| rdfs:comment
| - X線光電子分光（エックスせんこうでんしぶんこう）は、光電子分光の1種である。略称はXPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) または ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, エスカ)。サンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することができる。他にもPES、PS等とも呼ばれる。 (ja)
- La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, comunemente indicata con XPS o XPES (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, per la precisione una spettroscopia ESCA, utilizzata per sondare le superfici dei materiali. Essa consente infatti di conoscere gli elementi chimici che compongono la superficie di un materiale e di determinarne talvolta lo stato di legame. (it)
- Rentgenowska spektrometria fotoelektronów (XPS, z ang. X-ray photoelectron spectroscopy) – odmiana spektroskopii elektronowej polegająca na analizie rozkładu energii kinetycznej fotoelektronów emitowanych w wyniku wzbudzenia próbki promieniowaniem charakterystycznym z zakresu miękkiego promieniowania rentgenowskiego. (pl)
- Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (англ. X-ray photoelectron spectroscopy) — метод визначення елементного складу твердої поверхні шляхом бомбардування її рентгенівським випроміненням і реєстрації кількості утворених фотоелектронів як функції енергії (або частоти випромінення). Широко використовується для ідентифікації елементів, їх концентрацій та їх хімічного стану як у самому зразку, так і на його поверхні. У твердофазній комбінаторній хімії застосовується шляхом включення міченого атома у лінкер. (uk)
- XPS مطيافية الاشعه السينيه الإلكتروضوئية مطيافية الاشعة السينية : هي تقنية طيفية تقوم بقياس التكوين العنصري، الصيغة التجريبية، الحالة الكيميائية والحالة الإلكترونية للعناصر الموجودة في المادة المكونه لسطح عينة ما .يتم الحصول على الاشعه السينية المستخدمة عن طريق اشعاع مادة مع شعاع من الاشعة السينية حيث يتم قياس الطاقة الحركية وعدد الالكترونات.مطيافية الاشعه السينية تستخدم لقياس أسطح المواد الكيميائية في حالتها الطبيعية أو في الحالة المعالجة مثل التكسير أو القطع أو التجريف في الهواء . (ar)
- espectroscòpia de fotoelectrons emesos per Raigs X (XPS) és una Espectroscòpia semi-quantitativa i de baixa resolució espacial que habitualment s'utilitza per estimar l'estequiometria (amb un error del 10% aproximadament), estat químic i l'estructura electrònica dels elements que hi ha en un material. Els espectres XPS són obtinguts quan una mostra és irradiada per raigs X (habitualment l'ànode potser d'Al o Mg) mentre es mesura l'energia cinètica i el nombre d'electrons que escapen de la superfície del material analitzat. (ca)
- La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. (es)
- Röntgenphotoelektronenspektroskopie (englisch: X-ray photoelectron spectroscopy, XPS, oft auch electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) ist eine etablierte Methode aus der Gruppe der Photoelektronenspektroskopien (PES), um die chemische Zusammensetzung vor allem von Festkörpern bzw. deren Oberfläche zerstörungsfrei zu bestimmen. Man erhält dabei zunächst eine Antwort auf die Frage der qualitativen Elementanalyse, also aus welchen chemischen Elementen der Festkörper besteht. Lediglich Wasserstoff und Helium können aufgrund geringer Wirkungsquerschnitte nicht direkt nachgewiesen werden. Die Informationstiefe entspricht der Ausdringtiefe der ungestreuten bzw. elastisch gestreuten Elektronen und beträgt in der Regel bis zu drei Nanometer. Mit winkelaufgelöster Photoelektronenspektros (de)
- La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X. Dans une expérience XPS, l'échantillon est bombardé par des rayons X d'une certaine longueur d'onde, ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l'échantillon. Pour une analyse qualitative, l'élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1 %, tandis qu'une analyse quantitative peut être effectuée si 5 % de l'élément est présent. (fr)
- X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is a surface-sensitive quantitative spectroscopic technique based on the photoelectric effect that can identify the elements that exist within a material (elemental composition) or are covering its surface, as well as their chemical state, and the overall electronic structure and density of the electronic states in the material. XPS is a powerful measurement technique because it not only shows what elements are present, but also what other elements they are bonded to. The technique can be used in line profiling of the elemental composition across the surface, or in depth profiling when paired with ion-beam etching. It is often applied to study chemical processes in the materials in their as-received state or after cleavage, scraping, exposure to heat, (en)
- A espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X ou XPS (do inglês X-ray photoelectron spectroscopy, também conhecida por espectroscopia de elétrons para análise química (ESCA, electron spectroscopy for chemical analysis) ou às vezes por espectroscopia Röntgen de fotoelétrons, é uma técnica experimental de análise que encontra grande aplicação em áreas onde o estudo físico-químico de amostras mostre-se importante. Em especial, é de grande valia em trabalhos na área da física do estado sólido. (pt)
- Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) — полуколичественный спектроскопический метод исследования элементного состава, химического и электронного состояния атомов, на поверхности изучаемого материала. Он основан на явлении внешнего фотоэффекта. Спектры РФЭС получают облучением материала пучком рентгеновских лучей с регистрацией зависимости количества испускаемых электронов от их энергии связи. Исследуемые электроны эмиттируются по всей глубине проникновения используемого мягкого рентгеновского излучения в исследуемый образец (обычно порядка 1 мкм, что очень много по сравнению с размерами атомов и молекул). Однако, выбитые рентгеновскими квантами электроны сильно поглощаются исследуемым веществом настолько, что эмиттированные на глубине около 100 Å они уже не могут достичь повер (ru)
- X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种用於测定材料中元素构成、实验式，以及其中所含元素和的定量技术。这种技术用X射线照射所要分析的材料，同时测量从材料表面以下1纳米到10纳米范围内逸出电子的动能和数量，从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术需要在超高真空环境下进行。在几十个毫巴气压下分析样品的常压XPS技术也有所发展。 XPS是一种表面化学分析技术，可以用来分析金属材料在特定状态下或在一些加工处理后的表面化学。这些加工处理方法包括空气或超高真空中的压裂、切割、刮削，用於清除某些表面污染的，为研究受热时的变化而置于加热环境，置于可反应的气体或溶剂环境，置于离子注入环境，以及置于紫外线照射环境等。 XPS可以用来测量：
* 表面的元素构成（通常范围为1纳米到10纳米）
* 纯净材料的实验式
* 不纯净表面的杂质的元素构成
* 表面每一种元素的化学态和电子态
* 表面元素构成的均匀性 由于对特定波长的X射线，其能量是已知的，对于每一个出射电子所具有的电子结合能可以由下面公式求出： 其中是电子结合能，是所用的X射线的光子的能量，是被测量到的电子的动能，是（而不是材料）的功函数，与材料表面相关。这一公式是基于欧内斯特·卢瑟福在1914年的工作得来的。 (zh)
|
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)