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- Die Sensitive High Resolution Ion Microprobe (kurz SHRIMP) ist ein Instrument auf der Basis eines doppelt fokussierenden Sekundärionen-Massenspektrometers (SIMS) mit großem Durchmesser. Das Instrument wird ebenso wie seine Nachfolger SHRIMP II und IV von der australischen Firma Australian Scientific Instruments (ASI) in Canberra produziert. Die SHRIMP-Mikrosonde benutzt einen Ionen-Strahl zur Erzeugung sekundärer Ionen, die vom Massenspektrometer nach ihrer Masse und Energie getrennt und in einem Zähler gesammelt werden. SHRIMP ist im eigentlichen Sinne kein Gattungsbegriff, sondern eine Produktbezeichnung von ASI.Eine ähnliche Sekundärionen-Mikrosonde mit großem Magnetradius wird von der Firma Cameca in Paris unter dem Namen IMS1280-HR angeboten. Sie unterscheidet sich in ihrer zusätzlichen Funktion als Ionenmikroskop, also der Möglichkeit eine direkte massenselektierte Abbildung der Probe zu erstellen; einer verbesserten Massenauflösung und der Fähigkeit die Isotopenzusammensetzung in kleinen Partikeln automatisch zu messen. (de)
- The sensitive high-resolution ion microprobe (also sensitive high mass-resolution ion microprobe or SHRIMP) is a large-diameter, double-focusing secondary ion mass spectrometer (SIMS) sector instrument produced by Australian Scientific Instruments in Canberra, Australia. Similar to the IMS 1270-1280-1300 large-geometry ion microprobes produced by CAMECA, Gennevilliers, France and like other SIMS instruments, the SHRIMP microprobe bombards a sample under vacuum with a beam of primary ions that sputters secondary ions that are focused, filtered, and measured according to their energy and mass. The SHRIMP is primarily used for geological and geochemical applications. It can measure the isotopic and elemental abundances in minerals at a 10 to 30 μm-diameter scale and with a depth resolution of 1–5 μm. Thus, SIMS method is well-suited for the analysis of complex minerals, as often found in metamorphic terrains, some igneous rocks, and for relatively rapid analysis of statistical valid sets of detrital minerals from sedimentary rocks. The most common application of the instrument is in uranium-thorium-lead geochronology, although the SHRIMP can be used to measure some other isotope ratio measurements (e.g., δ7Li or δ11B) and trace element abundances. (en)
- 高感度高分解能イオンマイクロプローブ（こうかんどこうぶんかいのう-、英: Sensitive high-resolution ion microprobe、通称SHRIMP）とは、二次イオン質量分析器を搭載したイオン顕微鏡である。イオンを走査する事により、三次元的な同位体の分布を調べる事ができる装置で、Australian Scientific Instruments社とオーストラリア国立大学の共同で開発された。 この顕微鏡は主にウラン・鉛年代測定法で利用されるが、δ7Liやδ11Bなど他の元素の同位体比測定にも利用される。 (ja)
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- Schematic diagram of a SHRIMP instrument illustrating the ion beam path. After Figure 4, Williams, 1998. (en)
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- 高感度高分解能イオンマイクロプローブ（こうかんどこうぶんかいのう-、英: Sensitive high-resolution ion microprobe、通称SHRIMP）とは、二次イオン質量分析器を搭載したイオン顕微鏡である。イオンを走査する事により、三次元的な同位体の分布を調べる事ができる装置で、Australian Scientific Instruments社とオーストラリア国立大学の共同で開発された。 この顕微鏡は主にウラン・鉛年代測定法で利用されるが、δ7Liやδ11Bなど他の元素の同位体比測定にも利用される。 (ja)
- Die Sensitive High Resolution Ion Microprobe (kurz SHRIMP) ist ein Instrument auf der Basis eines doppelt fokussierenden Sekundärionen-Massenspektrometers (SIMS) mit großem Durchmesser. Das Instrument wird ebenso wie seine Nachfolger SHRIMP II und IV von der australischen Firma Australian Scientific Instruments (ASI) in Canberra produziert. Die SHRIMP-Mikrosonde benutzt einen Ionen-Strahl zur Erzeugung sekundärer Ionen, die vom Massenspektrometer nach ihrer Masse und Energie getrennt und in einem Zähler gesammelt werden. SHRIMP ist im eigentlichen Sinne kein Gattungsbegriff, sondern eine Produktbezeichnung von ASI.Eine ähnliche Sekundärionen-Mikrosonde mit großem Magnetradius wird von der Firma Cameca in Paris unter dem Namen IMS1280-HR angeboten. Sie unterscheidet sich in ihrer zusätzlich (de)
- The sensitive high-resolution ion microprobe (also sensitive high mass-resolution ion microprobe or SHRIMP) is a large-diameter, double-focusing secondary ion mass spectrometer (SIMS) sector instrument produced by Australian Scientific Instruments in Canberra, Australia. Similar to the IMS 1270-1280-1300 large-geometry ion microprobes produced by CAMECA, Gennevilliers, France and like other SIMS instruments, the SHRIMP microprobe bombards a sample under vacuum with a beam of primary ions that sputters secondary ions that are focused, filtered, and measured according to their energy and mass. (en)
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- Sensitive High Resolution Ion Microprobe (de)
- SHRIMP (ja)
- Sensitive high-resolution ion microprobe (en)
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