This HTML5 document contains 95 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
yago-reshttp://yago-knowledge.org/resource/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
n27http://dbpedia.org/resource/File:
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
n21http://www.etesters.com/see/
n8https://global.dbpedia.org/id/
n19http://www.changpuak.ch/electronics/
n18https://web.archive.org/web/20080404034202/http:/www.tek.com/site/ps/
yagohttp://dbpedia.org/class/yago/
dbthttp://dbpedia.org/resource/Template:
dbpedia-ruhttp://ru.dbpedia.org/resource/
dbpedia-ukhttp://uk.dbpedia.org/resource/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
freebasehttp://rdf.freebase.com/ns/
n14http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
wikipedia-enhttp://en.wikipedia.org/wiki/
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
dbphttp://dbpedia.org/property/
dbchttp://dbpedia.org/resource/Category:
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/
goldhttp://purl.org/linguistics/gold/
dbrhttp://dbpedia.org/resource/
dbpedia-jahttp://ja.dbpedia.org/resource/
n25http://www.chiark.greenend.org.uk/scopes/

Statements

Subject Item
dbr:Electronic_test_equipment
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Device_under_test
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Earl_McCune
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Tektronix
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Tracing
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Source_measure_unit
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Tube_tester
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Transistor_tester
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Characteristic_curve
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Photovoltaic_module_analysis_techniques
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Semiconductor_curve_tracer
rdf:type
yago:Object100002684 yago:Implement103563967 yago:WikicatElectronicsWorkTools yago:Artifact100021939 yago:Whole100003553 dbo:MusicalWork yago:Tool104451818 yago:PhysicalEntity100001930 yago:Instrumentality103575240
rdfs:label
Semiconductor curve tracer 半導体カーブトレーサー Характериограф Характеріограф
rdfs:comment
Характеріограф - прилад, призначений для дослідження характеристик радіоелементів (напр., амплітудно-частотних, фазо-частотних, вольт-амперних). Як і у старіших моделях осцилографів, у старіших моделях характеріографів функцію екрана виконує електронно-променева трубка. У характеріографів для дослідження АЧХ чотирьохполюсників генератор пилкоподібної напруги крім здійснення горизонтальної розгортки заодно й керує частотним модулятором, сигнал з якого і подають на досліджуваний чотирьохполюсник. A semiconductor curve tracer (also known as a semiconductor parameter analyzer) is a specialised piece of electronic test equipment used to analyze the characteristics of discrete semiconductor devices such as diodes, transistors, and thyristors. Based on an oscilloscope, the device also contains voltage and current sources that can be used to stimulate the device under test (DUT). 半導体カーブトレーサー(はんどうたいかーぶとれーさー)は、ダイオード、トランジスタ、サイリスタなどの半導体素子の特性を測定するための機器である。オシロスコープをベースに、電圧源、電流源を備えて被測定物(DUT)への印加をする。 Характерио́граф (гр. χαρακτηρ черта, особенность + γραφω пишу) — общее название приборов, предназначенных для наблюдения и исследования характеристик радиоэлектронных устройств и компонентов, измерительная информация в этих приборах отображается, как правило на экране (ЭЛТ, жидкокристаллическом, светодиодном или др.) в виде кривой или семейства кривых.
foaf:depiction
n14:Transistor_curve_tracer.jpg n14:Transistor_curve_tracer_detail1.jpg n14:Transistor_curve_tracer_detail2.jpg n14:Transistor_curve_tracer_parts.jpg
dcterms:subject
dbc:Laboratory_equipment dbc:Electronic_test_equipment dbc:Electronics_work_tools
dbo:wikiPageID
7313208
dbo:wikiPageRevisionID
1117716450
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Integrated_circuit dbr:Negative_resistance dbr:TRIAC dbr:Photovoltaic_system dbr:Solid_state_(electronics) dbr:Tunnel_diode dbr:Transistors dbr:Field_effect_transistors dbr:Differential_amplifier dbr:Device_under_test dbc:Laboratory_equipment dbr:Bridge_circuit dbr:Tektronix dbr:Oscilloscope dbr:Current_source dbr:Source_measure_unit dbr:Vacuum_tube dbr:Transistor dbc:Electronic_test_equipment dbr:DIAC dbc:Electronics_work_tools dbr:Electronic_test_equipment dbr:Four-terminal_sensing dbr:Thyristor dbr:Semiconductor_device dbr:Diode dbr:Electric_shock dbr:Interlock_(engineering) n27:Transistor_curve_tracer.jpg dbr:Reverse_leakage_current
dbo:wikiPageExternalLink
n18:0,,76-15104-INTRO_EN,00.html n19:Curve_Tracer_advanced.php n21:Curve_Tracers n25:tek.html
owl:sameAs
freebase:m.025yx4q dbpedia-ru:Характериограф n8:4ANp2 dbpedia-ja:半導体カーブトレーサー dbpedia-uk:Характеріограф yago-res:Semiconductor_curve_tracer wikidata:Q4495715
dbp:wikiPageUsesTemplate
dbt:Reflist dbt:More_citations_needed
dbo:thumbnail
n14:Transistor_curve_tracer.jpg?width=300
dbo:abstract
Характерио́граф (гр. χαρακτηρ черта, особенность + γραφω пишу) — общее название приборов, предназначенных для наблюдения и исследования характеристик радиоэлектронных устройств и компонентов, измерительная информация в этих приборах отображается, как правило на экране (ЭЛТ, жидкокристаллическом, светодиодном или др.) в виде кривой или семейства кривых. Характеріограф - прилад, призначений для дослідження характеристик радіоелементів (напр., амплітудно-частотних, фазо-частотних, вольт-амперних). Як і у старіших моделях осцилографів, у старіших моделях характеріографів функцію екрана виконує електронно-променева трубка. У характеріографів для дослідження АЧХ чотирьохполюсників генератор пилкоподібної напруги крім здійснення горизонтальної розгортки заодно й керує частотним модулятором, сигнал з якого і подають на досліджуваний чотирьохполюсник. A semiconductor curve tracer (also known as a semiconductor parameter analyzer) is a specialised piece of electronic test equipment used to analyze the characteristics of discrete semiconductor devices such as diodes, transistors, and thyristors. Based on an oscilloscope, the device also contains voltage and current sources that can be used to stimulate the device under test (DUT). 半導体カーブトレーサー(はんどうたいかーぶとれーさー)は、ダイオード、トランジスタ、サイリスタなどの半導体素子の特性を測定するための機器である。オシロスコープをベースに、電圧源、電流源を備えて被測定物(DUT)への印加をする。
gold:hypernym
dbr:Piece
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-en:Semiconductor_curve_tracer?oldid=1117716450&ns=0
dbo:wikiPageLength
9873
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-en:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Transistor_curve_tracer
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
dbo:wikiPageRedirects
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Curve_tracer
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
dbo:wikiPageRedirects
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
dbr:Curve_trasing
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Semiconductor_curve_tracer
dbo:wikiPageRedirects
dbr:Semiconductor_curve_tracer
Subject Item
wikipedia-en:Semiconductor_curve_tracer
foaf:primaryTopic
dbr:Semiconductor_curve_tracer