This HTML5 document contains 109 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dbpedia-dehttp://de.dbpedia.org/resource/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
yago-reshttp://yago-knowledge.org/resource/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
n23http://dbpedia.org/resource/File:
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
n27https://global.dbpedia.org/id/
yagohttp://dbpedia.org/class/yago/
dbpedia-ruhttp://ru.dbpedia.org/resource/
dbthttp://dbpedia.org/resource/Template:
dbpedia-ukhttp://uk.dbpedia.org/resource/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
freebasehttp://rdf.freebase.com/ns/
n10http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
dbpedia-vihttp://vi.dbpedia.org/resource/
wikipedia-enhttp://en.wikipedia.org/wiki/
dbpedia-frhttp://fr.dbpedia.org/resource/
dbpedia-zhhttp://zh.dbpedia.org/resource/
dbphttp://dbpedia.org/property/
dbchttp://dbpedia.org/resource/Category:
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
goldhttp://purl.org/linguistics/gold/
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/
dbrhttp://dbpedia.org/resource/
dbpedia-jahttp://ja.dbpedia.org/resource/

Statements

Subject Item
dbr:Scanning_electron_microscope
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Characteristic_X-ray
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Aphelion_(software)
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Meyrowitzite
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Microanalysis
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:X-ray_fluorescence
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:WDS
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageDisambiguates
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
rdf:type
yago:Cognition100023271 yago:Know-how105616786 yago:WikicatScientificTechniques yago:Method105660268 dbo:Software yago:Ability105616246 yago:Abstraction100002137 yago:Technique105665146 yago:PsychologicalFeature100023100
rdfs:label
Analyse dispersive en longueur d'onde Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі 波長分散型X線分析 波长色散X射线光谱
rdfs:comment
Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy (WDXS or WDS) is a non-destructive analysis technique used to obtain elemental information about a range of materials by measuring characteristic x-rays within a small wavelength range. The technique generates a spectrum in which the peaks correspond to specific x-ray lines and elements can be easily identified. WDS is primarily used in chemical analysis, wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) spectrometry, electron microprobes, scanning electron microscopes, and high precision experiments for testing atomic and plasma physics. Die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (Abkürzung: WDS oder auch WDX) dient der Analyse der charakteristischen Röntgenstrahlung, welche von einer Probe (z. B. aufgrund des Beschusses mit einem Elektronenstrahl) emittiert wird. Auf diese Weise sind alle Elemente mit einer Ordnungszahl von wenigstens 4 (Beryllium) detektierbar. Die relative Nachweisgrenze beträgt bei Elementen 0,01 Gewichtsprozent, was einer absoluten Nachweisgrenze von 10−14 bis 10−15 g entspricht. Das Verfahren gehört zur Gruppe der Röntgenspektroskopien, es ist eng verwandt mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS oder auch EDX). Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF чи WDS) — аналітична методика елементного аналізу твердої речовини, що базується на аналізі максимумів за їх розміщенням (довжина хвилі емісії) та інтенсивністю її рентгенівського спектру. За допомогою WDS методики можна кількісно і якісно визначати елементи у досліджуваному матеріалі починаючи з атомного номера 4 — (Берилій). Нижня межа визначення елемента при цьому становить 0.01 вагового процента, що в абсолютних числах становить 10−14 до 10−15 грама. 波長分散型X線分析 (はちょうぶんさんがたエックスせんぶんせき、length dispersive X-ray spectrometry) は、広義の意味として、電子線やX線などの一次線を物体に照射した際に発生する特性X線もしくは蛍光X線を分光結晶を介して検出器にて検出し、その波長分布から、物体を構成する元素と濃度を調べる元素分析手法である。一般的に、電子線を一次線として用いた場合を指すことが多く、X線を一次線として用いる場合を波長分散型蛍光X線分析 (WD-XRF) として呼ぶ。ちなみに、一次線が荷電粒子の場合は、粒子線励起X線分析法 (PIXE: Particle Induced X-ray Emission) と呼ぶ。 