This HTML5 document contains 124 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dbthttp://dbpedia.org/resource/Template:
dbpedia-nohttp://no.dbpedia.org/resource/
dbpedia-svhttp://sv.dbpedia.org/resource/
wikipedia-enhttp://en.wikipedia.org/wiki/
dbpedia-bghttp://bg.dbpedia.org/resource/
dbpedia-fihttp://fi.dbpedia.org/resource/
dbrhttp://dbpedia.org/resource/
dbpedia-hrhttp://hr.dbpedia.org/resource/
dbpedia-arhttp://ar.dbpedia.org/resource/
n16http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/
dbpedia-frhttp://fr.dbpedia.org/resource/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n27http://d-nb.info/gnd/
n14http://dbpedia.org/resource/File:
dbphttp://dbpedia.org/property/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
dbpedia-ukhttp://uk.dbpedia.org/resource/
n28http://www.ndt.net/article/dir2011/papers/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
dbchttp://dbpedia.org/resource/Category:
dbpedia-dehttp://de.dbpedia.org/resource/
dbpedia-ruhttp://ru.dbpedia.org/resource/
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/
goldhttp://purl.org/linguistics/gold/
n21https://global.dbpedia.org/id/
n9http://hi.dbpedia.org/resource/
dbpedia-ithttp://it.dbpedia.org/resource/
dbpedia-cahttp://ca.dbpedia.org/resource/
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
dbpedia-nnhttp://nn.dbpedia.org/resource/
dbpedia-kohttp://ko.dbpedia.org/resource/
dbpedia-behttp://be.dbpedia.org/resource/
dbpedia-fahttp://fa.dbpedia.org/resource/
dbpedia-eshttp://es.dbpedia.org/resource/
freebasehttp://rdf.freebase.com/ns/
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#

Statements

Subject Item
dbr:X-ray_spectroscopy
rdf:type
owl:Thing
rdfs:label
Röntgenspektroskopie Espectroscòpia de raigs X Röntgenspektroskopi Espectroscopia de rayos X Spettroscopia a raggi X Рентгеноспектральный анализ مطيافية الأشعة السينية Рентгенівська спектроскопія X-ray spectroscopy 엑스선분광학 Spectroscopie des rayons X
rdfs:comment
Рентге́нівська спектроскопі́я — загальна назва декількох методів рентгенівського спектрального аналізу. На основі деяких з них проводять елементний аналіз речовини за її рентгенівськими спектрами. Якісний аналіз виконують за спектральним положенням характеристичних ліній у спектрі випромінювання досліджуваного зразка, його основа — закон Мозлі, що встановлює зв'язок між частотою характеристичного рентгенівського випромінювання елемента і його атомним номером; кількісний аналіз здійснюють за інтенсивностями цих ліній. Методом рентгенівського спектрального аналізу можуть бути визначені всі елементи з атомним номером Z > 11 (у деяких випадках і більш легкі). Поріг чутливості методу в більшості випадків 10-2-10-4%, тривалість — декілька хвилин (разом з підготовкою проби); метод не руйнує пробу. Röntgenspektroskopie (XRS für engl. X-Ray Spectroscopy) ist der Oberbegriff für viele unterschiedliche spektroskopische Messverfahren der Physik, die alle die Röntgenstrahlung anwenden: * Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS) * Röntgenemissionsspektroskopie (XES) * Photoelektronenspektroskopie (XPS) * Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) * Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) * Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDX) * Partikelinduzierte Röntgenspektroskopie (PIXE). Grob lässt sich der Röntgenstrahlungs-Teil des elektromagnetischen Spektrums weiter einteilen in: La espectroscopia de rayos X es un nombre genérico que abarca todas aquellas técnicas espectroscópicas utilizadas para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. La espectroscopia de rayos X tiene una amplia gama de aplicaciones, en especial en la determinación de estructuras cristalinas y muestras sólidas. La spettroscopia a raggi X (in inglese X-ray spectroscopy) è un insieme di tecniche basate sull'impiego di radiazione X. Le spettroscopie a raggi X sono: * (core level spectroscopy): * Spettroscopia EDX (energy dispersive X-ray analysis) * Spettroscopia XAS (X-ray absorption spectroscopy): XANES, EXAFS, NEXAFS * (X-ray emission spectroscopy) * Spettroscopia Auger (Auger electron spectroscopy, AES) * Spettroscopia fotoelettronica a raggi X (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS; electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) * Fluorescenza X: * Spettrofotometria XRF (X-ray fluorescence) Рентгеноспектра́льный ана́лиз — инструментальный метод элементного анализа, основанный на изучении спектра рентгеновских лучей, прошедших сквозь образец или испущенных им. La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. مطيافية الأشعة السينية هو مصطلح عام لعدة تقنيات طيفية لتوصيف المواد باستخدام إثارة الأشعة السينية. عندما يتم تحفيز إلكترون من الغلاف الداخلي للذرة بواسطة طاقة الفوتون، فإنه ينتقل إلى مستوى طاقة أعلى. عندما تعود إلى مستوى الطاقة المنخفض، تنبعث الطاقة التي اكتسبتها من قبل الإثارة كالفوتون الذي له طول موجي مميز للعنصر (يمكن أن يكون هناك عدة أطوال موجية مميزة لكل عنصر). ينتج تحليل طيف انبعاث الأشعة السينية نتائج نوعية عن التكوين الأولي للعينة. مقارنة طيف العينة مع أطياف عينات من تكوين معروف ينتج نتائج كمية. يمكن إثارة الذرات بواسطة حزمة عالية الطاقة من الجسيمات المشحونة مثل الإلكترونات (في المجهر الإلكتروني على سبيل المثال)، أو البروتونات أو شعاع من الأشعة السينية. هذه الطرق تمكن عناصر من الجدول الدوري بأكمله ليتم تحليلها، باستثناء (الهيدروجين، الهيليوم، الليثيوم). في المجهر الإلكتروني يقوم شع X-ray spectroscopy is a general term for several spectroscopic techniques for characterization of materials by using x-ray radiation. X선 분광학은 X선을 이용하여 물질의 전자 구조를 결정하는 여러 분광학 기술을 통합하여 가리키는 말이다. L'espectroscòpia de raigs X (en anglès: X-ray spectroscopy) és un terme que agrupa diverses tècniques d'espectroscòpia per caracteritzar materials usant l'excitació dels raigs X. Röntgenspektroskopi omfattar en mängd olika spektroskopiska mättekniker som har gemensamt att röntgenstrålning används för att analysera ett materialprov. Röntgenstrålningsområdet indelas i minst två energi- eller våglängdsområden (gränserna är dock inte särskilt skarpa): mjukröntgenstrålning (under cirka 10 keV) och hårdröntgenstrålning (över cirka 10 keV).
