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High-resolution transmission electron microscopy is an imaging mode of specialized transmission electron microscopes that allows for direct imaging of the atomic structure of samples. It is a powerful tool to study properties of materials on the atomic scale, such as semiconductors, metals, nanoparticles and sp2-bonded carbon (e.g., graphene, C nanotubes). While this term is often also used to refer to high resolution scanning transmission electron microscopy, mostly in high angle annular dark field mode, this article describes mainly the imaging of an object by recording the two-dimensional spatial wave amplitude distribution in the image plane, in analogy to a "classic" light microscope. For disambiguation, the technique is also often referred to as phase contrast transmission electron m

Property Value
dbo:abstract
  • المجهر الإلكتروني النافذ عالي الدقة (High-resolution transmission electron microscopy) الذي يرمز له (HRTEM) عبارة عن مجهر إلكتروني نافذ له القدرة على إظهار صور للبنى البلورية للعينات على المستوى الذري. بسبب دقته العالية فإنه يعد من الأجهزة التي لا يستغنى عنها لدراسة خصائص المواد البلورية على مستوى النانو مثل شبه الموصلات والفلزات. حالياً، أعلى دقة يمكن الوصول إليها تبلغ 0.8 أنغستروم أي 0.08 نانومتر. تماثل هذه الأبعاد ما هو موجود على المستوى الذري بحيث يمكن تصوير العيوب البلورية والذرات بحد ذاتها. بما أن البنى البلورية ثلاثية الأبعاد لذلك فإنه من الضروري أخذ عدة صور من عدة زوايا للبلورة وتجميعها إلى خريطة ثلاثية الأبعاد. تسمى هذه التقنية علم البلورات الإلكتروني electron crystallography. (ar)
  • Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (englisch high resolution transmission electron microscopy, HRTEM) ist ein TEM-Abbildungsmodus, der es erlaubt, die kristallographische Struktur einer Probe mit atomarer Auflösung abzubilden. Wegen seiner hohen Auflösung ist HRTEM ein weitverbreitetes Werkzeug zur Untersuchung von in kristallinen Materialien wie Halbleitern und Metallen. Zurzeit kann standardmäßig eine Auflösung von 0,8 Å (0,08 nm) erreicht werden. Um diese Auflösung mit dem TEM direkt nutzen zu können, werden Korrektoren für die sphärische Aberration eingesetzt. Durch die Entwicklung neuartiger Korrektoren, die neben der sphärischen Aberration auch die chromatische Aberration verringern, wird bald eine Auflösung von bis zu 0,5 Å nutzbar. In der HRTEM werden Objekte mit Dicken von wenigen Nanometern untersucht. Der Kontrast in HRTEM-Bildern wird deshalb im Wesentlichen aufgrund von Phasen- und nicht von Amplitudenunterschieden generiert. Phasenkontrast-Bilder können in HRTEM häufig nicht direkt interpretiert werden, da Aberrationen ebenfalls die Phase der Elektronen-Wellenfunktion modulieren und damit die Strukturdetails in der Abbildung verschmieren. (de)
  • La microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (en inglés, High-resolution transmission electron microscopy, o HRTEM) es una técnica para obtener imagen mediante el microscopio electrónico de transmisión (TEM) que permite la formación de imágenes de la estructura cristalográfica de una muestra en una escala atómica.​ Debido a su alta resolución es una valiosa herramienta ampliamente utilizada para el estudio de nanoestructuras de materiales cristalinos como los semiconductores y los metales. En la actualidad, por defecto, se alcanza una resolución de 0,8 Å (0,08 nm). Para utilizar esta resolución directamente con el TEM deben utilizarse correctores para la aberración esférica. A través del desarrollo de nuevos correctores, además de la aberración esférica y la aberración cromática, a veces se puede obtener hasta una resolución de 0,5 Å (0,05 nm ). A estas escalas pequeñas se pueden obtener imágenes, de átomos individuales y defectos cristalinos. Puesto que todas las estructuras cristalinas son 3-dimensional, se puede necesitar combinar varias vistas del cristal, tomadas desde ángulos diferentes, en un mapa 3D. Esta técnica se llama cristalografía de electrones. Una de las dificultades del HRTEM es que la formación de la imagen depende de contraste de fase y no generada por las diferencias de amplitud. No es siempre fácil interpretable como la imagen ha sido influida por las fuertes aberraciones de las lentes. Una aberración mayor es causada por el enfoque y el astigmatismo, que a menudo puede ser estimada a partir de la transformada de Fourier de la imagen HRTEM. (es)
