This HTML5 document contains 53 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n24https://www.youtube.com/
yago-reshttp://yago-knowledge.org/resource/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
n8http://dbpedia.org/resource/File:
n16https://global.dbpedia.org/id/
n13http://igorbarsukov.com/
dbthttp://dbpedia.org/resource/Template:
n7http://nanometrologie.cz/en/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
freebasehttp://rdf.freebase.com/ns/
dbpedia-plhttp://pl.dbpedia.org/resource/
n18http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
wikipedia-enhttp://en.wikipedia.org/wiki/
dbchttp://dbpedia.org/resource/Category:
dbphttp://dbpedia.org/property/
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/
goldhttp://purl.org/linguistics/gold/
dbrhttp://dbpedia.org/resource/
dbpedia-jahttp://ja.dbpedia.org/resource/

Statements

Subject Item
dbr:Scanning_thermal_microscopy
rdfs:label
Skaningowy mikroskop termiczny Scanning thermal microscopy 走査型熱顕微鏡
rdfs:comment
Scanning thermal microscopy (SThM) is a type of scanning probe microscopy that maps the local temperature and thermal conductivity of an interface. The probe in a scanning thermal microscope is sensitive to local temperatures – providing a nano-scale thermometer. Thermal measurements at the nanometer scale are of both scientific and industrial interest. The technique was invented by Clayton C. Williams and H. Kumar Wickramasinghe in 1986. 走査型熱顕微鏡（そうさがたねつけんびきょう、Scanning thermal microscopy : SThM）は、走査型プローブ顕微鏡の一種。 Skaningowy mikroskop termiczny (z ang. TSM – Thermal Scanning Microscope) – mierzy przewodność cieplną powierzchni badanego materiału. Dźwigienka, wykonana z dwóch rodzajów metali, różniących się właściwościami przewodnictwa cieplnego, reaguje różnym wychyleniem na zmiany przewodności cieplnej próbki. Sonda skanująca nie styka się z badaną powierzchnią. W wyniku pomiaru otrzymuje się obraz topografii próbki. Mikroskop należy do mikroskopów SPM, w których na ramieniu skaningowym porusza się sonda mierząca dany parametr.
foaf:depiction
n18:Scanning_thermal_microscopy_tip.jpg n18:N-V_center_based_thermal_probe.jpg
dcterms:subject
dbc:Scanning_probe_microscopy
dbo:wikiPageID
20893805
dbo:wikiPageRevisionID
1088492421
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Ultralarge-scale_integration dbr:Semiconductor_devices dbc:Scanning_probe_microscopy dbr:Sapphire dbr:Scanning_probe_microscopy n8:N-V_center_based_thermal_probe.jpg dbr:Lithography dbr:Bolometer dbr:Thermal_conductivity n8:Scanning_thermal_microscopy_tip.jpg dbr:Latent_heat dbr:Heat_capacity dbr:Phase_changes dbr:Joule_heating dbr:H._Kumar_Wickramasinghe dbr:Enthalpy dbr:Hot-spots dbr:Data_storage_device dbr:Calorimetry dbr:Low_temperature dbr:Glass_transition_temperature
dbo:wikiPageExternalLink
n7:techs_sthm.php n13:projects.html%23SThM n24:watch%3Fv=zSvm1KaEd6k
owl:sameAs
wikidata:Q30936630 dbpedia-pl:Skaningowy_mikroskop_termiczny freebase:m.05b32dy n16:2sJoC yago-res:Scanning_thermal_microscopy dbpedia-ja:走査型熱顕微鏡 wikidata:Q9357421
dbp:wikiPageUsesTemplate
dbt:Scanning_probe_microscopy dbt:Commons_category dbt:Reflist
dbo:thumbnail
n18:Scanning_thermal_microscopy_tip.jpg?width=300
dbo:abstract
Scanning thermal microscopy (SThM) is a type of scanning probe microscopy that maps the local temperature and thermal conductivity of an interface. The probe in a scanning thermal microscope is sensitive to local temperatures – providing a nano-scale thermometer. Thermal measurements at the nanometer scale are of both scientific and industrial interest. The technique was invented by Clayton C. Williams and H. Kumar Wickramasinghe in 1986. 走査型熱顕微鏡（そうさがたねつけんびきょう、Scanning thermal microscopy : SThM）は、走査型プローブ顕微鏡の一種。 Skaningowy mikroskop termiczny (z ang. TSM – Thermal Scanning Microscope) – mierzy przewodność cieplną powierzchni badanego materiału. Dźwigienka, wykonana z dwóch rodzajów metali, różniących się właściwościami przewodnictwa cieplnego, reaguje różnym wychyleniem na zmiany przewodności cieplnej próbki. Sonda skanująca nie styka się z badaną powierzchnią. W wyniku pomiaru otrzymuje się obraz topografii próbki. Mikroskop należy do mikroskopów SPM, w których na ramieniu skaningowym porusza się sonda mierząca dany parametr.
gold:hypernym
dbr:Microscopy
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-en:Scanning_thermal_microscopy?oldid=1088492421&ns=0
dbo:wikiPageLength
11522
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-en:Scanning_thermal_microscopy