dbo:abstract
|
- Die EXAFS-Spektroskopie (von englisch extended X-ray absorption fine structure, EXAFS) ist ein Verfahren der Röntgenabsorptionsspektroskopie zur Analyse der kantennahen Feinstruktur eines Röntgenspektrums. Mit dieser Methode kann die Art, Anzahl und Entfernung von Nachbaratomen (Liganden) eines bestimmten chemischen Elements in Molekülen, einer Flüssigkeit oder einem Festkörper bestimmt werden. Die Methode wird auch als SEXAFS-Spektroskopie (von engl. surface extended X-ray absorption fine structure) bezeichnet, wenn sie zur Untersuchung von Molekülen an Oberflächen (engl. surface) verwendet wird. Das Verfahren ist eng verwandt mit der Untersuchung der Röntgenabsorption direkt an der Absorptionskante, der Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (NEXAFS oder XANES). Mit ihr können unbesetzte Elektronenzustände (Orbitale) untersucht werden. (de)
- Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS), along with X-ray absorption near edge structure (XANES), is a subset of X-ray absorption spectroscopy (XAS). Like other absorption spectroscopies, XAS techniques follow Beer's law. The X-ray absorption coefficient of a material as a function of energy is obtained using X-rays of a narrow energy resolution are directed at a sample and the incident and transmitted x-ray intensity is recorded as the incident x-ray energy is incremented. When the incident x-ray energy matches the binding energy of an electron of an atom within the sample, the number of x-rays absorbed by the sample increases dramatically, causing a drop in the transmitted x-ray intensity. This results in an absorption edge. Every element has a set of unique absorption edges corresponding to different binding energies of its electrons, giving XAS element selectivity. XAS spectra are most often collected at synchrotrons because of the high intensity of synchrotron X-ray sources allow the concentration of the absorbing element to reach as low as a few parts per million. Absorption would be undetectable if the source is too weak. Because X-rays are highly penetrating, XAS samples can be gases, solids or liquids. (en)
- La spectroscopie EXAFS (Extended X-Ray Absorption Fine Structure) est une technique d'analyse de spectrométrie d'absorption des rayons X utilisant principalement le rayonnement synchrotron. Elle apporte des informations sur l'environnement atomique d'un élément donné. Contrairement à des méthodes telles que la diffraction de rayons X (XRD) qui nécessitent une structure régulière du matériau, la spectroscopie EXAFS est applicable dans tout type de milieu : solide, liquide, gaz et interfaces.Elle est généralement couplée avec la technique XANES (X-Ray Absorption Near Edge Structure). (fr)
- 広域X線吸収微細構造 (Extended X-ray Absorption Fine Structure) とはX線吸収スペクトルにおいて、吸収端から高エネルギー側に 1000eV 程度までの領域に見られる構造を呼ぶ。通常、EXAFS(イグザフス)と略される。 XANESよりも高いエネルギー領域では、励起された内殻電子がX線吸収原子から放出される(光電子)。放出された光電子は隣接する原子により散乱され(→散乱理論)、光電子とその散乱波との干渉により、内殻電子の励起確率、すなわちX線吸収係数が変化する。EXAFS領域における振動構造はこの効果による。 (ja)
- La spettroscopia EXAFS (dall'inglese extended X-ray absorption fine structure) è un tipo di spettroscopia XAS. Lo spettro XAS infatti viene convenzionalmente diviso nella regione XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure), da prima della soglia a 60-100 eV dopo la soglia, e nella regione EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure), che si estende fino alla fine dello spettro. (it)
- EXAFS is een afkorting voor Extended X-ray Absorption Fine Structure en is een techniek waarmee de structuur van de onmiddellijke omgeving van een bepaald atoom bestudeerd kan worden. (nl)
- EXAFS (ang. Extended X-Ray Absorption Fine Structure) – metoda wykorzystania subtelnej struktury blisko progu absorpcji promieniowania X, służąca do wyznaczania struktury fazy skondensowanej. Metoda ta umożliwia przeprowadzanie badań materiałów amorficznych. Wymagane jest użycie promieniowania o znacznym natężeniu i dlatego z reguły wykorzystuje się z promieniowanie synchrotronowe. Przechodzi ono przez braggowski monochromator o zmiennym i regulowanym nachyleniu, monitor, badaną próbkę oraz detekcyjną komorę jonizacyjną. Energie krawędzi absorpcji są określane dla każdego z pierwiastków. Interesujący jest przebieg krzywej absorpcji dla energii większych od krawędzi, w której zakodowane są informacje strukturalne które uzyskać można stosując transformatę Fouriera. Dodatkowo wyznacza się ile atomów, jakiego pierwiastka i w jakiej odległości znajduje się od atomu pierwiastka określonego przez krawędź absorpcji. Przy użyciu tej metody można podać wzajemne odległości atomów z dokładnością 1,5 pm. (pl)
