| dbo:abstract
|
- Scanning capacitance microscopy (SCM) is a variety of scanning probe microscopy in which a narrow probe electrode is positioned in contact or close proximity of a sample's surface and scanned. SCM characterizes the surface of the sample using information obtained from the change in electrostatic capacitance between the surface and the probe. (en)
- 走査型静電容量顕微鏡法（そうさがたせいでんようりょうけんびきょうほう、英語: Scanning Capacitance Microscopy: SCM）は、顕微鏡法の一手法。 (ja)
- Skaningowy mikroskop pojemnościowy (z ang. SCM - Scanning Capacitance Microscopy) – obrazuje zmiany przestrzenne w pojemności elektrycznej badanej próbki. Pomiędzy badaną powierzchnią a sondą skanującą indukowane jest napięcie elektryczne. Dźwigienka bezkontaktowo przesuwa się nad próbką, układ elektroniczny umieszczony na jej końcu wykrywa zmiany stałej dielektrycznej ośrodka, znajdującego się pomiędzy sondą a próbką. (pl)
|
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 6788 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| dcterms:subject
| |
| gold:hypernym
| |
| rdf:type
| |
| rdfs:comment
|
- Scanning capacitance microscopy (SCM) is a variety of scanning probe microscopy in which a narrow probe electrode is positioned in contact or close proximity of a sample's surface and scanned. SCM characterizes the surface of the sample using information obtained from the change in electrostatic capacitance between the surface and the probe. (en)
- 走査型静電容量顕微鏡法（そうさがたせいでんようりょうけんびきょうほう、英語: Scanning Capacitance Microscopy: SCM）は、顕微鏡法の一手法。 (ja)
- Skaningowy mikroskop pojemnościowy (z ang. SCM - Scanning Capacitance Microscopy) – obrazuje zmiany przestrzenne w pojemności elektrycznej badanej próbki. Pomiędzy badaną powierzchnią a sondą skanującą indukowane jest napięcie elektryczne. Dźwigienka bezkontaktowo przesuwa się nad próbką, układ elektroniczny umieszczony na jej końcu wykrywa zmiany stałej dielektrycznej ośrodka, znajdującego się pomiędzy sondą a próbką. (pl)
|
| rdfs:label
|
- 走査型静電容量顕微鏡法 (ja)
- Scanning capacitance microscopy (en)
- Skaningowy mikroskop pojemnościowy (pl)
|
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageDisambiguates
of | |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
