An Entity of Type: Magnifier103709206, from Named Graph: http://dbpedia.org, within Data Space: dbpedia.org

The environmental scanning electron microscope (ESEM) is a scanning electron microscope (SEM) that allows for the option of collecting electron micrographs of specimens that are wet, uncoated, or both by allowing for a gaseous environment in the specimen chamber. Although there were earlier successes at viewing wet specimens in internal chambers in modified SEMs, the ESEM with its specialized electron detectors (rather than the standard Everhart-Thornley detector) and its differential pumping systems, to allow for the transfer of the electron beam from the high vacuum in the gun area to the high pressure attainable in its specimen chamber, make it a complete and unique instrument designed for the purpose of imaging specimens in their natural state. The instrument was designed originally by

Property Value
dbo:abstract
  • Το περιβαλλοντικό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΠΗΜΣ) αντιστοιχεί στον αγγλικό όρο "environmental scanning electron microscope (ESEM)" και αναφέρεται σε μια νέα κατηγορία ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης (ΗΜΣ). Συγκεκριμένα, ενώ στο ΗΜΣ το εξεταζόμενο αντικείμενο πρέπει αναγκαστικά να ευρίσκεται σε συνθήκες κενού (δηλαδή πολύ χαμηλής πίεσης), αντίθετα, στο ΠΗΜΣ το αντικείμενο ευρίσκεται σε αέριο περιβάλλον σχετικά υψηλής πίεσης. Η διαφορά είναι θεμελιώδης, διότι αντικείμενα στο κενό συνήθως απέχουν πολύ από τη φυσική τους κατάσταση και παραμορφώνονται, ή είναι αδύνατον να εξεταστούν, ενώ στο περιβαλλοντικό αέριο του ΠΗΜΣ μπορούν να μελετώνται όπως ακριβώς υπάρχουν. Έτσι, αντικείμενα υγρά αλλά και μονωτικά είναι πλέον δυνατόν να εξεταστούν χωρίς την ανάγκη καμίας προετοιμασίας. Παρά το γεγονός ότι υπήρχαν προηγούμενες επιτυχίες απεικόνισης υγρών δειγμάτων πρώτα και κύρια με ηλεκτρονικά μικροσκόπια διερχόμενης δέσμης και αργότερα λιγότερο με ΗΜΣ, το ΠΗΜΣ τελικά εξελίχθηκε σε ολοκληρωμένο μηχάνημα με νέους εξειδικευμένους ανιχνευτές ηλεκτρονίων (αντί του τυποποιημένου Everhart-Thornley ανιχνευτή που λειτουργεί μόνο στο κενό) και βελτιστοποιημένων συστημάτων διαφορικής άντλησης, που επιτρέπουν την μεταφορά της δέσμης ηλεκτρονίων από το υψηλό κενό της κολόνας στο διατηρούμενο σε υψηλή πίεση θάλαμο δοκιμίων. Αυτή η καινούργια τεχνολογία μελετήθηκε και αναπτύχθηκε από τον Γεράσιμο Δανηλάτο αρχικά στο Πανεπιστήμιο της Νέας Νότιας Ουαλίας του Σύδνεϋ Αυστραλίας. (el)
  • Das Environmental scanning electron microscope (ESEM) stellt eine spezielle Variante des Rasterelektronenmikroskops dar. Der wesentliche Unterschied zu einem konventionellen Rasterelektronenmikroskop (REM, bzw. engl. SEM) ist das geringere Vakuum (höherer Druck) in der Probenkammer und der speziell angepasste Detektor. (de)
  • The environmental scanning electron microscope (ESEM) is a scanning electron microscope (SEM) that allows for the option of collecting electron micrographs of specimens that are wet, uncoated, or both by allowing for a gaseous environment in the specimen chamber. Although there were earlier successes at viewing wet specimens in internal chambers in modified SEMs, the ESEM with its specialized electron detectors (rather than the standard Everhart-Thornley detector) and its differential pumping systems, to allow for the transfer of the electron beam from the high vacuum in the gun area to the high pressure attainable in its specimen chamber, make it a complete and unique instrument designed for the purpose of imaging specimens in their natural state. The instrument was designed originally by Gerasimos Danilatos while working at the University of New South Wales. (en)
  • La microscopie électronique à balayage environnemental (MEBE, ou ESEM pour Environmental scanning electron microscopy) est un mode de microscopie électronique à balayage permettant d'étudier des échantillons non conducteurs généralement sans préparation préalable, conservant ainsi un état plus naturel. La différence essentielle avec la microscopie électronique conventionnelle est la présence d'un gaz (généralement de la vapeur d'eau) dans la chambre à échantillon du MEBE, ce qui permet d'éviter les contraintes sous vide. * Portail de la physique (fr)
  • 環境制御型走査電子顕微鏡(かんきょうせいぎょがたそうさでんしけんびきょう、Environmental scanning electron microscope、E-SEM)は走査型電子顕微鏡の一種。 (ja)