この分析法は、エネルギー分解能が高く、検出感度が高いので、精密な分析に有効である。しかしながら、WDSは分光結晶の角度を変えながら測定するのでに時間がかかり、複数元素の同時分析ができず、大きなプローブ電流が必要である。高精度かつ全元素を分析を行いたい場合に、エネルギー分散型X線分析(EDS)とWDSを併用して用いる場合がある。 波长色散X射线光谱（Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy，WDXS或WDS）是一种非破坏性分析技术，可通过测量小波长范围内的特征X射线来获得样品的元素组成信息。该技术产生的光谱中的峰对应于元素的特征X射线，借此可以容易地识别元素。波长色散X射线光谱主要用于化学分析、电子微探针、扫描电子显微镜以及测试原子和等离子体物理的高精度实验。 Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны (ДРСДВ) (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF или WDS) — аналитическая методика элементного анализа твёрдого вещества, базирующаяся на анализе максимумов по их расположению (длина волны эмиссии) и интенсивности её рентгеновского спектра, вариант рентгеноспектрального анализа. С помощью ДРСДВ-методики можно количественно и качественно определить элементы в исследуемом материале начиная с атомного номера 4 — (Бериллий). Нижняя граница определения наличия элемента при этом составляет 0.01 весового процента, что в абсолютных числах составляет 10−14 до 10−15 грамма. L'analyse spectrale d'un rayonnement électromagnétique fait souvent intervenir une dispersion angulaire dépendant de la longueur d'onde ; c'est l'analyse dispersive en longueur d'onde. Pour la lumière visible, il existe deux manières de faire : avec un prisme ou avec un réseau de diffraction optique. Pour les rayons X, cela se fait par diffraction sur un monocristal. La méthode porte alors le nom de spectroscopie de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength-dispersive X-ray spectroscopy, WDXS ou WDS, en anglais), et spectroscopie de fluorescence de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy, WDXRF, en anglais) pour l'application en spectrométrie de fluorescence des rayons X.
dbp:name
Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy
foaf:depiction
n10:Electron_beam_sample_interactions.png
dcterms:subject
dbc:Emission_spectroscopy dbc:X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageID
682635
dbo:wikiPageRevisionID
1120004967
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Bragg's_law dbr:Goniometer dbr:Constructive_interference dbr:X-ray dbr:Integer dbr:X-ray_fluorescence dbr:Boron dbr:Atomic_orbital dbc:Emission_spectroscopy dbr:CAMECA dbr:Anton_Paar dbr:Collimator dbr:Scanning_electron_microscope dbr:Bruker dbr:Rigaku dbr:JEOL dbr:Oxygen dbr:X-ray_spectroscopy n23:Electron_beam_sample_interactions.png dbr:Isotope dbr:Scintillation_counter dbr:Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:Spectrum dbc:X-ray_spectroscopy dbr:Electron_configuration dbr:Spectrometer dbr:Vanadium dbr:Electron_microprobe dbr:Titanium
owl:sameAs
dbpedia-zh:波长色散X射线光谱 dbpedia-ru:Метод_дисперсионной_рентгеновской_спектроскопии_по_длине_волны wikidata:Q899530 dbpedia-vi:Phổ_tán_sắc_bước_sóng_tia_X freebase:m.032l_2 yago-res:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy dbpedia-de:Wellenlängendispersive_Röntgenspektroskopie dbpedia-fr:Analyse_dispersive_en_longueur_d'onde dbpedia-ja:波長分散型X線分析 dbpedia-uk:Метод_дисперсійної_рентгенівської_спектроскопії_за_довжиною_хвилі n27:53x81
dbp:wikiPageUsesTemplate
dbt:R dbt:Infobox_chemical_analysis dbt:Reflist dbt:Use_dmy_dates dbt:Short_description
dbo:thumbnail
n10:Electron_beam_sample_interactions.png?width=300
dbp:manufacturers
Anton Paar, Bruker AXS, Hecus, Malvern Panalytical, Rigaku Corporation, Xenocs, CAMECA, JEOL, Oxford Instruments
dbp:classification
Spectroscopy
dbp:related
dbr:Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy
dbo:abstract
波長分散型X線分析 (はちょうぶんさんがたエックスせんぶんせき、length dispersive X-ray spectrometry) は、広義の意味として、電子線やX線などの一次線を物体に照射した際に発生する特性X線もしくは蛍光X線を分光結晶を介して検出器にて検出し、その波長分布から、物体を構成する元素と濃度を調べる元素分析手法である。一般的に、電子線を一次線として用いた場合を指すことが多く、X線を一次線として用いる場合を波長分散型蛍光X線分析 (WD-XRF) として呼ぶ。ちなみに、一次線が荷電粒子の場合は、粒子線励起X線分析法 (PIXE: Particle Induced X-ray Emission) と呼ぶ。 この分析法は、エネルギー分解能が高く、検出感度が高いので、精密な分析に有効である。しかしながら、WDSは分光結晶の角度を変えながら測定するのでに時間がかかり、複数元素の同時分析ができず、大きなプローブ電流が必要である。高精度かつ全元素を分析を行いたい場合に、エネルギー分散型X線分析(EDS)とWDSを併用して用いる場合がある。 