foaf:depiction
n16:Bragg_X-ray_spectrometer,_England_Wellcome_L0059139.jpg n16:X-ray_spectroscopy_Goniometer.jpg n16:Molybdenum_specimen_chart.jpg
dcterms:subject
dbc:X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageID
1063456
dbo:wikiPageRevisionID
1084151425
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:X-ray dbc:X-ray_spectroscopy dbr:Compton_scattering dbr:X-Ray_Spectrometry_(journal) dbr:PIXE dbr:Norelco dbr:Resonant_inelastic_X-ray_scattering n14:Bragg_X-ray_spectrometer,_England_Wellcome_L0059139.jpg dbr:Auger_electron_spectroscopy dbr:Cathode_ray_tube dbr:Electrons dbr:Soft_X-ray dbr:Electronvolt dbr:Spectroscopy dbr:External_total_reflection dbr:Emission_spectrum dbr:William_Henry_Bragg dbr:Radius dbr:Angle_of_incidence_(optics) dbr:Scattering_process dbr:Photoelectric_effect dbr:Photomultiplier_tube dbr:Binding_energy dbr:X-ray_tube dbr:Raman_spectroscopy dbr:Electron_microscope dbr:Henry_Augustus_Rowland dbr:Specularly_reflected dbr:X-ray_fluorescence dbr:Synchrotron dbr:X-ray_magnetic_circular_dichroism dbr:Sensitivity_and_specificity dbr:Bragg's_law dbr:Figure_of_merit dbr:William_Lawrence_Bragg dbr:Goniometer dbr:Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:Spectral_resolution dbr:Electron_microscopy dbr:Electron_configuration dbr:Single_crystal dbr:Microprobe dbr:Electron_microscopes dbr:Diffraction_grating dbr:Wavelength_dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:Crystal_field_excitations dbr:X-ray_absorption_spectroscopy
dbo:wikiPageExternalLink
n28:we21.pdf
owl:sameAs
n9:एक्स-किरण_स्पेक्ट्रमिकी dbpedia-no:Røntgenspektroskopi dbpedia-bg:Рентгенова_спектроскопия dbpedia-ru:Рентгеноспектральный_анализ freebase:m.042s82 dbpedia-fi:Röntgenspektroskopia dbpedia-it:Spettroscopia_a_raggi_X n21:53tkG dbpedia-hr:Rendgenska_spektroskopija dbpedia-ko:엑스선분광학 dbpedia-sv:Röntgenspektroskopi dbpedia-de:Röntgenspektroskopie dbpedia-ca:Espectroscòpia_de_raigs_X n27:4050331-8 dbpedia-nn:Røntgenspektroskopi dbpedia-fa:طیف‌بینی_پرتو_ایکس dbpedia-ar:مطيافية_الأشعة_السينية dbpedia-es:Espectroscopia_de_rayos_X dbpedia-be:Рэнтгенаспектральны_аналіз dbpedia-fr:Spectroscopie_des_rayons_X wikidata:Q901775 dbpedia-uk:Рентгенівська_спектроскопія
dbp:wikiPageUsesTemplate
dbt:Cn dbt:Main dbt:Redirect dbt:BranchesofSpectroscopy dbt:Condensed_matter_experiments dbt:Short_description dbt:Authority_control dbt:Reflist dbt:Refimprove
dbo:thumbnail
n16:Bragg_X-ray_spectrometer,_England_Wellcome_L0059139.jpg?width=300
dbo:abstract
L'espectroscòpia de raigs X (en anglès: X-ray spectroscopy) és un terme que agrupa diverses tècniques d'espectroscòpia per caracteritzar materials usant l'excitació dels raigs X. X-ray spectroscopy is a general term for several spectroscopic techniques for characterization of materials by using x-ray radiation. La espectroscopia de rayos X es un nombre genérico que abarca todas aquellas técnicas espectroscópicas utilizadas para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. La espectroscopia de rayos X tiene una amplia gama de aplicaciones, en especial en la determinación de estructuras cristalinas y muestras sólidas. Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética con una energía muy superior a la radiación ultravioleta que permite su absorción por los . Los rayos X son especialmente capaces de penetrar estructuras cristalinas: su longitud de onda, de un orden de magnitud igual al de las distancias interatómicas. Рентге́нівська спектроскопі́я — загальна назва декількох методів рентгенівського спектрального аналізу. На основі деяких з них проводять елементний аналіз речовини за її рентгенівськими спектрами. Якісний аналіз виконують за спектральним положенням характеристичних ліній у спектрі випромінювання досліджуваного зразка, його основа — закон