  • Il microscopio elettronico a scansione ambientale, comunemente indicato con l'acronimo ESEM dall'inglese Environmental Scanning Electron Microscope, è un tipo di microscopio elettronico a scansione. Diversamente da un tipico microscopio elettronico a scansione permette di analizzare anche campioni biologici non metallizzati o isolanti e campioni bagnati o liquidi. (it)
dbo:thumbnail
dbo:wikiPageExternalLink
dbo:wikiPageID
  • 9778156 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength
  • 62754 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID
  • 1101891577 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink
dbp:wikiPageUsesTemplate
dcterms:subject
gold:hypernym
rdf:type
rdfs:comment
  • Das Environmental scanning electron microscope (ESEM) stellt eine spezielle Variante des Rasterelektronenmikroskops dar. Der wesentliche Unterschied zu einem konventionellen Rasterelektronenmikroskop (REM, bzw. engl. SEM) ist das geringere Vakuum (höherer Druck) in der Probenkammer und der speziell angepasste Detektor. (de)
  • La microscopie électronique à balayage environnemental (MEBE, ou ESEM pour Environmental scanning electron microscopy) est un mode de microscopie électronique à balayage permettant d'étudier des échantillons non conducteurs généralement sans préparation préalable, conservant ainsi un état plus naturel. La différence essentielle avec la microscopie électronique conventionnelle est la présence d'un gaz (généralement de la vapeur d'eau) dans la chambre à échantillon du MEBE, ce qui permet d'éviter les contraintes sous vide. * Portail de la physique (fr)
  • 環境制御型走査電子顕微鏡(かんきょうせいぎょがたそうさでんしけんびきょう、Environmental scanning electron microscope、E-SEM)は走査型電子顕微鏡の一種。 (ja)
  • Il microscopio elettronico a scansione ambientale, comunemente indicato con l'acronimo ESEM dall'inglese Environmental Scanning Electron Microscope, è un tipo di microscopio elettronico a scansione. Diversamente da un tipico microscopio elettronico a scansione permette di analizzare anche campioni biologici non metallizzati o isolanti e campioni bagnati o liquidi. (it)
  • Το περιβαλλοντικό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΠΗΜΣ) αντιστοιχεί στον αγγλικό όρο "environmental scanning electron microscope (ESEM)" και αναφέρεται σε μια νέα κατηγορία ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης (ΗΜΣ). Συγκεκριμένα, ενώ στο ΗΜΣ το εξεταζόμενο αντικείμενο πρέπει αναγκαστικά να ευρίσκεται σε συνθήκες κενού (δηλαδή πολύ χαμηλής πίεσης), αντίθετα, στο ΠΗΜΣ το αντικείμενο ευρίσκεται σε αέριο περιβάλλον σχετικά υψηλής πίεσης. Η διαφορά είναι θεμελιώδης, διότι αντικείμενα στο κενό συνήθως απέχουν πολύ από τη φυσική τους κατάσταση και παραμορφώνονται, ή είναι αδύνατον να εξεταστούν, ενώ στο περιβαλλοντικό αέριο του ΠΗΜΣ μπορούν να μελετώνται όπως ακριβώς υπάρχουν. Έτσι, αντικείμενα υγρά αλλά και μονωτικά είναι πλέον δυνατόν να εξεταστούν χωρίς την ανάγκη καμίας προετοιμασίας. (el)
  • The environmental scanning electron microscope (ESEM) is a scanning electron microscope (SEM) that allows for the option of collecting electron micrographs of specimens that are wet, uncoated, or both by allowing for a gaseous environment in the specimen chamber. Although there were earlier successes at viewing wet specimens in internal chambers in modified SEMs, the ESEM with its specialized electron detectors (rather than the standard Everhart-Thornley detector) and its differential pumping systems, to allow for the transfer of the electron beam from the high vacuum in the gun area to the high pressure attainable in its specimen chamber, make it a complete and unique instrument designed for the purpose of imaging specimens in their natural state. The instrument was designed originally by (en)
rdfs:label
  • Environmental Scanning Electron Microscope (de)
  • Περιβαλλοντικό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (el)
  • Environmental scanning electron microscope (en)
  • Microscopie électronique à balayage environnemental (fr)
  • Microscopio elettronico a scansione ambientale (it)
  • 環境制御型走査電子顕微鏡 (ja)
rdfs:seeAlso
owl:sameAs
prov:wasDerivedFrom
foaf:depiction
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbo:wikiPageRedirects of
is dbo:wikiPageWikiLink of
is foaf:primaryTopic of
Powered by OpenLink Virtuoso    This material is Open Knowledge     W3C Semantic Web Technology     This material is Open Knowledge    Valid XHTML + RDFa
This content was extracted from Wikipedia and is licensed under the Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 Unported License