About: X-ray photoelectron spectroscopy   Goto Sponge  NotDistinct  Permalink

An Entity of Type : yago:Technique105665146, within Data Space : dbpedia.org associated with source document(s)

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique that measures the elemental composition at the parts per thousand range, empirical formula, chemical state and electronic state of the elements that exist within a material. XPS spectra are obtained by irradiating a material with a beam of X-rays while simultaneously measuring the kinetic energy and number of electrons that escape from the top 0 to 10 nm of the material being analyzed. XPS requires high vacuum (P ~ 10−8 millibar) or ultra-high vacuum (UHV; P < 10−9 millibar) conditions, although a current area of development is ambient-pressure XPS, in which samples are analyzed at pressures of a few tens of millibar.

AttributesValues
rdf:type
rdfs:label
  • X-ray photoelectron spectroscopy
  • Röntgenphotoelektronenspektroskopie
  • Espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X
  • Spectrométrie photoélectronique X
  • Spettroscopia fotoelettronica a raggi X
  • X線光電子分光
  • Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
  • Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X
  • Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
  • X射线光电子能谱学
rdfs:comment
  • La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X. Elle a été mise au point à l'université d'Uppsala (Suède) dans les années 1960, sous la direction de Kai Siegbahn, ce qui lui a valu le prix Nobel en 1981. La méthode était anciennement nommée ESCA (electron spectroscopy for chemical analysis : spectroscopie d'électron pour l'analyse chimique).
  • La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, comunemente indicata con XPS o XPES (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, per la precisione una spettroscopia ESCA, utilizzata per sondare le superfici dei materiali. Essa consente infatti di conoscere gli elementi chimici che compongono la superficie di un materiale e di determinarne talvolta lo stato di legame.
  • X線光電子分光(エックスせんこうでんしぶんこう)は、光電子分光の1種である。略称はXPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) または ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, エスカ)。サンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することができる。他にもPES、PS等とも呼ばれる。
  • Rentgenowska spektrometria fotoelektronów (XPS, z ang. X-ray photoelectron spectroscopy) – odmiana spektroskopii elektronowej, polegająca na analizie rozkładu energii kinetycznej fotoelektronów emitowanych w wyniku wzbudzenia próbki promieniowaniem charakterystycznym z zakresu miękkiego promieniowania rentgenowskiego.
  • X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique that measures the elemental composition at the parts per thousand range, empirical formula, chemical state and electronic state of the elements that exist within a material. XPS spectra are obtained by irradiating a material with a beam of X-rays while simultaneously measuring the kinetic energy and number of electrons that escape from the top 0 to 10 nm of the material being analyzed. XPS requires high vacuum (P ~ 10−8 millibar) or ultra-high vacuum (UHV; P < 10−9 millibar) conditions, although a current area of development is ambient-pressure XPS, in which samples are analyzed at pressures of a few tens of millibar.
  • Espectroscopia de Fotoelectrones emitidos por Rayos X (XPS) es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), estado químico y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material.Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el ánodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vacío debido a que a presiones mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser del orden de varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medici
  • Röntgenphotoelektronenspektroskopie (englisch: X-ray photoelectron spectroscopy, XPS, oft auch electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) ist eine etablierte Methode aus der Gruppe der Photoelektronenspektroskopien (PES), um die chemische Zusammensetzung vor allem von Festkörpern bzw. deren Oberfläche zerstörungsfrei zu bestimmen. Man erhält dabei zunächst eine Antwort auf die Frage der qualitativen Elementanalyse, also aus welchen chemischen Elementen der Festkörper besteht. Lediglich Wasserstoff und Helium können aufgrund geringer Wirkungsquerschnitte nicht direkt nachgewiesen werden. Die Informationstiefe entspricht der Ausdringtiefe der ungestreuten bzw. elastisch gestreuten Elektronen und beträgt in der Regel bis zu drei Nanometer. Mit winkelaufgelöster Photoelektronenspektros
  • Se procura pelo formato de arquivo digital conhecido por XPS, consulte XML Paper Specification. Para estes ou outros significados, ascenda à página de desambiguação. A Espectroscopia de Fotoelétrons Excitados por raios X (XPS, X-ray Photoelectron Spectroscopy), também conhecida por Espectroscopia de Elétrons para Análise Química (ESCA, Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) ou às vezes por Espectroscopia Röntgen de Fotoelétrons, é uma técnica experimental de análise que encontra grande aplicação em áreas onde o estudo físico-químico de amostras mostre-se importante. Em especial, é de grande valia em trabalhos na área da física do estado sólido.
  • X射线光电子能谱学(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,简称XPS)是一种用於测定材料中元素构成、实验式,以及其中所含元素化学态和电子态的定量能谱技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料,同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量,从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术需要在超高真空环境下进行。 XPS是一种表面化学分析技术,可以用来分析金属材料在特定状态下或在一些加工处理后的表面化学。这些加工处理方法包括空气或超高真空中的压裂、切割、刮削,用於清除某些表面污染的离子束蚀刻,为研究受热时的变化而置于加热环境,置于可反应的气体或溶剂环境,置于离子注入环境,以及置于紫外线照射环境等。 XPS可以用来测量: * 表面的元素构成(通常范围为1纳米到10纳米) * 纯净材料的实验式 * 不纯净表面的杂质的元素构成 * 表面每一种元素的化学态和电子态 * 表面元素构成的均匀性 由于对特定波长的X射线,其能量是已知的,对于每一个出射电子所具有的电子结合能可以由下面公式求出: 其中 是电子结合能, 是所用的X射线的光子的能量, 是被测量到的电子的动能, 是能谱仪(而不是材料)的功函数,这一公式是基于欧内斯特·卢瑟福在1914年的工作得来的。
  • Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) — полуколичественный спектроскопический метод исследования элементного состава, химического и электронного состояния атомов, на поверхности изучаемого материала. Он основан на явлении внешнего фотоэффекта. Спектры РФЭС получают облучением материала пучком рентгеновских лучей с регистрацией зависимости количества испускаемых электронов от их кинетической энергии. Исследуемые электроны эмиттируются по всей глубине проникновения используемого мягкого рентгеновского излучения в исследуемый образец (обычно порядка 1 мкм, что очень много по сравнению с размерами атомов и молекул). Однако, выбитые рентгеновскими квантами электроны сильно поглощаются исследуемым веществом настолько, что эмиттированные на глубине около 100 Å они уже не могут достич
sameAs
dct:subject
Wikipage page ID
Wikipage revision ID
Link from a Wikipage to another Wikipage
Faceted Search & Find service v1.17_git21 as of Mar 09 2019


Alternative Linked Data Documents: PivotViewer | iSPARQL | ODE     Content Formats:       RDF       ODATA       Microdata      About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3230 as of May 1 2019, on Linux (x86_64-generic-linux-glibc25), Single-Server Edition (61 GB total memory)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2019 OpenLink Software