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| - Journal of Applied Crystallography (abrégé en J. Appl. Crystallogr.) est une revue scientifique à comité de lecture. Ce bimestriel publie des articles de recherches dans le domaine de la cristallographie appliquée. D'après le Journal Citation Reports, le facteur d'impact de ce journal était de 3,161 en 2018. Actuellement, le directeur de publication est Andrew J. Allen (National Institute of Standards and Technology, États-Unis). À partir de 2014 la revue est publiée exclusivement en ligne. (fr)
- Das Journal of Applied Crystallography (abgekürzt: J. Appl. Crystallogr. oder J. Appl. Cryst.) ist eine im Peer-Review-Verfahren erscheinende wissenschaftliche Fachzeitschrift der International Union of Crystallography, die bei Wiley-Blackwell erscheint. Sie erschien erstmals 1968 und behandelt die Anwendung der Kristallographie und kristallographischer Techniken. Das Journal of Applied Crystallography veröffentlicht Artikel über kristallographische Methoden, die genutzt werden, um kristalline und nicht-kristalline Materialien mit Hilfe von Neutronen, Röntgenstrahlen und Elektronen zu untersuchen, deren Anwendung in der Erforschung Kondensierter Materie, der Materialwissenschaft und der Biowissenschaften, sowie die Nutzung zur Identifikation von Phasenübergängen und strukturellen Änderunge (de)
- The Journal of Applied Crystallography is a peer-reviewed scientific journal published by Wiley-Blackwell on behalf of the International Union of Crystallography. It was established in 1968 and covers the application of crystallography and crystallographic techniques. William Parrish (1914–1991) chaired the committee that started the journal. The Journal of Applied Crystallography publishes articles on the crystallographic methods that are used to study crystalline and non-crystalline matter with neutrons, X-rays and electrons, their application in condensed matter research, materials science and the life sciences, and their use in identifying phase transformations and structural changes of defects, structure-property relationships, interfaces and surfaces etc. The journal also covers deve (en)
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