptic. El precursor de l'AFM, el microscopi d'efecte túnel (STM), va ser desenvolupat per Gerd Binnig i Heinrich Rohrer a la primeria de la dècada del 1980 al centre , un progrés que els va valer el Premi Nobel de Física l'any 1986. Binnig, i van inventar el primer microscopi de forces atòmiques el 1986. El primer microscopi de forces atòmiques disponible comercialment va aparèixer el 1989. L'AFM és una de les eines més importants per elaborar mapes topogràfics de la matèria a escala . La informació és recollida per escombreig detectant les forces moleculars i atòmiques que actuen sobre una punta situada sobre la superfície del material estudiat. Els elements piezoelèctrics, que permeten moviments petits però exactes en el comandament electrònic, fan possible un escaneig molt precís. En algunes variacions, també es poden mesurar els potencials elèctrics utilitzant micropalanques conductores. En versions més noves i avançades, fins i tot és possible mesurar la conductivitat elèctrica de la superfície subjacent transmetent corrent elèctric a través de la punta, però aquest mètode és més difícil i hi ha pocs grups de recerca que presentin dades fiables amb aquest sistema. (ca)
- Mikroskopie atomárních sil (AFM z anglického atomic force microscopy) je mikroskopická technika, která se používá k trojrozměrnému zobrazování povrchů. Prvně ji realizovali v roce 1986 Binnig, Quate a Gerber. Obraz povrchu se zde sestavuje postupně, bod po bodu. Metoda dosahuje velmi vysokého rozlišení. Techniku AFM lze použít nejen k zobrazování, ale také k tvorbě struktur či zpracování povrchů v nanometrové oblasti. V principu je AFM podobná metoda jako tunelová mikroskopie. K detekci však neslouží elektrický proud, ale vzájemná meziatomová přitažlivost. Detekuje se pohyb zkoumacího hrotu při průchodu nad vzorkem. Umí zobrazovat i nevodivé vzorky. Nazývá se někdy také SFM (scanning force microscopy). Základem AFM je velmi ostrý hrot, který je upevněn na ohebném nosníku (angl. cantilever, tento termín se používá i v češtině). Hrot je mírně vtlačován do vzorku a následkem působících sil je nosník ohnutý, v souladu s Hookovým zákonem. Během měření se hrot pohybuje po povrchu vzorku v pravidelném rastru (skenuje) tak, že výška druhého konce nosníku je konstantní. Je-li povrch vzorku nerovný, má nosník v různých místech vzorku různou velikost ohnutí a sledováním závislosti ohnutí na poloze na vzorku můžeme sestavit zvětšený obraz vzorku. Předchozí způsob měření však vede k poškození hrotu, pokud by nerovnost vzorku byla příliš velká. Proto se častěji používá režim využívající zpětné vazby, tzv. režim s konstantním ohnutím, ve kterém se v každém bodě rastru porovná současná hodnota ohnutí s přednastavenou hodnotou, a pokud se liší, nosník s hrotem se přiblíží nebo oddálí od vzorku o takovou vzdálenost z, aby se hodnota ohnutí opět shodovala s přednastavenou hodnotou. Místo velikosti ohnutí se pak k sestavení obrazu použijí hodnoty z. Konstantní hodnota ohnutí zároveň znamená, že na vzorek působí konstantní síla. Uvedený režim může zobrazovat i drsnější vzorky, ale je pomalejší (sběr obrázku trvá delší dobu). Oba uvedené režimy, tzv. kontaktní, však mohou vést k poškození vzorku, protože během přesunu z jednoho bodu do druhého působí mezi hrotem a vzorkem velké třecí síly. Proto se používají tzv. bezkontaktní režimy, v nichž není mezi hrotem a vzorkem přímý mechanický kontakt. Hrot a vzorek na sebe působí především skrze van der Waalsovu sílu. Protože tato síla je velmi malá, provozuje se bezkontaktní režim tak, že je nosník rozkmitáván a místo jeho ohnutí se měří velikost amplitudy. Protože velikost amplitudy závisí na vzdálenosti mezi hrotem a vzorkem, lze sledováním změn amplitudy sestavit obraz povrchu vzorku. (cs)
- Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (englisch atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte im Nanometerbereich. Eine nanoskopisch feine Nadel wird mittels einer Blattfeder gegen die zu messende Probe gedrückt, und die atomaren Kräfte biegen die Blattfeder. Diese Auslenkung kann mit Licht gemessen werden, und damit kann die Kraft berechnet werden, die zwischen den Atomen der Oberfläche und der Spitze wirkt. Da zwischen der Probe und der Spitze kein Strom fließt, können auch nichtleitende Proben untersucht werden. Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt. (de)
- مِجْهَر القُوة الذَرية (بالإنجليزية: Atomic force microscope؛ اختصارا: AFM) هو جهاز يستخدم في مجال تقنية النانو لمعرفة ورسم تضاريس السطوح ذات الأبعاد النانوية والميكرونية. يُسمى كذلك مجهر القوة الماسحة (بالإنجليزية: Scanning force microscope؛ اختصارا: SFM). ميكروسكوب القوة الذرية أو ميكروسكوب القوة الماسحة Scanning Force Microscopy (SFM) هو ميكروسكوب ذو قدرة تحليلية عالية وهو أحد أنواع ميكروسكوبات المجسات الماسحة والذي تحدثنا عن واحد منها وهو الميكروسكوب النفقي الماسح STM في مقال سابق. ولكن هذا الميكروسكوب له قدرة تحليل تصل إلى اجزاء من النانومتر حيث انه يفوق حد تكبير الميكروسكوبات الضوئية بأكثر من 1000 مرة. ويعتبر هذا الميكروسكوب متطورا عن الميكروسكوب النفقي الماسح STM. اخترع ميكروسكوب القوة الذرية AFM العالمين Quate و Gerber في العام 1986. وتوفر أول جهاز للاستخدام في المختبرات العلمية في العام 1986. ويعتبر هذا الميكروسكوب الأكثر شهرة كأداة تكبير وقياس وتحريك على المستوى النانوي. وحديثاً تمكن علماء فيزيائيون في جامعة اوساكا في اليابان من استخدام ميكروسكوب القوة الذرية AFM في التعرف على هوية التركيب الكيميائي وتحديد نوع كل ذرة ومكان تواجدها على المخطط ثلاثي الابعاد لتضاريس سطح المادة على المستوى الذري. وقد اكتشف هؤلاء العلماء ان التفاعلات تشكل بصمة ذرية لتمييز الذرات باستخدام ميكروسكوب AFM. (ar)
- Η μικροσκοπία ατομικής δύναμης ( AFM ) ή η μικροσκοπία δύναμης σάρωσης ( SFM ) είναι ένας πάρα πολύ υψηλής ανάλυσης τύπος μικροσκοπίου ανιχνευτή σάρωσης (SPM), με αποδεδειγμένη ανάλυση της τάξης των κλασμάτων ενός νανομέτρου, περισσότερο από 1000 φορές καλύτερη από την οπτική περίθλαση όριο . (el)
- Atomic force microscopy (AFM) or scanning force microscopy (SFM) is a very-high-resolution type of scanning probe microscopy (SPM), with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction limit. (en)
- La atom-forta mikroskopo (AFM) estas tre detala analiza ilo el nova generacio. Temas pri speco de tunel-efika mikroskopo (aŭ skantunela mikroskopo, STM), kiuj komence de la 21-a jarcento refortigis la intereson pri koloida scienco kaj antaŭenigis la nanoteknologion. Atom-forta mikroskopo diferencigas frakciojn de nanometro, pli ol mil-foje pli detale ol difrakto-limigitaj optikaj sistemoj. Piezoelektraj elementoj faciligas etajn sed precizajn movojn je (elektra) komando kiuj ebligas tre precizan skanadon de la esplorata objekto. Calvin Forrest Quate estis unu el la inventistoj de la atom-forta mikroskopo. (eo)
- El microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas. (es)
- Baineann micreascóp fórsa adamhaigh (MFA) feidhm as tóireadóir braiteora chun an dromchla atá le hiniúchadh a scanadh de réir oird le híomhá a chruthú ar féidir adaimh ar leith a léiriú uirthi. Bíonn bior an-ghéar ar an mbraiteoir, dírithe i dtreo an dromchla ag fad an-bheag amach uaidh agus suite ar cheann starrmhaide lingeáin bhoig. Nuair a ghluaiseann an sampla thar an mbior, feidhmíonn adaimh an dromchla fórsa athraitheach ar an mbior, ag díláithriú an starrmhaide. Úsáidtear teicníocht optúil nó eile chun sraonadh an starrmhaide a bhrath, agus is é an sraonadh seo ag gach réigiún den dromchla a íomháítear le cabhair ríomhaire is teilifíseáin. Is féidir dromchla seoltach nó neamhsheoltach a íomháú leis. Sampla de mhicreascóp tóireadóir scanta. (ga)
- Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d'observation permet alors, de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l'objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant...), mais également de travailler dans des environnements particuliers tels que les milieux sous vide, liquides ou ambiants. (fr)
- Mikroskop gaya atom (bahasa Inggris: Atomic force microscope, AFM) adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom (mikroskop penerowongan payaran), dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM - Zurich. Dari pengembangan mikroskop tersebut, mereka menerima Hadiah Nobel untuk Fisika pada tahun 1986. Binnig, Quate dan Gerber kemudian menciptakan mikroskop gaya atom pertama di dunia pada tahun 1986. Mikroskop ini merupakan salah satu alat terpenting untuk penggambaran, pengukuran, dan manipulasi materi pada skala nano. Informasi ini didapatkan dengan "meraba" permukaan dengan menggunakan sebuah alat pemeriksa mekanik. Elemen piezoelektrik yang memfasilitasi perintah elektronik gerak dengan sangat akurat dan tepat membuatnya dapat memindai dengan presisi tinggi. Dalam beberapa varian mikroskop, arus listrik juga dapat dialirkan ke ujung pemindai untuk menyelidiki konduktivitas listrik permukaan, tetapi ini sangat sulit dilakukan dan hanya ada sedikit data laporan yang dapat diandalkan. (in)
- Il microscopio a forza atomica (spesso abbreviato in AFM, dall'inglese atomic force microscope) è un microscopio a scansione di sonda (SPM) inventato da Gerd Binnig, e nel 1986. Oltre a essere utilizzato come mezzo d'indagine, è anche uno dei principali strumenti di manipolazione della materia su scala nanometrica. (it)
- 原子間力顕微鏡（げんしかんりょくけんびきょう、英: atomic force microscope、 AFM）は、走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種であり、試料の表面と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る顕微鏡である。 原子間力はあらゆる物質の間に働くため容易に試料を観察することができるため、走査型トンネル顕微鏡 (STM) とは異なり、絶縁性試料の測定も可能である。また電子線を利用する走査型電子顕微鏡 (SEM) のように、導電性コーティングなどの前処理や装置内の真空を必要とする事もない。このため、大気中や液体中、または高温～低温など様々な環境で、生体試料などを自然に近い状態で測定できる。 他の走査型プローブ顕微鏡と同様に空間分解能は探針の先端半径（nm程度）に依存し、現在では、原子レベルの分解能が実現されている。 (ja)
- Atoomkrachtmicroscopie (Engels: atomic force microscopy, meestal kortweg AFM genoemd) is een scanning probe microscopy-techniek om net als bij scanning tunneling microscopy met een sonde het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn. In plaats van een tunnelstroom die constant wordt gehouden meet de AFM het doorbuigen van een bladveer (cantilever) en corrigeert die zodat de naald een constante kracht van het oppervlak van het object ondervindt. De atoomkrachtmicroscoop kan niet alleen worden gebruikt om het oppervlak te bestuderen, maar ook om het te beïnvloeden: men kan moleculen op het oppervlak van het object manipuleren door gebruik te maken van de naald van de microscoop. (nl)
- Mikroskop sił atomowych (ang. atomic force microscope, AFM) – rodzaj mikroskopu ze skanującą sondą (ang. scanning probe microscope, SPM). Umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni ze zdolnością rozdzielczą rzędu wymiarów pojedynczego atomu dzięki wykorzystaniu sił oddziaływań międzyatomowych, na zasadzie przemiatania ostrza nad lub pod powierzchnią próbki. Mikroskop ten skonstruowali po raz pierwszy Gerd Binnig, Calvin F. Quate i Christoph Gerber w 1986 roku. (pl)
