| dbo:abstract
|
- Die Abkürzung PIXE steht für Partikel-induzierte Röntgenemission bzw. Proton-induzierte Röntgenemission (Particle-Induced X-ray Emission bzw. Proton Induced X-ray Emission), und ist eine verbreitete Methode der Ionenstrahlanalytik. Die Probe wird beim PIXE-Verfahren mit einem Ionenstrahl untersucht. Beim Durchlaufen der Probe verlieren die Ionen hauptsächlich durch Wechselwirkung mit der Elektronenhülle Energie. Dabei kommt es auch zu Stößen der Teilchen mit Elektronen der inneren Schalen. Dadurch werden diese aus der Atomhülle herausgeschlagen. In der Folge kann es zu einer Abregung der nun ionisierten Atome durch charakteristische Röntgenstrahlung kommen. Diese wird bei der PIXE-Methode zur Bestimmung der Elementkonzentration benutzt. Die Methode selbst ist für schwere Elemente geeignet (Ordnungszahlen Z > 12…20) und hat im Vergleich zu anderen Röntgenmethoden einen deutlich geringeren Bremsstrahlungsuntergrund. Dadurch ist es auch möglich, Spurenelemente zu analysieren. Für leichte Elemente verringert der konkurrierende Auger-Effekt die charakteristische Röntgenemission stark. Außerdem senden leichte Atome niederenergetische Röntgenstrahlung aus. Diese wird schon vor dem Detektor durch Folien, die unter anderem zur Absorption der rückgestreuten Ionen dienen, relativ stark abgeschwächt und kann daher nicht oder nur schlecht detektiert werden. (de)
- Particle-induced X-ray emission or proton-induced X-ray emission (PIXE) is a technique used for determining the elemental composition of a material or a sample. When a material is exposed to an ion beam, atomic interactions occur that give off EM radiation of wavelengths in the x-ray part of the electromagnetic spectrum specific to an element. PIXE is a powerful yet non-destructive elemental analysis technique now used routinely by geologists, archaeologists, art conservators and others to help answer questions of provenance, dating and authenticity. The technique was first proposed in 1970 by Sven Johansson of Lund University, Sweden, and developed over the next few years with his colleagues Roland Akselsson and Thomas B Johansson. Recent extensions of PIXE using tightly focused beams (down to 1 μm) gives the additional capability of microscopic analysis. This technique, called microPIXE, can be used to determine the distribution of trace elements in a wide range of samples. A related technique, particle-induced gamma-ray emission (PIGE) can be used to detect some light elements. (en)
- La Sonde nucléaire PIXE est un instrument de physique où un faisceau de protons accélérés à plusieurs MeV, est produit et utilisé pour mettre en œuvre une technique d'analyse appelée « émission de photons X induite par particules » (en anglais PIXE, pour Particle-Induced X-ray Emission ou Proton-Induced X-ray Emission). Cette technique est utilisée pour déterminer la composition « élémentaire » (au sens d'élément chimique) d'un échantillon. Quand un matériau est exposé à un faisceau d'ions, ses interactions atomiques donnent naissance à un rayonnement électromagnétique dont la longueur d'onde de chaque photon, qui se trouve dans la gamme des rayons X, est propre à l'élément chimique de l'atome où a été généré le photon X. L'un des avantages de la technique PIXE par rapport à d'autres techniques voisines comme le SIMS est sa non destructivité, ce qui la rend très attractive pour l'analyse d'échantillons archéologiques ou artistiques. Cette technique a été proposée en 1970 par Sven Johansson, de l'Université de Lund en Suède. Des développements plus récents ont conduit à des microPIXE qui produisent des sondes protoniques de l'ordre du micromètre. PIXE est une sorte particulière de spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF). Le PIGE (Particle-Induced Gamma-ray Emission) est une technique voisine. (fr)
