| dbo:abstract
|
- انبعاث فوتوني متباين زمنيًا(بالإنجليزية: (Time-resolved photon emission (TRPE)) تستخدم لقياس شكل الموجة زمنيًا لجهاز شبه موصل. تنفذ قياسات الانبعاث الفوتوني المتباين زمنيًا على الجزء السفلي من الجهاز شبه الموصل. الأساس في الجهاز قيد الاختبار يتم تنحيفه ميكانيكيًا. يتم تثبيت الجهاز على قاعدة س-ص متحركة في وعاء مغلق يحجب كل مصادر الضوء. الجهاز قيد الاختبار يكون موصولًا بمنبه كهربائي فعّال. نمط هذا المنبه يتكرر باستمرار و يتم إرسال إشارة تنبيه إلى جهاز قياس الانبعاث الفوتوني المتباين زمنيًا لتشير عند تكرر هذا النمط. العامل على جهاز الانبعاث الفوتوني المتباين زمنيًا يعمل بطريقة مشابهة لكاشف الذبذبة بالعينات، و يتم استخدامه في تحليل الإخفاق لشبه الموصل. (ar)
- Time-resolved photon emission (TRPE) is used to measure timing waveforms on semiconductor devices. TRPE measurements are performed on the back side of the semiconductor device. The substrate of the device-under-test (DUT) must first be thinned mechanically. The device is mounted on a movable X-Y stage in an enclosure which shields it from all sources of light. The DUT is connected to an active electrical stimulus. The stimulus pattern is continuously looped and a trigger signal is sent to the TRPE instrument in order to tell it when the pattern repeats. A TRPE prober operates in a manner similar to a sampling oscilloscope, and is used to perform semiconductor failure analysis. (en)
|
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 2216 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| dct:subject
| |
| rdfs:comment
|
- انبعاث فوتوني متباين زمنيًا(بالإنجليزية: (Time-resolved photon emission (TRPE)) تستخدم لقياس شكل الموجة زمنيًا لجهاز شبه موصل. تنفذ قياسات الانبعاث الفوتوني المتباين زمنيًا على الجزء السفلي من الجهاز شبه الموصل. الأساس في الجهاز قيد الاختبار يتم تنحيفه ميكانيكيًا. يتم تثبيت الجهاز على قاعدة س-ص متحركة في وعاء مغلق يحجب كل مصادر الضوء. الجهاز قيد الاختبار يكون موصولًا بمنبه كهربائي فعّال. نمط هذا المنبه يتكرر باستمرار و يتم إرسال إشارة تنبيه إلى جهاز قياس الانبعاث الفوتوني المتباين زمنيًا لتشير عند تكرر هذا النمط. العامل على جهاز الانبعاث الفوتوني المتباين زمنيًا يعمل بطريقة مشابهة لكاشف الذبذبة بالعينات، و يتم استخدامه في تحليل الإخفاق لشبه الموصل. (ar)
- Time-resolved photon emission (TRPE) is used to measure timing waveforms on semiconductor devices. TRPE measurements are performed on the back side of the semiconductor device. The substrate of the device-under-test (DUT) must first be thinned mechanically. The device is mounted on a movable X-Y stage in an enclosure which shields it from all sources of light. The DUT is connected to an active electrical stimulus. The stimulus pattern is continuously looped and a trigger signal is sent to the TRPE instrument in order to tell it when the pattern repeats. A TRPE prober operates in a manner similar to a sampling oscilloscope, and is used to perform semiconductor failure analysis. (en)
|
| rdfs:label
|
- انبعاث فوتوني متباين زمنيا (ar)
- Time-resolved photon emission (en)
|
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageDisambiguates
of | |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