- Atomkraftsmikroskopi (AFM) skiljer sig mycket från optisk mikroskopi och elektronmikroskopi. AFM fungerar genom att man låter en mycket fin spets löpa över ett prov. Spetsen påverkas av olika krafter när den rör sig över provet. Det AFM främst påverkas av är van der Waals- och Coulombkrafter samt mekaniska krafter. Det finns flera olika metoder man kan utnyttja i AFM, beroende på vad provet består av och vad man vill mäta. Contact mode: I kontaktmetoden har spetsen full kontakt[förklaring behövs] med provet under hela mätningen. Armen som spetsen sitter på hålls på konstant avstånd från provet. En laser riktas mot armens baksida, från vilken den reflekteras mot en fotodetektor. När spetsen går över toppar och dalar i provets yta böjs eller vrids armen. Det ändrar den vinkel som lasern träffar fotodetektorn med. På så sätt får man en tredimensionell bild av provets yta. Denna metod tillåter snabb topografisk avbildning men har vissa nackdelar. Exempelvis krävs en mycket tunn och skarp spets för att korrekt avbilda fina detaljer i provet. Metoden kan också skada både spetsen och provet; biologiska material är särskilt känsliga. För att undvika skada på spetsen och provet kan armen kopplas till ett piezoelektriskt material, vilket gör att man kan hålla växelverkan mellan spetsen och provet konstant genom att flytta armen i vertikal riktning. Non-contact och tapping mode: I båda dessa metoder oscillerar den arm som spetsen sitter på. När spetsen närmar sig ytan attraheras den av van der Waals-krafter, vilket förändrar oscillationens amplitud. Denna skillnad i amplitud används för att utvinna information om till exempel geometri och bindningsstruktur i materialet. Dessa metoder är fördelaktiga genom att de fungerar bättre för mjuka/känsliga material; dock är de långsammare än contact mode. (sv)
- Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Нужен для определения рельефа поверхности разрешением начиная от 10−9 м до атомарного[уточнить]. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Атомно-силовой микроскоп был создан в 1982 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в Цюрихе (Швейцария), как модификация изобретённого ранее сканирующего туннельного микроскопа. Для определения рельефа поверхностей непроводящих тел использовалась упругая консоль (кантилевер), отклонение которой, в свою очередь, определялось по изменению величины туннельного тока, как в сканирующем туннельном микроскопе. Однако такой метод регистрации изменения положения кантилевера оказался не самым удачным, и двумя годами позже была предложена оптическая схема: луч лазера направляется на внешнюю поверхность кантилевера, отражается и попадает на фотодетектор. Такой метод регистрации отклонения кантилевера реализован в большинстве современных атомно-силовых микроскопов. Изначально атомно-силовой микроскоп фактически представлял собой профилометр, только радиус закругления иглы был порядка 10−9 м. Стремление улучшить латеральное разрешение привело к развитию динамических методов. Пьезовибратором возбуждаются колебания кантилевера с определённой частотой и фазой. При приближении к поверхности на кантилевер начинают действовать силы, изменяющие его частотные свойства. Таким образом, отслеживая частоту и фазу колебаний кантилевера, можно сделать вывод об изменении силы, действующей со стороны поверхности и, следственно, о рельефе. Дальнейшее развитие атомно-силовой микроскопии привело к возникновению таких методов, как магнитно-силовая микроскопия, , электро-силовой микроскопии. (ru)
