This HTML5 document contains 84 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

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Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
yago-reshttp://yago-knowledge.org/resource/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
n9http://www.tttc-vts.org/
n25http://www.itctestweek.org/
n18http://www.ieee-ets.org/
n16https://global.dbpedia.org/id/
yagohttp://dbpedia.org/class/yago/
dbthttp://dbpedia.org/resource/Template:
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
dbpedia-svhttp://sv.dbpedia.org/resource/
freebasehttp://rdf.freebase.com/ns/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
dbpedia-ithttp://it.dbpedia.org/resource/
dbpedia-zhhttp://zh.dbpedia.org/resource/
wikipedia-enhttp://en.wikipedia.org/wiki/
dbphttp://dbpedia.org/property/
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
n19http://www.date-conference.com/
dbchttp://dbpedia.org/resource/Category:
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/
goldhttp://purl.org/linguistics/gold/
dbrhttp://dbpedia.org/resource/

Statements

Subject Item
dbr:Automatic_test_pattern_generation
rdf:type
dbo:Company yago:Artifact100021939 yago:PhysicalEntity100001930 yago:Instrumentality103575240 yago:Circuit103033362 yago:Object100002684 yago:Whole100003553 yago:WikicatElectronicCircuits yago:ElectricalDevice103269401 yago:Device103183080
rdfs:label
ATPG Generazione di programmi di prova automatici Automatic test pattern generation ATPG
rdfs:comment
自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。 超大型積體電路的测试平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。針對组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。 La generazione automatica di vettori di collaudo (ATPG) è un metodo e una tecnologia, utilizzata per trovare una sequenza di collaudo che, quando applicata ad un circuito digitale, dà la possibilità ai tester di distinguere fra il comportamento del circuito corretto e non corretto determinato da anomalie funzionali. Le procedure generate sono usate per collaudare i dispositivi a semiconduttore dopo la produzione, ed in taluni casi per assistere alla determinazione delle cause di malfunzionamento. L'efficacia dell'ATPG è misurata dall'ammontare dei difetti modellati, o , che sono rivelati ed il numero delle procedure generate. Quest'ammontare indica genericamente la qualità del controllo (più elevata con maggiore rivelazione di guasti) e il tempo di esecuzione dei collaudi (più elevato con Automatic Test Pattern Generation är ett sätt att automatisera testmönstergenereringen i tillverkningen av en integrerad krets. Man använder testmönster för att undersöka om en krets har fått defekter vid framställningen, defekter som orsakar fel funktion eller ingen funktion alls. ATPG (acronym for both Automatic Test Pattern Generation and Automatic Test Pattern Generator) is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables automatic test equipment to distinguish between the correct circuit behavior and the faulty circuit behavior caused by defects. The generated patterns are used to test semiconductor devices after manufacture, or to assist with determining the cause of failure (failure analysis). The effectiveness of ATPG is measured by the number of modeled defects, or fault models, detectable and by the number of generated patterns. These metrics generally indicate test quality (higher with more fault detections) and test application time (higher with more patterns). ATPG
dcterms:subject
dbc:Electronic_circuit_verification
dbo:wikiPageID
374448
dbo:wikiPageRevisionID
1118453547
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Literal_proposition dbr:Boolean_satisfiability dbr:State_space dbr:Prabhu_Goel dbr:Test_quality dbr:Scan_chain dbr:Boundary_scan dbr:Controllability dbr:Design_For_Test dbr:Sequential_logic dbr:Observability dbr:Built-in_self-test dbr:FAN_algorithm dbr:Logic_simulation dbr:Test_vector dbr:Fault_coverage dbr:Boolean_difference dbr:Stuck-at_fault dbr:Electronic_design_automation dbr:P_=_NP_problem dbr:Combinational_logic dbr:Fault_model dbr:Automatic_test_equipment dbr:JTAG dbr:NP-complete dbr:Failure_analysis dbr:Design_for_test dbc:Electronic_circuit_verification dbr:Algorithm dbr:Fault_models dbr:Suresh_kumar_Devanathan dbr:Sequential_circuit dbr:VHSIC dbr:Pseudorandom dbr:Very-large-scale_integration dbr:Digital_circuit dbr:Boolean_satisfiability_problem dbr:ASIC dbr:Partial_scan
dbo:wikiPageExternalLink
n9: n18: n19: n25:
owl:sameAs
dbpedia-sv:ATPG dbpedia-it:Generazione_di_programmi_di_prova_automatici wikidata:Q837455 dbpedia-zh:ATPG n16:4zcgY freebase:m.020vkj yago-res:Automatic_test_pattern_generation
dbp:wikiPageUsesTemplate
dbt:Cite_book dbt:ISBN dbt:Overline dbt:Citation_needed dbt:Main
dbo:abstract
ATPG (acronym for both Automatic Test Pattern Generation and Automatic Test Pattern Generator) is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables automatic test equipment to distinguish between the correct circuit behavior and the faulty circuit behavior caused by defects. The generated patterns are used to test semiconductor devices after manufacture, or to assist with determining the cause of failure (failure analysis). The effectiveness of ATPG is measured by the number of modeled defects, or fault models, detectable and by the number of generated patterns. These metrics generally indicate test quality (higher with more fault detections) and test application time (higher with more patterns). ATPG efficiency is another important consideration that is influenced by the fault model under consideration, the type of circuit under test (full scan, synchronous sequential, or asynchronous sequential), the level of abstraction used to represent the circuit under test (gate, register-transfer, switch), and the required test quality. La generazione automatica di vettori di collaudo (ATPG) è un metodo e una tecnologia, utilizzata per trovare una sequenza di collaudo che, quando applicata ad un circuito digitale, dà la possibilità ai tester di distinguere fra il comportamento del circuito corretto e non corretto determinato da anomalie funzionali. Le procedure generate sono usate per collaudare i dispositivi a semiconduttore dopo la produzione, ed in taluni casi per assistere alla determinazione delle cause di malfunzionamento. L'efficacia dell'ATPG è misurata dall'ammontare dei difetti modellati, o , che sono rivelati ed il numero delle procedure generate. Quest'ammontare indica genericamente la qualità del controllo (più elevata con maggiore rivelazione di guasti) e il tempo di esecuzione dei collaudi (più elevato con maggiori procedure). L'efficienza dell'ATPG è un altro fattore importante. È influenzata dal modello di guasto in esame, dal tipo del circuito in collaudo (con predisposizioni per il collaudo automatico, sequenziale sincrono, o sequenziale asincrono), dal grado di astrazione utilizzato per rappresentare il circuito in esame (porte, registri a transistor, interruttori), e la copertura di qualità di collaudo richiesta. Automatic Test Pattern Generation är ett sätt att automatisera testmönstergenereringen i tillverkningen av en integrerad krets. Man använder testmönster för att undersöka om en krets har fått defekter vid framställningen, defekter som orsakar fel funktion eller ingen funktion alls. Eftersom det för varje grind i kretsen behövs en detektering av ett flertal olika fel som kan uppstå och eftersom grindens utgångar och/eller ingångar ofta inte är direkt observerbara är det ett komplext och oöverskådligt problem att lösa. ATPG verktyg används för att skapa mönster som kontrollerar alla grindar med alla fel (om så är möjligt, det är det inte alltid). 自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。 超大型積體電路的测试平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。針對组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。
gold:hypernym
dbr:Technology
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-en:Automatic_test_pattern_generation?oldid=1118453547&ns=0
dbo:wikiPageLength
12979
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-en:Automatic_test_pattern_generation