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圧電応答力顕微鏡 Microscopie à force piézoélectrique Piezoresponse force microscopy
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Piezoresponse force microscopy (PFM) is a variant of atomic force microscopy (AFM) that allows imaging and manipulation of piezoelectric/ferroelectric materials domains. This is achieved by bringing a sharp conductive probe into contact with a ferroelectric surface (or piezoelectric material) and applying an alternating current (AC) bias to the probe tip in order to excite deformation of the sample through the converse piezoelectric effect (CPE). The resulting deflection of the probe cantilever is detected through standard split photodiode detector methods and then demodulated by use of a lock-in amplifier (LiA). In this way topography and ferroelectric domains can be imaged simultaneously with high resolution. 圧電応答力顕微鏡（あつでんおうとうりょくけんびきょう、Piezoresponse Force Microscopy : PFM）は走査型プローブ顕微鏡の一種。圧電応答顕微鏡（あつでんおうとうけんびきょう）、ピエゾ応答力顕微鏡（―おうとうりょくけんびきょう）ともいう。 La microscopie à force piézoélectrique (abrégée en PFM, de l'anglais Piezoresponse force microscopy) est un mode d'utilisation du microscope à force atomique (AFM) qui permet d'imager et de manipuler les domaines ferroélectriques d'un matériau. Pour ce faire, une pointe conductrice est amenée au contact de l'échantillon. On applique un potentiel alternatif au niveau de la pointe afin d'exciter localement la déformation de l'échantillon par l'effet piézoélectrique inverse. Cette déformation fait osciller le micro-levier de l'AFM dont les mouvements sont détectés par la méthode standard à l'aide d'une photodiode divisée en quatre. Le signal à la fréquence de travail est ensuite isolé par un amplificateur à détection synchrone. En balayant la surface de l'échantillon de cette manière, on peut
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Piezoresponse force microscopy (PFM) is a variant of atomic force microscopy (AFM) that allows imaging and manipulation of piezoelectric/ferroelectric materials domains. This is achieved by bringing a sharp conductive probe into contact with a ferroelectric surface (or piezoelectric material) and applying an alternating current (AC) bias to the probe tip in order to excite deformation of the sample through the converse piezoelectric effect (CPE). The resulting deflection of the probe cantilever is detected through standard split photodiode detector methods and then demodulated by use of a lock-in amplifier (LiA). In this way topography and ferroelectric domains can be imaged simultaneously with high resolution. 圧電応答力顕微鏡（あつでんおうとうりょくけんびきょう、Piezoresponse Force Microscopy : PFM）は走査型プローブ顕微鏡の一種。圧電応答顕微鏡（あつでんおうとうけんびきょう）、ピエゾ応答力顕微鏡（―おうとうりょくけんびきょう）ともいう。 La microscopie à force piézoélectrique (abrégée en PFM, de l'anglais Piezoresponse force microscopy) est un mode d'utilisation du microscope à force atomique (AFM) qui permet d'imager et de manipuler les domaines ferroélectriques d'un matériau. Pour ce faire, une pointe conductrice est amenée au contact de l'échantillon. On applique un potentiel alternatif au niveau de la pointe afin d'exciter localement la déformation de l'échantillon par l'effet piézoélectrique inverse. Cette déformation fait osciller le micro-levier de l'AFM dont les mouvements sont détectés par la méthode standard à l'aide d'une photodiode divisée en quatre. Le signal à la fréquence de travail est ensuite isolé par un amplificateur à détection synchrone. En balayant la surface de l'échantillon de cette manière, on peut obtenir simultanément une image de la topographie et de la structure en domaines ferroélectriques avec une bonne résolution.
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