- A microscopia de força atômica é uma das modalidades de uma vasta família de microscopias derivadas a partir da idéia do chamado microscópio de tunelamento. O microscópio de tunelamento foi desenvolvido por Gerd Binnig e Heinrich Rohrer no início de 1980, um desenvolvimento que lhes valeu o Prêmio Nobel de Física em 1986. Binnig, Calvin Quate e Christoph Gerber inventaram o primeiro AFM (Atomic Force Microscope) em 1986, "com objetivo de medir forças menores que 1μN entre a superfície da ponteira (tip) e a superfície da amostra". Desde a invenção do microscópio de força atômica (MFA), ele se tornou o mais usado microscópio de varredura por sonda (MVS). Os microscópios (MVS) são compostos basicamente por uma pequena ponta delgada, que pode ser de silício (SiO2 ou Si3N4), diamante, etc., que varre a superfície de interesse nas direções x, y e z, movendo-se uma sonda ou uma superfície através de um dispositivo piezolétrico. (pt)
- Атомно-силовий мікроскоп (англійське скорочення: AFM — atomic-force microscope ) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати зображення поверхні зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами. (uk)
- 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（Scanning Force Microscope，SFM）是一种的扫描探针显微镜，优于1000倍。原子力显微镜的前身是扫描隧道显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的 ，格尔德·宾宁和 在1986年在扫描隧道显微镜（STM， Scanning Tunnelling Microscope ）的基础上设计而来。 格爾德·賓寧、魁特（Calvin Quate）和格勃（Gerber）于1986年发明第一台原子力显微镜，而第一台商业化原子力显微镜于1989年生产的。AFM是在操作材料，及其成像和测量最重要的工具。信息是通过感受和悬臂上尖细探针的表面的“感觉”来收集的，而元件可以控制样品或扫描器非常精确的微小移动，用导电悬臂（cantilever）和导电原子力显微镜附件则可以测量样品的；更高级的仪器则可以测试探针上的电流来测试样品的电导率或下表面的电子的移动，不过这种测试是非常艰难的，只有个别实验室报道了一致的数据。利用感受和放大悬臂上尖细探针與受測樣品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。 原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用類似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子穿隧效應，而是检测原子之间的接触，原子键合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等来呈现样品的表面特性。 (zh)
|
| rdfs:comment
|
- Η μικροσκοπία ατομικής δύναμης ( AFM ) ή η μικροσκοπία δύναμης σάρωσης ( SFM ) είναι ένας πάρα πολύ υψηλής ανάλυσης τύπος μικροσκοπίου ανιχνευτή σάρωσης (SPM), με αποδεδειγμένη ανάλυση της τάξης των κλασμάτων ενός νανομέτρου, περισσότερο από 1000 φορές καλύτερη από την οπτική περίθλαση όριο . (el)
- Atomic force microscopy (AFM) or scanning force microscopy (SFM) is a very-high-resolution type of scanning probe microscopy (SPM), with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction limit. (en)
- El microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas. (es)
- Baineann micreascóp fórsa adamhaigh (MFA) feidhm as tóireadóir braiteora chun an dromchla atá le hiniúchadh a scanadh de réir oird le híomhá a chruthú ar féidir adaimh ar leith a léiriú uirthi. Bíonn bior an-ghéar ar an mbraiteoir, dírithe i dtreo an dromchla ag fad an-bheag amach uaidh agus suite ar cheann starrmhaide lingeáin bhoig. Nuair a ghluaiseann an sampla thar an mbior, feidhmíonn adaimh an dromchla fórsa athraitheach ar an mbior, ag díláithriú an starrmhaide. Úsáidtear teicníocht optúil nó eile chun sraonadh an starrmhaide a bhrath, agus is é an sraonadh seo ag gach réigiún den dromchla a íomháítear le cabhair ríomhaire is teilifíseáin. Is féidir dromchla seoltach nó neamhsheoltach a íomháú leis. Sampla de mhicreascóp tóireadóir scanta. (ga)
- Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d'observation permet alors, de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l'objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant...), mais également de travailler dans des environnements particuliers tels que les milieux sous vide, liquides ou ambiants. (fr)
- Il microscopio a forza atomica (spesso abbreviato in AFM, dall'inglese atomic force microscope) è un microscopio a scansione di sonda (SPM) inventato da Gerd Binnig, e nel 1986. Oltre a essere utilizzato come mezzo d'indagine, è anche uno dei principali strumenti di manipolazione della materia su scala nanometrica. (it)
