About: Joint Test Action Group     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : owl:Thing, within Data Space : dbpedia.org associated with source document(s)
QRcode icon
http://dbpedia.org/describe/?url=http%3A%2F%2Fdbpedia.org%2Fresource%2FJTAG

The Joint Test Action Group (JTAG) is an electronics industry association formed in 1985 for developing a method of verifying designs and testing printed circuit boards after manufacture. In 1990 the Institute of Electrical and Electronics Engineers codified the results of the effort in IEEE Standard 1149.1-1990, entitled Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. The JTAG standards have been extended by many semiconductor chip manufacturers with specialized variants to provide vendor-specific features.

AttributesValues
rdfs:label
  • JTAG
  • Joint Test Action Group
  • JTAG
  • Joint Test Action Group
  • JTAG
  • JTAG
  • JTAG
  • JTAG
  • JTAG
  • Joint Test Action Group
  • JTAG
rdfs:comment
  • Le JTAG pour Joint Test Action Group est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulée « Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture ». Le JTAG a été normalisé en 1990. Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la norme, est abusivement (mais très largement) utilisé au lieu du terme générique Boundary Scan, ou du sigle TAP (Test Access Port, port d'accès de test).
  • JTAG(ジェイタグ、Joint Test Action Group)は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体(Joint European Test Action Group)の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。
  • De Joint Test Action Group of JTAG is in de jaren 1980 opgestart om het probleem van het testen van de almaar dichter op elkaar gepakte elektronicaborden en -chips aan te pakken.
  • JTAG是联合测试工作组(Joint Test Action Group)的简称,是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。此标准用于测试访问端口,使用边界扫描的方法来测试印刷电路板。 1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化,在1994年,加入了补充文档对边界扫描描述语言(BSDL)进行了说明。从那时开始,这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。 在設計印刷電路版時,目前最主要用在測試積體電路的副區塊,而且也提供一個在嵌入式系統很有用的偵錯機制,提供一個在系統中方便的"後門"。當使用一些偵錯工具像電路內模擬器用JTAG當做訊號傳輸的機制,使得程式設計師可以經由JTAG去讀取整合在CPU上的偵錯模組。偵錯模組可以讓程式設計師偵錯嵌入式系統中的軟體。
  • Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados. Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes. JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração. A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização testes no console.
  • The Joint Test Action Group (JTAG) is an electronics industry association formed in 1985 for developing a method of verifying designs and testing printed circuit boards after manufacture. In 1990 the Institute of Electrical and Electronics Engineers codified the results of the effort in IEEE Standard 1149.1-1990, entitled Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. The JTAG standards have been extended by many semiconductor chip manufacturers with specialized variants to provide vendor-specific features.
  • Joint Test Action Group (kurz JTAG) ist ein häufig verwendetes Synonym für den IEEE-Standard 1149.1, der eine Methodik für das Testen und Debuggen integrierter Schaltungen Hardware auf Leiterplatten beschreibt. Die Abkürzung JTAG verweist heute aber auf die Firma JTAG Technologies, welche Hard- und Software für den Test nach dem IEEE-Standard anbietet. Das prominenteste und gleichzeitig zuerst in der JTAG-Arbeitsgruppe implementierte Verfahren ist der Boundary Scan Test nach IEEE 1149.1. Durch Hinzufügen weiterer Verfahren (1149.1-1149.8) sind die Begriffe nicht mehr synonym, während die Beschreibungssprache von der IEEE-Arbeitsgruppe mit Boundary Scan Description Language den ursprünglichen Namen beibehielt.
  • JTAG, es un acrónimo para Joint Test Action Group, es el nombre común utilizado para la norma IEEE 1149.1 titulada Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture para test access ports utilizada para testear PCBs utilizando escaneo de límites. JTAG se estandarizó en 1990 como la norma IEEE 1149.1-1990. En 1994 se agregó un suplemento que contiene una descripción del boundary scan description language (BSDL). Desde entonces, esta norma fue adoptada por las compañías electrónicas de todo el mundo. Actualmente, Boundary-scan y JTAG son sinónimos.
  • JTAG, acronimo di Joint Test Action Group, è un consorzio di 200 imprese produttrici di circuiti integrati e circuiti stampati allo scopo di definire un protocollo standard per il test funzionale di tali dispositivi, che tendono ad essere sempre più complessi e difficili da controllare, fino a rendere impraticabili i tradizionali metodi manuali o automatici (e ad aumentare in modo non competitivo il “Time to market”).Consapevoli di queste esigenze le grandi industrie hanno scelto una strada che, sacrificando in piccola parte le risorse disponibili nel circuito integrato, permetta un collaudo razionale della scheda su cui viene installato. Oltre a questo vi è la possibilità di avere delle funzionalità aggiuntive (rivolgendo il controllo dai piedini verso l'interno del componente) quali la f
  • JTAG (ang. Joint Test Action Group) to nazwa standardu IEEE 1149.1 definiującego protokół używany do testowania połączeń na płytkach drukowanych, stosowany także do uruchamiania i programowania układów programowalnych i systemów mikroprocesorowych. Żeby można było wykorzystywać JTAG do wymienionych celów, układy scalone umieszczone w testowanym systemie muszą posiadać wewnątrz odpowiednią warstwę sprzętową tego interfejsu. Jednym z najważniejszych założeń standardu JTAG jest możliwość programowania układu w gotowym urządzeniu, bez konieczności odłączania (ang. In-System Programming, w skrócie ISP).
  • JTAG (сокращение от англ. Joint Test Action Group; произносится «джей-тáг») — название рабочей группы по разработке стандарта IEEE 1149. Позднее это сокращение стало прочно ассоциироваться с разработанным этой группой специализированным аппаратным интерфейсом на базе стандарта IEEE 1149.1. Официальное название стандарта Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture. Интерфейс предназначен для подключения сложных цифровых микросхем или устройств уровня печатной платы к стандартной аппаратуре тестирования и отладки. Функциональное назначение этих линий:
sameAs
dct:subject
Wikipage page ID
Wikipage revision ID
Link from a Wikipage to another Wikipage
Faceted Search & Find service v1.17_git39 as of Aug 09 2019


Alternative Linked Data Documents: PivotViewer | iSPARQL | ODE     Content Formats:       RDF       ODATA       Microdata      About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3235 as of Jun 25 2020, on Linux (x86_64-generic-linux-glibc25), Single-Server Edition (61 GB total memory)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2020 OpenLink Software