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Strain engineering refers to a general strategy employed in semiconductor manufacturing to enhance device performance. Performance benefits are achieved by modulating strain in the transistor channel, which enhances electron mobility (or hole mobility) and thereby conductivity through the channel.

AttributesValues
rdf:type
rdfs:label
  • Dual Stress Liner (de)
  • Strain engineering (en)
rdfs:comment
  • Strain engineering refers to a general strategy employed in semiconductor manufacturing to enhance device performance. Performance benefits are achieved by modulating strain in the transistor channel, which enhances electron mobility (or hole mobility) and thereby conductivity through the channel. (en)
  • Der englische Begriff dual stress liner (DSL) bezeichnet in der Halbleitertechnik ein Verfahren zur Herstellung von verspanntem Silizium (engl. strained silicon) für p- und n-Kanal-MOSFETs in Silicon-on-Insulator-Technologien (SOI). Das von IBM entwickelte Verfahren kommt durch die wird/wurde unter anderem bei AMD/Globalfoundries und Chartered Semiconductor Manufacturing angewandt. (de)
dcterms:subject
Wikipage page ID
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sameAs
dbp:wikiPageUsesTemplate
has abstract
  • Der englische Begriff dual stress liner (DSL) bezeichnet in der Halbleitertechnik ein Verfahren zur Herstellung von verspanntem Silizium (engl. strained silicon) für p- und n-Kanal-MOSFETs in Silicon-on-Insulator-Technologien (SOI). Das von IBM entwickelte Verfahren kommt durch die wird/wurde unter anderem bei AMD/Globalfoundries und Chartered Semiconductor Manufacturing angewandt. Dabei wird nach der Herstellung des MOSFETs Siliziumnitrid (Si3N4) über den Bauelementen abgeschieden. In Abhängigkeit von den Prozessbedingungen wirkt diese Siliziumnitridschicht kompressibel oder entspannend auf die darunter liegenden Source- und Draingebiete aus. Diese lokalen Verspannungen wirken sich komplementär auf das Kanalgebiet zwischen den Source- und Draingebieten aus, das heißt komprimierte Source- und Draingebiete führen zu gedehntem Silizium im Kanalgebiet und umgekehrt.Technologisch werden beide Arten von Verspannungen genutzt: Da die Elektronenbeweglichkeit in entspanntem (tensilem) Silizium steigt, eignen sich solche Kanalgebiete für n-MOSFETs; im Gegensatz dazu führt kompressibles Silizium zu erhöhter Löcherbeweglichkeit, was in p-MOSFETs ausgenutzt wird. Die Vorteile der DSL-Technologie liegen in ihrer Kompatibilität zur von IBM und AMD propagierten SOI-Technologie und in der Tatsache, dass im Gegensatz zu dem von Intel verwendeten die elektronischen Eigenschaften von p- und n-Kanal-MOSFETs gleichermaßen verbessert werden. (de)
  • Strain engineering refers to a general strategy employed in semiconductor manufacturing to enhance device performance. Performance benefits are achieved by modulating strain in the transistor channel, which enhances electron mobility (or hole mobility) and thereby conductivity through the channel. (en)
prov:wasDerivedFrom
page length (characters) of wiki page
foaf:isPrimaryTopicOf
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is Wikipage redirect of
is foaf:primaryTopic of
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