- La tecnica PIXE, acronimo di particle induced X-ray emission, in italiano emissione a raggi X indotta da particelle, è una metodica analitica relativamente recente che fa parte della famiglia delle analisi con fascio ionico. È stata introdotta dall' (Lunds tekniska högskola) nel 1970. Nel 1970, infatti, Johansson e collaboratori hanno dimostrato che il bombardamento di un campione con un fascio di protoni, di pochi MeV, genera l'emissione di raggi X caratteristici e che questo fenomeno rappresenta la base per una tecnica d'analisi molto sensibile.Questi studi sono stati possibili grazie alla disponibilità dei nuovi rivelatori al Si(Li), verso la fine degli anni sessanta, che hanno permesso di fatto la rivelazione dei raggi X caratteristici con una sufficiente risoluzione energetica. (it)
- 粒子線励起X線分析（りゅうしせんれいきエックスせんぶんせき、PIXE、Particle Induced X-ray Emission）とは、物質にイオンビームを照射して発生した特性X線を検出し、元素分析をする手法。 入射イオンとしては、陽子ビームが一般的に用いられる。ビーム径は2μm程度であるが、エネルギーが100eV以下では電界を用いることで0.1μmまで絞ることができる。 PIXEのほうが電子線を照射した場合よりも、バックグラウンドとなる連続X線が小さいため、検出感度が高い。 (ja)
- PIXE, een acroniem van het Engelse Particle Induced X-ray Emission of ook Proton Induced X-ray Emission, is een nucleaire analysetechniek waarbij men elementen en isotopen identificeert door een materiaal met hoogenergetische geladen deeltjes te beschieten en de geproduceerde röntgenstraling te analyseren. De gebruikte deeltjes zijn vaak protonen. Wanneer een proton een atoom raakt, kan het gebeuren dat een elektron uit een van de onderste schillen uit het atoom wordt geslagen. Het ontstane "gat" zal zeer snel worden opgevuld door een van de elektronen uit de hogere schillen, die welgedefinieerde energieverschillen hebben met de schil waar het elektron uit is geslagen. Deze energie wordt bij dit verval uitgezonden als elektromagnetische straling die in dit geval doorgaans röntgenstraling is. Men kan vervolgens de energie van de vrijkomende straling meten en uit het spectrum daarvan afleiden wat het beschoten materiaal is geweest: iedere isotoop heeft een eigen spectrum van karakteristieke straling. De techniek is niet-destructief: hoewel de inkomende protonen ook kernreacties kunnen aangaan, is de schade doorgaans zo gering dat deze niet van belang is. Het te analyseren monster wordt vaak in een vacuüm geplaatst, maar metingen bij atmosferische druk zijn ook mogelijk. De techniek wordt daarom vaak gebruikt bij kunstvoorwerpen of in andere gevallen waarin de monsters niet of moeilijk vervangbaar zijn. In tegenstelling tot de meeste chemische technieken of technieken als massaspectrometrie hoeft men niet een deel van het monster op te offeren om het te kunnen analyseren. Het is mogelijk de protonenbundel zodanig nauwkeurig te richten dat deze slechts op een zeer klein en nauwkeurig te bepalen deel van het monster terechtkomt. Met deze zogeheten microPIXE-techniek kan men ook een scan maken van de plaatselijke samenstelling van het materiaal. De gebruikte protonenbundel kan worden geproduceerd door een cyclotron, maar vaak wordt een lineaire versneller zoals een pelletron of een gebruikt. (nl)
- Particle-induced X-ray emission ou proton-induced X-ray emission (PIXE) é uma técnica utilizada para caracterizar os elementos químicos de um material ou amostra. Quando um material é irradiado com um feixe iônico ocorre uma interação atômica e como consequência, o material emite um fóton característico com comprimento de onda na região do espectro eletromagnético dos Raios-X. A técnica PIXE é um poderoso método de caracterização elementar não destrutivo usado rotineiramente por físicos, geologistas, arqueólogos, restauradores de obras de artes dentre outros profissionais, inclusive podendo ser usado para fornecer respostas que vão desde como está a qualidade do ar que respiramos, até sobre a procedência, datação e autenticidade de uma obra de arte. A técnica foi proposta inicialmente em 1970 por Sven Johansson da Universidade de Lund na Suécia e desenvolvida com seus colegas Roland Akselsson e Thomas B. Johansson. Recentemente foi desenvolvida uma extensão da técnica usando feixes de diâmetros da ordem de 1μm dando uma capacidade de análises microscópicas. Essa técnica chamada de microPIXE, pode ser utilizada para determinar a distribuição de elementos traços em uma grande variedade de amostras. Uma técnica correlata chamada PIGE (particle-induced gamma-ray emission) pode ser utilizada para detectar alguns elementos mais leves. (pt)
|
| dbo:wikiPageExternalLink
