| dbo:abstract
|
- مجهر إلكتروني نافذ ماسح (بالإنجليزية:(scanning transmission electron microscope (STEM) هو نوع من المجاهر الإلكترونية النافذة TEM حيث يتخلل الشعاع الإلكتروني العينة التي لا بد وأن تكون رقيقة جدا. ويختلف المجهر الإلكتروني النافذ الماسح عن المجهر الإلكتروني النافذ المعتاد CTEM في أنه يركز فيض الإلكترونات على بقعة صغيرة من العينة ويصورها ثم ينتقل إلى بقعة أخرى حتى يصور جميع البقع المشكلة للعينة.
* تعود التسمية «نافذ» إلى أن المجهر يرى داخل العينة حيث يمر الشعاع الإلكتروني خلالها. لذلك يجب أن يكون سمك العينة قليل.
* وتعود التسمية «ماسح» إلى أن المجهر يلتقط صورة بقعة صغيرة من العينة، قم ينتقل إلى باقي النقط الأخرى ويقوم بتصويرها نقطة تلو نقطة. بذلك فلا يوجد في المجهر صورة كاملة للعينة. ولكن يقوم حاسوب بتجميع النقط التي قام المجهر بتصويرها ويرتبها فتظهر الصورة كانلة على شاشة (حاسوب). (ar)
- Un microscopi electrònic de transmissió d’escaneig (STEM, de l'anglès scanning transmission electron microscope) és un tipus de microscopi electrònic de transmissió o TEM amb característiques típiques de microscopis electrònics de rastreig o SEM. Com passa amb un microscopi electrònic de transmissió convencional (CTEM), les imatges estan formades per electrons que passen a través d'una mostra prima. No obstant això, a diferència de CTEM, en la microscopia STEM el feix d'electrons està enfocat en un punt amb una mida típica de 0,05 - 0,2 nm, que s'escaneja sobre la mostra de manera que s'il·lumini en cada punt amb el feix paral·lel a l'eix òptic del microscopi. L'escaneig amb el feix a través de la mostra fa que la tècnica STEM sigui adequada per a tècniques analítiques com ara el mapatge espectroscòpic mitjançant espectroscòpia de raigs X d’energia dispersiva (EDX) o l'espectroscòpia per pèrdua d’energia d'electrons (EELS). Aquests senyals es poden obtenir simultàniament, permetent una correlació directa entre les imatges obtingudes i les dades espectroscòpiques. Normalment els aparells STEM són microscopis electrònics de transmissió, o microscopis electrònics de rastreig convencionals equipats amb bobines d'exploració addicionals, així com amb els detectors i circuits necessaris, que li permeten canviar entre funcionar com a STEM o com a CTEM; no obstant, també es fabriquen STEM dedicats. Els microscopis electrònics de transmissió d’escaneig d’alta resolució requereixen ambients ambients excepcionalment estables. Per obtenir imatges de resolució atòmica amb STEM, els nivells de vibració, les fluctuacions de temperatura, les ones electromagnètiques i les ones acústiques han d'estar controlats en la sala on s'allotja el microscopi. (ca)
- Ein Rastertransmissionselektronenmikroskop (RTEM; englisch scanning transmission electron microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert. Als Bildsignal werden in der Regel die durch die Probe transmittierten Primärelektronen benutzt, deren Strom synchron zur Position des Elektronenstrahles gemessen wird. Der Bildentstehung nach handelt es sich um eine Unterform des Rasterelektronenmikroskops (REM), der Untersuchungsgeometrie nach um ein Transmissionsmikroskop. An die Proben werden die gleichen Anforderungen bezüglich Durchstrahlbarkeit gestellt wie beim Transmissionselektronenmikroskop (TEM; zur Abgrenzung oft auch als conventional transmission electron microscope, CTEM, bezeichnet). Es werden ähnliche Beschleunigungsspannungen wie beim TEM benutzt, nämlich etwa 100 bis 300 kV.Als dediziertes Rastertransmissionsmikroskop (engl. dedicated STEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, das ausschließlich oder vorrangig zum Betrieb als STEM entworfen ist. Aber auch viele moderne TEM erlauben den Betrieb als STEM, diese Geräte werden daher oft als TEM/STEM bezeichnet. Das erste Rasterelektronenmikroskop wurde 1938 von Manfred von Ardenne entwickelt und gebaut. Praktisch genutzt für die Anwendung in Transmission wurde die Technik allerdings erst nach der Einführung der Feldemissionskathode als Strahlerzeuger 1964 durch Albert Crewe. Das Rastertransmissionselektronenmikroskop darf nicht mit dem Rastertunnelmikroskop verwechselt werden, bei dem kein elektronenoptisch erzeugter Elektronenstrahl benutzt, sondern der quantenmechanisch erklärbare Tunnelstrom zwischen untersuchtem Objekt und einer mechanisch geführten leitfähigen Spitze gemessen wird und das zu den sogenannten Rastersondenmikroskopen (engl. scanning probe microscopes, SPM) gehört. (de)
