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| - Un microscopi electrònic de transmissió (TEM, per les seves sigles en anglès de Transmission Electron Microscope, o MET, en català) és un microscopi que utilitza un feix d'electrons per visualitzar un objecte. La potència amplificadora d'un microscopi òptic està limitada per la longitud d'ona de la llum visible. A causa que els electrons tenen una longitud d'ona molt menor que la de la llum visible, poden mostrar estructures molt més petites. Entre altres coses, s'utilitza en microbiologia, ja que permet observar l'estructura dels virus, i en nanoenginyeria. (ca)
- Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, steht auch für Transmissionselektronenmikroskop) ist eine Betriebsart für Elektronenmikroskope, die eine direkte Abbildung von Objekten mithilfe von Elektronenstrahlen ermöglicht. In den 1930er-Jahren wurde erstmals das Auflösungsvermögen von optischen Mikroskopen durch die bahnbrechenden Arbeiten von Max Knoll und seinem damaligen Doktoranden Ernst Ruska überschritten. Letzterer wurde 1986 mit dem Nobelpreis für Physik ausgezeichnet. Die derzeitige Auflösungsgrenze liegt bei 0,045 nm. (de)
- Un microscopio electrónico de transmisión (TEM por su sigla en inglés, o MET en español) es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un objeto, debido a que la potencia amplificadora de un microscopio óptico está limitada por la longitud de onda de la luz visible. Lo característico de este microscopio es el uso de una muestra ultrafina y que la imagen se obtenga de los electrones que atraviesan la muestra. Los microscopios electrónicos de transmisión pueden disminuir un objeto hasta un millón de veces. (es)
- Il microscopio elettronico a trasmissione, di solito indicato con l'acronimo TEM, dall'inglese transmission electron microscope, è un tipo di microscopio elettronico. (it)
- 透過型電子顕微鏡（とうかがたでんしけんびきょう、Transmission Electron Microscope; TEM）とは、電子顕微鏡の一種である。観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡のこと。また、電子の波動性を利用し、試料内での電子の回折 (電子回折) の結果生じる干渉像から観察対象物の構造を観察する場合もある。物理学、化学、工学、生物学、医学などで幅広く用いられている。 (ja)
- Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM, z ang. transmission electron microscope) – rejestrowane są elektrony przechodzące przez próbkę. Próbką w takim mikroskopie musi być cienka płytka o grubości rzędu setek nanometrów. Przygotowanie takiej próbki jest trudne i znacznie ogranicza zastosowania mikroskopu. (pl)
- Трансмісійний електронний мікроскоп (Просвічуючий електронний мікроскоп, ТЕМ — TEM — англ. Transmission Electron Microscope) — вид електронного мікроскопа який дозволяє отримувати пряме зображення об'єкта за допомогою електронного променя. Техніка просвічення електронами (трансмісії) тонких об'єктів дозволяє отримувати розділення до 0,08 нм, а при використанні техніки електронного коректування аберації — ТЕАМ (Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) отримувати розділення і 0,05 нм. (uk)
- المجهر الإلكتروني النافذ (Transmission electron microscopy) والذي يرمز له اختصاراً TEM يعد المجهر الإلكتروني النافذ أداة قوية جدًا لعلوم المواد. تضيء حزمة عالية الطاقة من الإلكترونات عبر عينة رقيقة جدًا، ويمكن استخدام التفاعلات بين الإلكترونات والذرات لمراقبة ميزات مثل البنية البلورية والميزات في بنية مثل الخلع وحدود الحبوب. يمكن أيضا إجراء التحليل الكيميائي. يمكن استخدام TEM لدراسة نمو الطبقات وتكوينها وعيوبها في أشباه الموصلات. يمكن استخدام دقة عالية لتحليل نوعية وشكل وحجم وكثافة الآبار الكمومية والأسلاك والنقاط. (ar)
- Transmisní elektronový mikroskop (TEM) je elektronový mikroskop umožňující zobrazení a měření strukturních, chemických a mechanických vlastností látek až na atomární úrovni. Na rozdíl od světelného mikroskopu nevyužívá k pozorování viditelného světla ale urychlených elektronů. Na rozdíl od skenovacího elektronového mikroskopu (SEM), který primárně mapuje povrchu vzorku, TEM vzorek prosvěcí a přináší tak informaci z jeho objemu. Česká republika patří ke světové špičce jak ve výrobě elektronových mikroskopů, tak v oblasti související vědy a výzkumu. (cs)
- La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour Transmission Electron Microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire 0,04 nm). Les images obtenues ne sont généralement pas explicites, et doivent être interprétées à l'aide d'un support théorique. L'intérêt principal de ce microscope est de pouvoir combiner cette grande résolution avec les informations de l'espace de Fourier, c'est-à-dire la diffraction. Il est aussi possible d'identifier la composition chimique de l'échantillon en étudiant le rayonnement X provoqué par le faisceau électronique. Contrair (fr)
- Mikroskop transmisi elektron (bahasa Inggris: Transmission electron microscopy, disingkat TEM) adalah teknik mikroskop di mana berkas elektron ditransmisikan melalui spesimen untuk membentuk gambar. Spesimen paling sering merupakan bagian yang sangat tipis dengan tebal kurang dari 100 nm atau suspensi pada bingkai. Sebuah gambar terbentuk dari interaksi elektron dengan sampel saat berkas ditransmisikan melalui benda uji. Gambar kemudian diperbesar dan difokuskan ke perangkat pencitraan, seperti layar fluoresen, lapisan film gulung, atau sensor seperti kilau yang dipasang ke peranti tergandeng-muatan. (in)
- Transmission electron microscopy (TEM) is a microscopy technique in which a beam of electrons is transmitted through a specimen to form an image. The specimen is most often an ultrathin section less than 100 nm thick or a suspension on a grid. An image is formed from the interaction of the electrons with the sample as the beam is transmitted through the specimen. The image is then magnified and focused onto an imaging device, such as a fluorescent screen, a layer of photographic film, or a sensor such as a scintillator attached to a charge-coupled device. (en)
- Um microscópio eletrônico de transmissão (português brasileiro) ou microscópio eletrónico de transmissão (português europeu) (MET) é um microscópio no qual um feixe de elétrons é emitido em direção a uma amostra ultra fina, interagindo com a amostra enquanto a atravessa. A interação dos elétrons transmitidos através da amostra forma uma imagem que é ampliada e focada em um dispositivo de imagem, como uma tela fluorescente em uma camada de filme fotográfico, ou detectada por um sensor como uma câmera CCD. (pt)
- Просве́чивающий (трансмиссио́нный) электро́нный микроско́п (ПЭМ, англ, TEM — Transmission electron microscopy) — устройство для получения изображения с помощью проходящего через образец пучка электронов. Так как поток электронов сильно поглощается веществом, изучаемые образцы должны иметь очень маленькую толщину, так называемые ультратонкие образцы. Ультратонким считается образец толщиной менее 0,1 мкм. (ru)
- 透射电子显微镜（英語：Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如、胶片、以及）上显示出来。 由于电子的德布罗意波长非常短，透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，可以达到0.1～0.2 nm，放大倍数为几万～百万倍。因此，使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构，比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数千倍。TEM在物理学和生物学等相关的许多科学领域中都是重要的分析方法，如、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。 在放大倍数较低的时候，TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候，复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同，因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式，可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。 (zh)
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