Мозлі, що встановлює зв'язок між частотою характеристичного рентгенівського випромінювання елемента і його атомним номером; кількісний аналіз здійснюють за інтенсивностями цих ліній. Методом рентгенівського спектрального аналізу можуть бути визначені всі елементи з атомним номером Z > 11 (у деяких випадках і більш легкі). Поріг чутливості методу в більшості випадків 10-2-10-4%, тривалість — декілька хвилин (разом з підготовкою проби); метод не руйнує пробу. Рентгеноспектра́льный ана́лиз — инструментальный метод элементного анализа, основанный на изучении спектра рентгеновских лучей, прошедших сквозь образец или испущенных им. X선 분광학은 X선을 이용하여 물질의 전자 구조를 결정하는 여러 분광학 기술을 통합하여 가리키는 말이다. La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. مطيافية الأشعة السينية هو مصطلح عام لعدة تقنيات طيفية لتوصيف المواد باستخدام إثارة الأشعة السينية. عندما يتم تحفيز إلكترون من الغلاف الداخلي للذرة بواسطة طاقة الفوتون، فإنه ينتقل إلى مستوى طاقة أعلى. عندما تعود إلى مستوى الطاقة المنخفض، تنبعث الطاقة التي اكتسبتها من قبل الإثارة كالفوتون الذي له طول موجي مميز للعنصر (يمكن أن يكون هناك عدة أطوال موجية مميزة لكل عنصر). ينتج تحليل طيف انبعاث الأشعة السينية نتائج نوعية عن التكوين الأولي للعينة. مقارنة طيف العينة مع أطياف عينات من تكوين معروف ينتج نتائج كمية. يمكن إثارة الذرات بواسطة حزمة عالية الطاقة من الجسيمات المشحونة مثل الإلكترونات (في المجهر الإلكتروني على سبيل المثال)، أو البروتونات أو شعاع من الأشعة السينية. هذه الطرق تمكن عناصر من الجدول الدوري بأكمله ليتم تحليلها، باستثناء (الهيدروجين، الهيليوم، الليثيوم). في المجهر الإلكتروني يقوم شعاع الإلكترون بإثارة الأشعة السينية. هناك طريقتان رئيسيتان لتحليل أطياف الأشعة السينية المميزة: التحليل الطيفي للأشعة السينية المشتتة للطاقة وطيف الأشعة السينية المتشتتة الطول الموجي. في ناقل الحركة بالأشعة السينية، يتم التقاط التركيب الذري المكافئ على أساس الصورة الكهربائية وآثار كومبتون. Röntgenspektroskopie (XRS für engl. X-Ray Spectroscopy) ist der Oberbegriff für viele unterschiedliche spektroskopische Messverfahren der Physik, die alle die Röntgenstrahlung anwenden: * Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS) * Röntgenemissionsspektroskopie (XES) * Photoelektronenspektroskopie (XPS) * Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) * Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) * Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDX) * Partikelinduzierte Röntgenspektroskopie (PIXE). Grob lässt sich der Röntgenstrahlungs-Teil des elektromagnetischen Spektrums weiter einteilen in: * die harte Röntgenstrahlung (über ca. 10 keV) * die weiche Röntgenstrahlung (unter ca. 10 keV). La spettroscopia a raggi X (in inglese X-ray spectroscopy) è un insieme di tecniche basate sull'impiego di radiazione X. Le spettroscopie a raggi X sono: * (core level spectroscopy): * Spettroscopia EDX (energy dispersive X-ray analysis) * Spettroscopia XAS (X-ray absorption spectroscopy): XANES, EXAFS, NEXAFS * (X-ray emission spectroscopy) * Spettroscopia Auger (Auger electron spectroscopy, AES) * Spettroscopia fotoelettronica a raggi X (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS; electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) * Fluorescenza X: * Spettrofotometria XRF (X-ray fluorescence) Röntgenspektroskopi omfattar en mängd olika spektroskopiska mättekniker som har gemensamt att röntgenstrålning används för att analysera ett materialprov. Röntgenstrålningsområdet indelas i minst två energi- eller våglängdsområden (gränserna är dock inte särskilt skarpa): mjukröntgenstrålning (under cirka 10 keV) och hårdröntgenstrålning (över cirka 10 keV).
gold:hypernym
dbr:Name
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-en:X-ray_spectroscopy?oldid=1084151425&ns=0
dbo:wikiPageLength
18428
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-en:X-ray_spectroscopy