  • High-resolution transmission electron microscopy is an imaging mode of specialized transmission electron microscopes that allows for direct imaging of the atomic structure of samples. It is a powerful tool to study properties of materials on the atomic scale, such as semiconductors, metals, nanoparticles and sp2-bonded carbon (e.g., graphene, C nanotubes). While this term is often also used to refer to high resolution scanning transmission electron microscopy, mostly in high angle annular dark field mode, this article describes mainly the imaging of an object by recording the two-dimensional spatial wave amplitude distribution in the image plane, in analogy to a "classic" light microscope. For disambiguation, the technique is also often referred to as phase contrast transmission electron microscopy. At present, the highest point resolution realised in phase contrast transmission electron microscopy is around 0.5 ångströms (0.050 nm). At these small scales, individual atoms of a crystal and its defects can be resolved. For 3-dimensional crystals, it may be necessary to combine several views, taken from different angles, into a 3D map. This technique is called electron crystallography. One of the difficulties with high resolution transmission electron microscopy is that image formation relies on phase contrast. In phase-contrast imaging, contrast is not intuitively interpretable, as the image is influenced by aberrations of the imaging lenses in the microscope. The largest contributions for uncorrected instruments typically come from defocus and astigmatism. The latter can be estimated from the so-called Thon ring pattern appearing in the Fourier transform modulus of an image of a thin amorphous film. (en)
  • Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (HRTEM, do inglês high-resolution transmission electron microscopy) é um modo de obtenção de imagens do microscópio eletrônico de transmissão (MET) que permite a obtenção de imagem da de uma amostra em uma escala atômica. Devido à sua alta resolução, é uma ferramenta valiosa para estudar as propriedades em nanoescala do material cristalino, como semicondutores e metais. Atualmente, a mais alta resolução obtida é 0,8 angstroms (0,08 nm) com microscópios como o OAM no . No andamento de pesquisa e desenvolvimento, tais como os esforços no âmbito da microscopia eletrônica de transmissão de aberração corrigida (TEAM, de Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) irão em breve levar a resolução do HRTEM a 0,5 Å. Nessas pequenas escalas, átomos individuais e defeitos cristalográficos podem ser observados. Dado que toda estrutura cristalina é tridimensional, pode ser necessário combinar vários pontos de vista do cristal, tomados de diferentes ângulos, em um mapeamento 3D. Esta técnica é chamada . (pt)
dbo:thumbnail
dbo:wikiPageExternalLink
dbo:wikiPageID
  • 4527733 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength
  • 19335 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID
  • 1121710247 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink
dbp:by
  • no (en)
dbp:onlinebooks
  • no (en)
dbp:wikiPageUsesTemplate
dcterms:subject
gold:hypernym
rdf:type
rdfs:comment
  • المجهر الإلكتروني النافذ عالي الدقة (High-resolution transmission electron microscopy) الذي يرمز له (HRTEM) عبارة عن مجهر إلكتروني نافذ له القدرة على إظهار صور للبنى البلورية للعينات على المستوى الذري. بسبب دقته العالية فإنه يعد من الأجهزة التي لا يستغنى عنها لدراسة خصائص المواد البلورية على مستوى النانو مثل شبه الموصلات والفلزات. حالياً، أعلى دقة يمكن الوصول إليها تبلغ 0.8 أنغستروم أي 0.08 نانومتر. تماثل هذه الأبعاد ما هو موجود على المستوى الذري بحيث يمكن تصوير العيوب البلورية والذرات بحد ذاتها. بما أن البنى البلورية ثلاثية الأبعاد لذلك فإنه من الضروري أخذ عدة صور من عدة زوايا للبلورة وتجميعها إلى خريطة ثلاثية الأبعاد. تسمى هذه التقنية علم البلورات الإلكتروني electron crystallography. (ar)
  • Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (englisch high resolution transmission electron microscopy, HRTEM) ist ein TEM-Abbildungsmodus, der es erlaubt, die kristallographische Struktur einer Probe mit atomarer Auflösung abzubilden. Wegen seiner hohen Auflösung ist HRTEM ein weitverbreitetes Werkzeug zur Untersuchung von in kristallinen Materialien wie Halbleitern und Metallen. Zurzeit kann standardmäßig eine Auflösung von 0,8 Å (0,08 nm) erreicht werden. Um diese Auflösung mit dem TEM direkt nutzen zu können, werden Korrektoren für die sphärische Aberration eingesetzt. Durch die Entwicklung neuartiger Korrektoren, die neben der sphärischen Aberration auch die chromatische Aberration verringern, wird bald eine Auflösung von bis zu 0,5 Å nutzbar. (de)
  • High-resolution transmission electron microscopy is an imaging mode of specialized transmission electron microscopes that allows for direct imaging of the atomic structure of samples. It is a powerful tool to study properties of materials on the atomic scale, such as semiconductors, metals, nanoparticles and sp2-bonded carbon (e.g., graphene, C nanotubes). While this term is often also used to refer to high resolution scanning transmission electron microscopy, mostly in high angle annular dark field mode, this article describes mainly the imaging of an object by recording the two-dimensional spatial wave amplitude distribution in the image plane, in analogy to a "classic" light microscope. For disambiguation, the technique is also often referred to as phase contrast transmission electron m (en)
  • La microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (en inglés, High-resolution transmission electron microscopy, o HRTEM) es una técnica para obtener imagen mediante el microscopio electrónico de transmisión (TEM) que permite la formación de imágenes de la estructura cristalográfica de una muestra en una escala atómica.​ Debido a su alta resolución es una valiosa herramienta ampliamente utilizada para el estudio de nanoestructuras de materiales cristalinos como los semiconductores y los metales. En la actualidad, por defecto, se alcanza una resolución de 0,8 Å (0,08 nm). Para utilizar esta resolución directamente con el TEM deben utilizarse correctores para la aberración esférica. A través del desarrollo de nuevos correctores, además de la aberración esférica y la aberración crom (es)
  • Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (HRTEM, do inglês high-resolution transmission electron microscopy) é um modo de obtenção de imagens do microscópio eletrônico de transmissão (MET) que permite a obtenção de imagem da de uma amostra em uma escala atômica. Devido à sua alta resolução, é uma ferramenta valiosa para estudar as propriedades em nanoescala do material cristalino, como semicondutores e metais. Atualmente, a mais alta resolução obtida é 0,8 angstroms (0,08 nm) com microscópios como o OAM no . No andamento de pesquisa e desenvolvimento, tais como os esforços no âmbito da microscopia eletrônica de transmissão de aberração corrigida (TEAM, de Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) irão em breve levar a resolução do HRTEM a 0,5 Å. Nessas pequenas (pt)
rdfs:label
  • مجهر إلكتروني نافذ عالي الدقة (ar)
  • Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (de)
  • Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (es)
  • High-resolution transmission electron microscopy (en)
  • Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (pt)
owl:sameAs
prov:wasDerivedFrom
foaf:depiction
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbo:academicDiscipline of
is dbo:wikiPageRedirects of
is dbo:wikiPageWikiLink of
is foaf:primaryTopic of
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