| dbo:abstract
|
- Fluorescence interference contrast (FLIC) microscopy is a microscopic technique developed to achieve z-resolution on the nanometer scale. FLIC occurs whenever fluorescent objects are in the vicinity of a reflecting surface (e.g. Si wafer). The resulting interference between the direct and the reflected light leads to a double sin2 modulation of the intensity, I, of a fluorescent object as a function of distance, h, above the reflecting surface. This allows for the nanometer height measurements. FLIC microscope is well suited to measuring the topography of a membrane that contains fluorescentprobes e.g. an artificial lipid bilayer, or a living cell membrane or the structure of fluorescently labeled proteins on a surface. (en)
- Mikroskopia fluorescencyjna kontrastu interferencyjnego (ang. Fluorescence interference contrast microscopy (FLIC) – technika mikroskopii fluorescencyjnej pozwalająca na uzyskanie rozdzielczości na osi Z w skali nanometrowej. Z FLIC mamy do czynienia, gdy oglądany pod mikroskopem obiekt fluorescencyjny znajduje się na powierzchni odbijającej światło (na przykład płytce krzemowej). Obiektyw, a zatem i układ analizujący, odbiera zarówno światło bezpośrednio emitowane przez próbkę, jak i światło, które próbka wyemitowała w kierunku powierzchni, od której uległo ono odbiciu. Zachodząca pomiędzy tymi falami świetlnymi interferencja prowadzi do podwójnej modulacji sin2 intensywności I, sygnału obiektu fluoryzującego, w funkcji odległości h od powierzchni odbijającej. Pozwala to na uzyskanie nanometrowych rozdzielczości w osi pionowej obiektu i bardzo dokładne pomiary wysokości obiektu lub szczegółów jego powierzchni. Mikroskopia FLIC znalazła zastosowanie do badania topografii powierzchni błon zawierających sondy fluorescencyjne, na przykład sztucznie tworzonych błon biologicznych czy też błon komórkowych żywych komórek wyposażonych we fluoroscencyjnie znakowane białka błonowe. (pl)
|
| dbo:thumbnail
| |
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 16970 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| dcterms:subject
| |
| gold:hypernym
| |
| rdf:type
| |
| rdfs:comment
|
- Fluorescence interference contrast (FLIC) microscopy is a microscopic technique developed to achieve z-resolution on the nanometer scale. FLIC occurs whenever fluorescent objects are in the vicinity of a reflecting surface (e.g. Si wafer). The resulting interference between the direct and the reflected light leads to a double sin2 modulation of the intensity, I, of a fluorescent object as a function of distance, h, above the reflecting surface. This allows for the nanometer height measurements. (en)
- Mikroskopia fluorescencyjna kontrastu interferencyjnego (ang. Fluorescence interference contrast microscopy (FLIC) – technika mikroskopii fluorescencyjnej pozwalająca na uzyskanie rozdzielczości na osi Z w skali nanometrowej. Mikroskopia FLIC znalazła zastosowanie do badania topografii powierzchni błon zawierających sondy fluorescencyjne, na przykład sztucznie tworzonych błon biologicznych czy też błon komórkowych żywych komórek wyposażonych we fluoroscencyjnie znakowane białka błonowe. (pl)
|
| rdfs:label
|
- Fluorescence interference contrast microscopy (en)
- Mikroskopia fluorescencyjna kontrastu interferencyjnego (pl)
|
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:depiction
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