- Un microscope électronique en transmission à balayage (METB ou en anglais STEM pour scanning transmission electron microscope) est un type de microscope électronique dont le principe de fonctionnement allie certains aspects du microscope électronique à balayage et du microscope électronique en transmission. Une source d'électrons focalise un faisceau d'électrons qui traverse l'échantillon. Un système de lentilles magnétiques permet à ce faisceau de balayer la surface de l'échantillon à analyser. (fr)
- A scanning transmission electron microscope (STEM) is a type of transmission electron microscope (TEM). Pronunciation is [stɛm] or [ɛsti:i:ɛm]. As with a conventional transmission electron microscope (CTEM), images are formed by electrons passing through a sufficiently thin specimen. However, unlike CTEM, in STEM the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0.05 – 0.2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes STEM suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy, or electron energy loss spectroscopy (EELS). These signals can be obtained simultaneously, allowing direct correlation of images and spectroscopic data. A typical STEM is a conventional transmission electron microscope equipped with additional scanning coils, detectors, and necessary circuitry, which allows it to switch between operating as a STEM, or a CTEM; however, dedicated STEMs are also manufactured. High-resolution scanning transmission electron microscopes require exceptionally stable room environments. In order to obtain atomic resolution images in STEM, the level of vibration, temperature fluctuations, electromagnetic waves, and acoustic waves must be limited in the room housing the microscope. (en)
- 走査型透過電子顕微鏡（そうさがたとうかでんしけんびきょう、Scanning Transmission Electron Microscope、STEM)）とは透過型電子顕微鏡の１つ。集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。 微少領域の電子回折や元素分析が可能。また空間分解能は一般的に、収束した電子線のプローブ径で決まる。 (ja)
- Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy STEM (ang. Scanning transmission electron microscopy) - zasada działania mikroskopu jest analogiczna do zasad panujących przy obserwacji próbki pod SEM, tyle, że detektor znajduje się pod transparentną próbką (cienka folia). (pl)
- Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ — сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, англ. scanning transmission electron microscope, STEM) — вид просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование. Обычно ПРЭМ — это традиционный просвечивающий электронный микроскоп, оснащенный дополнительными сканирующими линзами, детекторами и необходимыми схемами, однако также существуют и специализированные ПРЭМ приборы. (ru)
- Um microscópio eletrônico de varredura por transmissão (MEVT, ou STEM, do inglês scanning transmission electron microscope) é um tipo de microscópio eletrônico de transmissão (MET). Como com qualquer dispositivo de iluminação por transmissão, os elétrons passam através de um espécime suficientemente fino. Entretanto, o MEVT é distinto dos microscópios eletrônicos de transmissão convencional (METC) por focar o feixe de elétrons em uma região estreita, que é varrido sobre a amostra em um mapeamento de pontos (a varredura). A varredura do feixe através da amostra faz os microscópios adequados para técnicas de análise tais como mapeamento por espectroscopia por energia dispersiva de raios X (EDX, energy-dispersive X-ray spectroscopy), espectroscopia de perda de energia de elétrons (EELS, electron energy loss spectroscopy) e imagem de campo escuro anular (ADF, annular dark-field imaging). Estes sinais podem ser obtidos simultaneamente, permitindo correlação direta entre imagem e dados quantitativos. Pelo uso de um MEVT e um detector de alto ângulo, é possível formar imagens de resolução atõmica onde o contraste é diretamente relacionado ao número atômico (imagem de contraste z). A imagem diretamente interpretável pelo contraste z faz as imagens geradas por MEVT com um detector de alto ângulo atrativas. Isto se dá em contraste à técnica de microscopia eletrônica de alta resolução convencional, a qual usa contraste de fase, e consequentemente produz resultados que necessitam interpretação por simulação. (pt)