L'analyse spectrale d'un rayonnement électromagnétique fait souvent intervenir une dispersion angulaire dépendant de la longueur d'onde ; c'est l'analyse dispersive en longueur d'onde. Pour la lumière visible, il existe deux manières de faire : avec un prisme ou avec un réseau de diffraction optique. Pour les rayons X, cela se fait par diffraction sur un monocristal. La méthode porte alors le nom de spectroscopie de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength-dispersive X-ray spectroscopy, WDXS ou WDS, en anglais), et spectroscopie de fluorescence de rayons X à dispersion de longueur d'onde (wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy, WDXRF, en anglais) pour l'application en spectrométrie de fluorescence des rayons X. Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy (WDXS or WDS) is a non-destructive analysis technique used to obtain elemental information about a range of materials by measuring characteristic x-rays within a small wavelength range. The technique generates a spectrum in which the peaks correspond to specific x-ray lines and elements can be easily identified. WDS is primarily used in chemical analysis, wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) spectrometry, electron microprobes, scanning electron microscopes, and high precision experiments for testing atomic and plasma physics. Die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (Abkürzung: WDS oder auch WDX) dient der Analyse der charakteristischen Röntgenstrahlung, welche von einer Probe (z. B. aufgrund des Beschusses mit einem Elektronenstrahl) emittiert wird. Auf diese Weise sind alle Elemente mit einer Ordnungszahl von wenigstens 4 (Beryllium) detektierbar. Die relative Nachweisgrenze beträgt bei Elementen 0,01 Gewichtsprozent, was einer absoluten Nachweisgrenze von 10−14 bis 10−15 g entspricht. Das Verfahren gehört zur Gruppe der Röntgenspektroskopien, es ist eng verwandt mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS oder auch EDX). Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны (ДРСДВ) (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF или WDS) — аналитическая методика элементного анализа твёрдого вещества, базирующаяся на анализе максимумов по их расположению (длина волны эмиссии) и интенсивности её рентгеновского спектра, вариант рентгеноспектрального анализа. С помощью ДРСДВ-методики можно количественно и качественно определить элементы в исследуемом материале начиная с атомного номера 4 — (Бериллий). Нижняя граница определения наличия элемента при этом составляет 0.01 весового процента, что в абсолютных числах составляет 10−14 до 10−15 грамма. 波长色散X射线光谱（Wavelength-dispersive X-ray spectroscopy，WDXS或WDS）是一种非破坏性分析技术，可通过测量小波长范围内的特征X射线来获得样品的元素组成信息。该技术产生的光谱中的峰对应于元素的特征X射线，借此可以容易地识别元素。波长色散X射线光谱主要用于化学分析、电子微探针、扫描电子显微镜以及测试原子和等离子体物理的高精度实验。 Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF чи WDS) — аналітична методика елементного аналізу твердої речовини, що базується на аналізі максимумів за їх розміщенням (довжина хвилі емісії) та інтенсивністю її рентгенівського спектру. За допомогою WDS методики можна кількісно і якісно визначати елементи у досліджуваному матеріалі починаючи з атомного номера 4 — (Берилій). Нижня межа визначення елемента при цьому становить 0.01 вагового процента, що в абсолютних числах становить 10−14 до 10−15 грама.
dbp:acronym
WDXS WDS
dbp:analytes
Elements in solids, liquids, powders and thin films
gold:hypernym
dbr:Method
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-en:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy?oldid=1120004967&ns=0
dbo:wikiPageLength
6101
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-en:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Monochromatic_wavelength_dispersive_x-ray_fluorescence
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Serrabrancaite
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:WDX
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageRedirects
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:WDXRF
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageRedirects
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
dbr:Wavelength_dispersive_X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
dbo:wikiPageRedirects
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
Subject Item
wikipedia-en:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy
foaf:primaryTopic
dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy