| rdfs:comment
| - L'espectroscòpia de raigs X (en anglès: X-ray spectroscopy) és un terme que agrupa diverses tècniques d'espectroscòpia per caracteritzar materials usant l'excitació dels raigs X. (ca)
- La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. (fr)
- X-ray spectroscopy is a general term for several spectroscopic techniques for characterization of materials by using x-ray radiation. (en)
- X선 분광학은 X선을 이용하여 물질의 전자 구조를 결정하는 여러 분광학 기술을 통합하여 가리키는 말이다. (ko)
- La spettroscopia a raggi X (in inglese X-ray spectroscopy) è un insieme di tecniche basate sull'impiego di radiazione X. Le spettroscopie a raggi X sono:
* (core level spectroscopy):
* Spettroscopia EDX (energy dispersive X-ray analysis)
* Spettroscopia XAS (X-ray absorption spectroscopy): XANES, EXAFS, NEXAFS
* (X-ray emission spectroscopy)
* Spettroscopia Auger (Auger electron spectroscopy, AES)
* Spettroscopia fotoelettronica a raggi X (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS; electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA)
* Fluorescenza X:
* Spettrofotometria XRF (X-ray fluorescence) (it)
- Röntgenspektroskopi omfattar en mängd olika spektroskopiska mättekniker som har gemensamt att röntgenstrålning används för att analysera ett materialprov. Röntgenstrålningsområdet indelas i minst två energi- eller våglängdsområden (gränserna är dock inte särskilt skarpa): mjukröntgenstrålning (under cirka 10 keV) och hårdröntgenstrålning (över cirka 10 keV). (sv)
- Рентге́нівська спектроскопі́я — загальна назва декількох методів рентгенівського спектрального аналізу. На основі деяких з них проводять елементний аналіз речовини за її рентгенівськими спектрами. Якісний аналіз виконують за спектральним положенням характеристичних ліній у спектрі випромінювання досліджуваного зразка, його основа — закон Мозлі, що встановлює зв'язок між частотою характеристичного рентгенівського випромінювання елемента і його атомним номером; кількісний аналіз здійснюють за інтенсивностями цих ліній. Методом рентгенівського спектрального аналізу можуть бути визначені всі елементи з атомним номером Z > 11 (у деяких випадках і більш легкі). Поріг чутливості методу в більшості випадків 10-2-10-4%, тривалість — декілька хвилин (разом з підготовкою проби); метод не руйнує пробу. (uk)
- Рентгеноспектра́льный ана́лиз — инструментальный метод элементного анализа, основанный на изучении спектра рентгеновских лучей, прошедших сквозь образец или испущенных им. (ru)
- مطيافية الأشعة السينية هو مصطلح عام لعدة تقنيات طيفية لتوصيف المواد باستخدام إثارة الأشعة السينية. عندما يتم تحفيز إلكترون من الغلاف الداخلي للذرة بواسطة طاقة الفوتون، فإنه ينتقل إلى مستوى طاقة أعلى. عندما تعود إلى مستوى الطاقة المنخفض، تنبعث الطاقة التي اكتسبتها من قبل الإثارة كالفوتون الذي له طول موجي مميز للعنصر (يمكن أن يكون هناك عدة أطوال موجية مميزة لكل عنصر). ينتج تحليل طيف انبعاث الأشعة السينية نتائج نوعية عن التكوين الأولي للعينة. مقارنة طيف العينة مع أطياف عينات من تكوين معروف ينتج نتائج كمية. يمكن إثارة الذرات بواسطة حزمة عالية الطاقة من الجسيمات المشحونة مثل الإلكترونات (في المجهر الإلكتروني على سبيل المثال)، أو البروتونات أو شعاع من الأشعة السينية. هذه الطرق تمكن عناصر من الجدول الدوري بأكمله ليتم تحليلها، باستثناء (الهيدروجين، الهيليوم، الليثيوم). في المجهر الإلكتروني يقوم شع (ar)
- Röntgenspektroskopie (XRS für engl. X-Ray Spectroscopy) ist der Oberbegriff für viele unterschiedliche spektroskopische Messverfahren der Physik, die alle die Röntgenstrahlung anwenden:
* Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS)
* Röntgenemissionsspektroskopie (XES)
* Photoelektronenspektroskopie (XPS)
* Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)
* Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
* Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDX)
* Partikelinduzierte Röntgenspektroskopie (PIXE). Grob lässt sich der Röntgenstrahlungs-Teil des elektromagnetischen Spektrums weiter einteilen in: (de)
- La espectroscopia de rayos X es un nombre genérico que abarca todas aquellas técnicas espectroscópicas utilizadas para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. La espectroscopia de rayos X tiene una amplia gama de aplicaciones, en especial en la determinación de estructuras cristalinas y muestras sólidas. (es)
|
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)