- 原子間力顕微鏡（げんしかんりょくけんびきょう、英: atomic force microscope、 AFM）は、走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種であり、試料の表面と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る顕微鏡である。 原子間力はあらゆる物質の間に働くため容易に試料を観察することができるため、走査型トンネル顕微鏡 (STM) とは異なり、絶縁性試料の測定も可能である。また電子線を利用する走査型電子顕微鏡 (SEM) のように、導電性コーティングなどの前処理や装置内の真空を必要とする事もない。このため、大気中や液体中、または高温～低温など様々な環境で、生体試料などを自然に近い状態で測定できる。 他の走査型プローブ顕微鏡と同様に空間分解能は探針の先端半径（nm程度）に依存し、現在では、原子レベルの分解能が実現されている。 (ja)
- Mikroskop sił atomowych (ang. atomic force microscope, AFM) – rodzaj mikroskopu ze skanującą sondą (ang. scanning probe microscope, SPM). Umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni ze zdolnością rozdzielczą rzędu wymiarów pojedynczego atomu dzięki wykorzystaniu sił oddziaływań międzyatomowych, na zasadzie przemiatania ostrza nad lub pod powierzchnią próbki. Mikroskop ten skonstruowali po raz pierwszy Gerd Binnig, Calvin F. Quate i Christoph Gerber w 1986 roku. (pl)
- Атомно-силовий мікроскоп (англійське скорочення: AFM — atomic-force microscope ) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати зображення поверхні зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами. (uk)
- مِجْهَر القُوة الذَرية (بالإنجليزية: Atomic force microscope؛ اختصارا: AFM) هو جهاز يستخدم في مجال تقنية النانو لمعرفة ورسم تضاريس السطوح ذات الأبعاد النانوية والميكرونية. يُسمى كذلك مجهر القوة الماسحة (بالإنجليزية: Scanning force microscope؛ اختصارا: SFM). وحديثاً تمكن علماء فيزيائيون في جامعة اوساكا في اليابان من استخدام ميكروسكوب القوة الذرية AFM في التعرف على هوية التركيب الكيميائي وتحديد نوع كل ذرة ومكان تواجدها على المخطط ثلاثي الابعاد لتضاريس سطح المادة على المستوى الذري. وقد اكتشف هؤلاء العلماء ان التفاعلات تشكل بصمة ذرية لتمييز الذرات باستخدام ميكروسكوب AFM. (ar)
- Un microscopi de forces atòmiques (AFM per les seves sigles en anglès) és un tipus de de molt alta resolució, que pot mesurar fraccions del nanòmetre, més de 1000 vegades millor que el òptic. El precursor de l'AFM, el microscopi d'efecte túnel (STM), va ser desenvolupat per Gerd Binnig i Heinrich Rohrer a la primeria de la dècada del 1980 al centre , un progrés que els va valer el Premi Nobel de Física l'any 1986. Binnig, i van inventar el primer microscopi de forces atòmiques el 1986. El primer microscopi de forces atòmiques disponible comercialment va aparèixer el 1989. (ca)
- Mikroskopie atomárních sil (AFM z anglického atomic force microscopy) je mikroskopická technika, která se používá k trojrozměrnému zobrazování povrchů. Prvně ji realizovali v roce 1986 Binnig, Quate a Gerber. Obraz povrchu se zde sestavuje postupně, bod po bodu. Metoda dosahuje velmi vysokého rozlišení. Techniku AFM lze použít nejen k zobrazování, ale také k tvorbě struktur či zpracování povrchů v nanometrové oblasti. (cs)
- Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (englisch atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte im Nanometerbereich. Eine nanoskopisch feine Nadel wird mittels einer Blattfeder gegen die zu messende Probe gedrückt, und die atomaren Kräfte biegen die Blattfeder. Diese Auslenkung kann mit Licht gemessen werden, und damit kann die Kraft berechnet werden, die zwischen den Atomen der Oberfläche und der Spitze wirkt. Da zwischen der Probe und der Spitze kein Strom fließt, können auch nichtleitende Proben untersucht werden. (de)
- La atom-forta mikroskopo (AFM) estas tre detala analiza ilo el nova generacio. Temas pri speco de tunel-efika mikroskopo (aŭ skantunela mikroskopo, STM), kiuj komence de la 21-a jarcento refortigis la intereson pri koloida scienco kaj antaŭenigis la nanoteknologion. Atom-forta mikroskopo diferencigas frakciojn de nanometro, pli ol mil-foje pli detale ol difrakto-limigitaj optikaj sistemoj. Piezoelektraj elementoj faciligas etajn sed precizajn movojn je (elektra) komando kiuj ebligas tre precizan skanadon de la esplorata objekto. (eo)