| |
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 8236 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| dcterms:subject
| |
| gold:hypernym
| |
| rdf:type
| |
| rdfs:comment
|
- 粒子線励起X線分析（りゅうしせんれいきエックスせんぶんせき、PIXE、Particle Induced X-ray Emission）とは、物質にイオンビームを照射して発生した特性X線を検出し、元素分析をする手法。 入射イオンとしては、陽子ビームが一般的に用いられる。ビーム径は2μm程度であるが、エネルギーが100eV以下では電界を用いることで0.1μmまで絞ることができる。 PIXEのほうが電子線を照射した場合よりも、バックグラウンドとなる連続X線が小さいため、検出感度が高い。 (ja)
- Die Abkürzung PIXE steht für Partikel-induzierte Röntgenemission bzw. Proton-induzierte Röntgenemission (Particle-Induced X-ray Emission bzw. Proton Induced X-ray Emission), und ist eine verbreitete Methode der Ionenstrahlanalytik. Die Methode selbst ist für schwere Elemente geeignet (Ordnungszahlen Z > 12…20) und hat im Vergleich zu anderen Röntgenmethoden einen deutlich geringeren Bremsstrahlungsuntergrund. Dadurch ist es auch möglich, Spurenelemente zu analysieren. (de)
- La Sonde nucléaire PIXE est un instrument de physique où un faisceau de protons accélérés à plusieurs MeV, est produit et utilisé pour mettre en œuvre une technique d'analyse appelée « émission de photons X induite par particules » (en anglais PIXE, pour Particle-Induced X-ray Emission ou Proton-Induced X-ray Emission). Cette technique est utilisée pour déterminer la composition « élémentaire » (au sens d'élément chimique) d'un échantillon. Quand un matériau est exposé à un faisceau d'ions, ses interactions atomiques donnent naissance à un rayonnement électromagnétique dont la longueur d'onde de chaque photon, qui se trouve dans la gamme des rayons X, est propre à l'élément chimique de l'atome où a été généré le photon X. L'un des avantages de la technique PIXE par rapport à d'autres techn (fr)
- Particle-induced X-ray emission or proton-induced X-ray emission (PIXE) is a technique used for determining the elemental composition of a material or a sample. When a material is exposed to an ion beam, atomic interactions occur that give off EM radiation of wavelengths in the x-ray part of the electromagnetic spectrum specific to an element. PIXE is a powerful yet non-destructive elemental analysis technique now used routinely by geologists, archaeologists, art conservators and others to help answer questions of provenance, dating and authenticity. (en)
- La tecnica PIXE, acronimo di particle induced X-ray emission, in italiano emissione a raggi X indotta da particelle, è una metodica analitica relativamente recente che fa parte della famiglia delle analisi con fascio ionico. È stata introdotta dall' (Lunds tekniska högskola) nel 1970. (it)
- PIXE, een acroniem van het Engelse Particle Induced X-ray Emission of ook Proton Induced X-ray Emission, is een nucleaire analysetechniek waarbij men elementen en isotopen identificeert door een materiaal met hoogenergetische geladen deeltjes te beschieten en de geproduceerde röntgenstraling te analyseren. Het is mogelijk de protonenbundel zodanig nauwkeurig te richten dat deze slechts op een zeer klein en nauwkeurig te bepalen deel van het monster terechtkomt. Met deze zogeheten microPIXE-techniek kan men ook een scan maken van de plaatselijke samenstelling van het materiaal. (nl)
- Particle-induced X-ray emission ou proton-induced X-ray emission (PIXE) é uma técnica utilizada para caracterizar os elementos químicos de um material ou amostra. Quando um material é irradiado com um feixe iônico ocorre uma interação atômica e como consequência, o material emite um fóton característico com comprimento de onda na região do espectro eletromagnético dos Raios-X. A técnica PIXE é um poderoso método de caracterização elementar não destrutivo usado rotineiramente por físicos, geologistas, arqueólogos, restauradores de obras de artes dentre outros profissionais, inclusive podendo ser usado para fornecer respostas que vão desde como está a qualidade do ar que respiramos, até sobre a procedência, datação e autenticidade de uma obra de arte. (pt)
|
| rdfs:label
|
- PIXE (de)
- Sonde nucléaire PIXE (fr)
- PIXE (it)
- 粒子線励起X線分析 (ja)
- Particle-induced X-ray emission (en)
- PIXE (nl)
- PIXE (pt)
|
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
