| rdfs:comment
| - Joint Test Action Group je standard definovaný normou , tzv. (TAP). Jedná se o architekturu pro testování plošných spojů, programování FLASH pamětí apod. (cs)
- Le JTAG (pour Joint Test Action Group) est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulée « Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture », qui été normalisée en 1990. Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la norme, est abusivement (mais très largement) utilisé au lieu du terme générique Boundary Scan, ou du sigle TAP (Test Access Port, port d'accès de test). (fr)
- JTAG(Joint Test Action Group)은 디지털 회로에서 특정 노드의 디지털 입출력을 위해 직렬 통신 방식으로 출력 데이터를 전송하거나 입력데이터를 수신하는 방식을 말한다. JTAG('제이택'으로 발음)은 IEEE 1149.1에 표준으로 정해져 있다. 보통 디지털 회로의 칩 외부와 연결되는 핀의 입출력회로에 적용하여 활용한다. 회로 설계에 따라 디지털 회로의 내부로 전송하거나 핀의 외부로 데이터를 출력할 수도 있고 상태를 읽을 수도 있다. JTAG을 통해 데이터를 동기식 직렬 통신 전송하는 방식은 boundary scan을 통해 구현한다. 임베디드 시스템 개발 시에 사용하는 디버깅 장비가 대표적인 활용 예이다. 임베디드 시스템을 개발하기 위해 통합한 회로로 사용되며, CPU의 기계어 코드를 실행하지 않고 MCU 내부의 플래시 메모리나 임베디드 장치에서 CPU의 외부 플래시 메모리에 코드를 쓰거나 읽을 수 있다. 또한 디버거가 CPU 동작과 연동하여 특정 기계어 코드 위치에서 멈추고 상태를 읽어 내부의 상태를 알 수 있다. (ko)
- De Joint Test Action Group of JTAG is in de jaren 1980 opgestart om het probleem van het testen van de almaar dichter op elkaar gepakte elektronicaborden en -chips aan te pakken. (nl)
- JTAG（ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、やテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。 (ja)
- Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados. Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes. JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração. A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console. (pt)
- JTAG是联合测试工作组（Joint Test Action Group）的简称，是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。此标准用于驗證設計與測試生產出的印刷電路板功能。 1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化，在1994年，加入了补充文档对（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。 在設計印刷電路板時，目前最主要用在測試積體電路的副區塊，而且也提供一個在嵌入式系統很有用的偵錯機制，提供一個在系統中方便的"後門"。當使用一些偵錯工具像電路內模擬器用JTAG當做訊號傳輸的機制，使得程式設計師可以經由JTAG去讀取整合在CPU上的偵錯模組。偵錯模組可以讓程式設計師偵錯嵌入式系統中的軟體。 (zh)
- JTAG és un acrònim de Joint Test Action Group, una associació de la indústria de l'electrònica que es va formar el 1985 per desenvolupar un mètode de verificació i prova per dissenys electrònics. JTAG també és el nom comú utilitzat per a la norma IEEE 1149.1 titulada Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture per a proves d'accés a ports utilitzada per a testejar PCBs utilitzant escaneig de límits. Aquest mètode permet verificar i provar dissenys de xips i plaques de circuit imprès un cop ja s'han fabricat. (ca)
- Joint Test Action Group (kurz JTAG) ist ein häufig verwendetes Synonym für den IEEE-Standard 1149.1, der eine Methodik für das Testen und Debuggen integrierter Schaltungen, also Hardware auf Leiterplatten, beschreibt. Das prominenteste und gleichzeitig zuerst in der JTAG-Arbeitsgruppe implementierte Verfahren ist der Boundary Scan Test nach IEEE 1149.1. Durch Hinzufügen weiterer Verfahren (1149.1–1149.8) sind die Begriffe nicht mehr synonym, während die Beschreibungssprache von der IEEE-Arbeitsgruppe mit Boundary Scan Description Language den ursprünglichen Namen beibehielt. (de)
- En electrónica, JTAG, acrónimo de Joint Test Action Group, es el nombre común utilizado para la norma IEEE 1149.1 titulada Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture para utilizada para comprobar PCBs utilizando escaneo de límites. JTAG se estandarizó en 1990 como la norma IEEE 1149.1-1990. En 1994 se agregó un suplemento que contiene una descripción del (BSDL). Desde entonces, esta norma fue adoptada por las compañías electrónicas de todo el mundo. Actualmente, Boundary-scan y JTAG son sinónimos. (es)