- Mikroskop gaya atom (bahasa Inggris: Atomic force microscope, AFM) adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom (mikroskop penerowongan payaran), dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM - Zurich. Dari pengembangan mikroskop tersebut, mereka menerima Hadiah Nobel untuk Fisika pada tahun 1986. Binnig, Quate dan Gerber kemudian menciptakan mikroskop gaya atom pertama di dunia pada tahun 1986. Mikroskop ini merupakan salah satu alat terpenting untuk penggambaran, pengukuran, dan manipulasi materi pada skala nano. Informasi ini didapatkan dengan "meraba" permukaan dengan menggunakan sebuah alat (in)
- Atoomkrachtmicroscopie (Engels: atomic force microscopy, meestal kortweg AFM genoemd) is een scanning probe microscopy-techniek om net als bij scanning tunneling microscopy met een sonde het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn. In plaats van een tunnelstroom die constant wordt gehouden meet de AFM het doorbuigen van een bladveer (cantilever) en corrigeert die zodat de naald een constante kracht van het oppervlak van het object ondervindt. (nl)
- A microscopia de força atômica é uma das modalidades de uma vasta família de microscopias derivadas a partir da idéia do chamado microscópio de tunelamento. O microscópio de tunelamento foi desenvolvido por Gerd Binnig e Heinrich Rohrer no início de 1980, um desenvolvimento que lhes valeu o Prêmio Nobel de Física em 1986. Binnig, Calvin Quate e Christoph Gerber inventaram o primeiro AFM (Atomic Force Microscope) em 1986, "com objetivo de medir forças menores que 1μN entre a superfície da ponteira (tip) e a superfície da amostra". Desde a invenção do microscópio de força atômica (MFA), ele se tornou o mais usado microscópio de varredura por sonda (MVS). Os microscópios (MVS) são compostos basicamente por uma pequena ponta delgada, que pode ser de silício (SiO2 ou Si3N4), diamante, etc., que (pt)
- Atomkraftsmikroskopi (AFM) skiljer sig mycket från optisk mikroskopi och elektronmikroskopi. AFM fungerar genom att man låter en mycket fin spets löpa över ett prov. Spetsen påverkas av olika krafter när den rör sig över provet. Det AFM främst påverkas av är van der Waals- och Coulombkrafter samt mekaniska krafter. Det finns flera olika metoder man kan utnyttja i AFM, beroende på vad provet består av och vad man vill mäta. (sv)
- Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Нужен для определения рельефа поверхности разрешением начиная от 10−9 м до атомарного[уточнить]. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Атомно-силовой микроскоп был создан в 1982 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в Цюрихе (Швейцария), как модификация изобретённого ранее сканирующего туннельного микроскопа. (ru)
- 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（Scanning Force Microscope，SFM）是一种的扫描探针显微镜，优于1000倍。原子力显微镜的前身是扫描隧道显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的 ，格尔德·宾宁和 在1986年在扫描隧道显微镜（STM， Scanning Tunnelling Microscope ）的基础上设计而来。 格爾德·賓寧、魁特（Calvin Quate）和格勃（Gerber）于1986年发明第一台原子力显微镜，而第一台商业化原子力显微镜于1989年生产的。AFM是在操作材料，及其成像和测量最重要的工具。信息是通过感受和悬臂上尖细探针的表面的“感觉”来收集的，而元件可以控制样品或扫描器非常精确的微小移动，用导电悬臂（cantilever）和导电原子力显微镜附件则可以测量样品的；更高级的仪器则可以测试探针上的电流来测试样品的电导率或下表面的电子的移动，不过这种测试是非常艰难的，只有个别实验室报道了一致的数据。利用感受和放大悬臂上尖细探针與受測樣品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。 (zh)
|
_cantilever_in_Scanning_Electron_Microscope,_magnification_1000x.jpg){kind=link}
_cantilever_in_Scanning_Electron_Microscope,_magnification_3000x.jpg){kind=link}