|
| rdfs:comment
|
- Un microscope électronique en transmission à balayage (METB ou en anglais STEM pour scanning transmission electron microscope) est un type de microscope électronique dont le principe de fonctionnement allie certains aspects du microscope électronique à balayage et du microscope électronique en transmission. Une source d'électrons focalise un faisceau d'électrons qui traverse l'échantillon. Un système de lentilles magnétiques permet à ce faisceau de balayer la surface de l'échantillon à analyser. (fr)
- 走査型透過電子顕微鏡（そうさがたとうかでんしけんびきょう、Scanning Transmission Electron Microscope、STEM)）とは透過型電子顕微鏡の１つ。集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。 微少領域の電子回折や元素分析が可能。また空間分解能は一般的に、収束した電子線のプローブ径で決まる。 (ja)
- Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy STEM (ang. Scanning transmission electron microscopy) - zasada działania mikroskopu jest analogiczna do zasad panujących przy obserwacji próbki pod SEM, tyle, że detektor znajduje się pod transparentną próbką (cienka folia). (pl)
- مجهر إلكتروني نافذ ماسح (بالإنجليزية:(scanning transmission electron microscope (STEM) هو نوع من المجاهر الإلكترونية النافذة TEM حيث يتخلل الشعاع الإلكتروني العينة التي لا بد وأن تكون رقيقة جدا. ويختلف المجهر الإلكتروني النافذ الماسح عن المجهر الإلكتروني النافذ المعتاد CTEM في أنه يركز فيض الإلكترونات على بقعة صغيرة من العينة ويصورها ثم ينتقل إلى بقعة أخرى حتى يصور جميع البقع المشكلة للعينة. (ar)
- Un microscopi electrònic de transmissió d’escaneig (STEM, de l'anglès scanning transmission electron microscope) és un tipus de microscopi electrònic de transmissió o TEM amb característiques típiques de microscopis electrònics de rastreig o SEM. Com passa amb un microscopi electrònic de transmissió convencional (CTEM), les imatges estan formades per electrons que passen a través d'una mostra prima. No obstant això, a diferència de CTEM, en la microscopia STEM el feix d'electrons està enfocat en un punt amb una mida típica de 0,05 - 0,2 nm, que s'escaneja sobre la mostra de manera que s'il·lumini en cada punt amb el feix paral·lel a l'eix òptic del microscopi. L'escaneig amb el feix a través de la mostra fa que la tècnica STEM sigui adequada per a tècniques analítiques com ara el mapatge e (ca)
- Ein Rastertransmissionselektronenmikroskop (RTEM; englisch scanning transmission electron microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert. Als Bildsignal werden in der Regel die durch die Probe transmittierten Primärelektronen benutzt, deren Strom synchron zur Position des Elektronenstrahles gemessen wird. Der Bildentstehung nach handelt es sich um eine Unterform des Rasterelektronenmikroskops (REM), der Untersuchungsgeometrie nach um ein Transmissionsmikroskop. An die Proben werden die gleichen Anforderungen bezüglich Durchstrahlbarkeit gestellt wie beim Transmissionselektronenmikroskop (TEM; zur Abgrenzung oft auch als conventional transmission electron microscope, CTEM, bez (de)
- A scanning transmission electron microscope (STEM) is a type of transmission electron microscope (TEM). Pronunciation is [stɛm] or [ɛsti:i:ɛm]. As with a conventional transmission electron microscope (CTEM), images are formed by electrons passing through a sufficiently thin specimen. However, unlike CTEM, in STEM the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0.05 – 0.2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes STEM suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy, or electron en (en)
- Um microscópio eletrônico de varredura por transmissão (MEVT, ou STEM, do inglês scanning transmission electron microscope) é um tipo de microscópio eletrônico de transmissão (MET). Como com qualquer dispositivo de iluminação por transmissão, os elétrons passam através de um espécime suficientemente fino. Entretanto, o MEVT é distinto dos microscópios eletrônicos de transmissão convencional (METC) por focar o feixe de elétrons em uma região estreita, que é varrido sobre a amostra em um mapeamento de pontos (a varredura). (pt)
- Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ — сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, англ. scanning transmission electron microscope, STEM) — вид просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование. (ru)
|
