Device under test (DUT), also known as equipment under test (EUT) and unit under test (UUT), is a term used to refer to a manufactured product undergoing testing, either at first manufacture or later during its life cycle as part of ongoing functional testing and calibration checks. This can include a test after repair to establish that it's performing in accordance with the original product specification.

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  • Als Device Under Test (dt.: Prüfling), kurz DUT, wird vor allem in der elektrischen Mess- und Prüftechnik ein zu prüfendes Objekt bezeichnet. Das kann ein isolierter Bereich auf einem Wafer, ein einzelnes Bauteil, eine Baugruppe oder ein komplettes Gerät sein. Welche Funktionen des DUT geprüft werden, ist abhängig von seiner Art, den zu ermittelnden Testparametern oder Messwerten und den zur Verfügung stehenden Prüfmitteln und Messgeräten. (de)
  • Device under test (DUT), also known as equipment under test (EUT) and unit under test (UUT), is a term used to refer to a manufactured product undergoing testing, either at first manufacture or later during its life cycle as part of ongoing functional testing and calibration checks. This can include a test after repair to establish that it's performing in accordance with the original product specification. (en)
  • 被测器件(英语:device under test,DUT)或被测装置,又称在测单元或被测部件(unit under test,UUT),常用於表示正处於测试阶段的工业产品。 (zh)
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  • Als Device Under Test (dt.: Prüfling), kurz DUT, wird vor allem in der elektrischen Mess- und Prüftechnik ein zu prüfendes Objekt bezeichnet. Das kann ein isolierter Bereich auf einem Wafer, ein einzelnes Bauteil, eine Baugruppe oder ein komplettes Gerät sein. Welche Funktionen des DUT geprüft werden, ist abhängig von seiner Art, den zu ermittelnden Testparametern oder Messwerten und den zur Verfügung stehenden Prüfmitteln und Messgeräten. (de)
  • Device under test (DUT), also known as equipment under test (EUT) and unit under test (UUT), is a term used to refer to a manufactured product undergoing testing, either at first manufacture or later during its life cycle as part of ongoing functional testing and calibration checks. This can include a test after repair to establish that it's performing in accordance with the original product specification. (en)
  • 被测器件(英语:device under test,DUT)或被测装置,又称在测单元或被测部件(unit under test,UUT),常用於表示正处於测试阶段的工业产品。 (zh)
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  • Device Under Test (de)
  • Device under test (en)
  • 被测器件 (zh)
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