|
dbo:thumbnail
| |
dbo:wikiPageExternalLink
| |
dbo:wikiPageID
| |
dbo:wikiPageLength
|
- 12689 (xsd:nonNegativeInteger)
|
dbo:wikiPageRevisionID
| |
dbo:wikiPageWikiLink
| |
dbp:date
| |
dbp:url
| |
dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
dcterms:subject
| |
rdf:type
| |
rdfs:comment
|
- La spectroscopie EXAFS (Extended X-Ray Absorption Fine Structure) est une technique d'analyse de spectrométrie d'absorption des rayons X utilisant principalement le rayonnement synchrotron. Elle apporte des informations sur l'environnement atomique d'un élément donné. Contrairement à des méthodes telles que la diffraction de rayons X (XRD) qui nécessitent une structure régulière du matériau, la spectroscopie EXAFS est applicable dans tout type de milieu : solide, liquide, gaz et interfaces.Elle est généralement couplée avec la technique XANES (X-Ray Absorption Near Edge Structure). (fr)
- 広域X線吸収微細構造 (Extended X-ray Absorption Fine Structure) とはX線吸収スペクトルにおいて、吸収端から高エネルギー側に 1000eV 程度までの領域に見られる構造を呼ぶ。通常、EXAFS(イグザフス)と略される。 XANESよりも高いエネルギー領域では、励起された内殻電子がX線吸収原子から放出される(光電子)。放出された光電子は隣接する原子により散乱され(→散乱理論)、光電子とその散乱波との干渉により、内殻電子の励起確率、すなわちX線吸収係数が変化する。EXAFS領域における振動構造はこの効果による。 (ja)
- La spettroscopia EXAFS (dall'inglese extended X-ray absorption fine structure) è un tipo di spettroscopia XAS. Lo spettro XAS infatti viene convenzionalmente diviso nella regione XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure), da prima della soglia a 60-100 eV dopo la soglia, e nella regione EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure), che si estende fino alla fine dello spettro. (it)
- EXAFS is een afkorting voor Extended X-ray Absorption Fine Structure en is een techniek waarmee de structuur van de onmiddellijke omgeving van een bepaald atoom bestudeerd kan worden. (nl)
- Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS), along with X-ray absorption near edge structure (XANES), is a subset of X-ray absorption spectroscopy (XAS). Like other absorption spectroscopies, XAS techniques follow Beer's law. The X-ray absorption coefficient of a material as a function of energy is obtained using X-rays of a narrow energy resolution are directed at a sample and the incident and transmitted x-ray intensity is recorded as the incident x-ray energy is incremented. (en)
- Die EXAFS-Spektroskopie (von englisch extended X-ray absorption fine structure, EXAFS) ist ein Verfahren der Röntgenabsorptionsspektroskopie zur Analyse der kantennahen Feinstruktur eines Röntgenspektrums. Mit dieser Methode kann die Art, Anzahl und Entfernung von Nachbaratomen (Liganden) eines bestimmten chemischen Elements in Molekülen, einer Flüssigkeit oder einem Festkörper bestimmt werden. Die Methode wird auch als SEXAFS-Spektroskopie (von engl. surface extended X-ray absorption fine structure) bezeichnet, wenn sie zur Untersuchung von Molekülen an Oberflächen (engl. surface) verwendet wird. (de)
- EXAFS (ang. Extended X-Ray Absorption Fine Structure) – metoda wykorzystania subtelnej struktury blisko progu absorpcji promieniowania X, służąca do wyznaczania struktury fazy skondensowanej. Metoda ta umożliwia przeprowadzanie badań materiałów amorficznych. Przy użyciu tej metody można podać wzajemne odległości atomów z dokładnością 1,5 pm. (pl)
|
rdfs:label
|
- EXAFS-Spektroskopie (de)
- Extended X-ray absorption fine structure (en)
- EXAFS (fr)
- Spettroscopia EXAFS (it)
- 広域X線吸収微細構造 (ja)
- EXAFS (nl)
- EXAFS (pl)
|
owl:sameAs
| |
prov:wasDerivedFrom
| |
foaf:depiction
| |
foaf:isPrimaryTopicOf
| |
is dbo:knownFor
of | |
is dbo:wikiPageRedirects
of | |
is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
is dbp:knownFor
of | |
is foaf:primaryTopic
of | |