- JTAG (named after the Joint Test Action Group which codified it) is an industry standard for verifying designs and testing printed circuit boards after manufacture. JTAG implements standards for on-chip instrumentation in electronic design automation (EDA) as a complementary tool to digital simulation. It specifies the use of a dedicated debug port implementing a serial communications interface for low-overhead access without requiring direct external access to the system address and data buses. The interface connects to an on-chip Test Access Port (TAP) that implements a stateful protocol to access a set of test registers that present chip logic levels and device capabilities of various parts. (en)
- JTAG, acronimo di Joint Test Action Group, è un consorzio di 200 imprese produttrici di circuiti integrati e circuiti stampati allo scopo di definire un protocollo standard per il di questi dispositivi, che tendono ad essere sempre più complessi e difficili da controllare, fino a rendere impraticabili i tradizionali metodi manuali o automatici e ad aumentare in modo non competitivo il “Time to market”. (it)
- JTAG (ang. Joint Test Action Group) to nazwa standardu IEEE 1149.1 definiującego protokół używany do testowania połączeń na płytkach drukowanych, stosowany także do uruchamiania i programowania i systemów mikroprocesorowych. Żeby można było wykorzystywać JTAG do wymienionych celów, układy scalone umieszczone w testowanym systemie muszą posiadać wewnątrz warstwę sprzętową tego interfejsu. Głównym elementem tego interfejsu jest kontroler TAP oparty na maszynie stanów dedykowanej debugowaniu i niezależnej od podstawowych zadań mikrokontrolera zawierającego wbudowany JTAG. Jednym z najważniejszych założeń standardu JTAG jest możliwość programowania układu w gotowym urządzeniu, bez konieczności odłączania (ang. In-System Programming, w skrócie ISP). (pl)
- Joint Test Action Group (JTAG) är ett sätt att koppla in sig till mikrochip och exekvera eller ladda mjukvara i processorer, CPLD:er och FPGA:er. Senare standardiserat som IEEE 1149.1. JTAG är också en teknik att söka av mönsterkort med elektronik efter fel med Boundary Scan. Man kan hitta kortslutningar eller felaktiga kretskortsdragningar och saknade komponenter. I produktion kan man se om motstånd är monterade och om dioder är rättvända. Man kan ladda flashminnen, CPLD:er, FPGA:er och processorer med mjukvara. Det går att läsa av IC-namn och version, så rätt komponenter är monterade. (sv)
- JTAG (скорочення від англ. Joint Test Action Group; вимовляється «джей-тáг») — назва робочої групи з розробки стандарту IEEE 1149. Пізніше це скорочення стало міцно асоціюватися з розробленим цією групою спеціалізованим апаратним інтерфейсом на базі стандарту IEEE 1149.1. Офіційна назва стандарту Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. Послідовний інтерфейс призначений для підключення складних цифрових мікросхем чи пристроїв рівня друкованої плати до стандартної апаратури тестування і налагодження. (uk)
- JTAG (сокращение от англ. Joint Test Action Group; произносится «джей-тáг») — название рабочей группы по разработке стандарта IEEE 1149. Позднее это сокращение стало прочно ассоциироваться с разработанным этой группой специализированным аппаратным интерфейсом на базе стандарта IEEE 1149.1. Официальное название стандарта Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. Интерфейс предназначен для подключения сложных цифровых микросхем или устройств уровня печатной платы к стандартной аппаратуре тестирования и отладки. Функциональное назначение этих линий: (ru)
|
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)